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公开(公告)号:CN101477967A
公开(公告)日:2009-07-08
申请号:CN200910029174.X
申请日:2009-01-13
Applicant: 南京大学
IPC: H01L21/822 , B82B3/00 , H01L45/00 , G11C11/56
Abstract: 本发明涉及一种制备垂直结构相变存储器的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件技术领域。该方法包括准备衬底、镀隔热层、镀薄膜层、铺设模板、离子刻蚀、去除模板、镀绝热层、抛光磨平、光刻腐蚀、复镀绝热层、复抛磨平、制作电极各步骤。本发明采用纳米阵列的相变材料作为存储信息的载体,通过在电极与相变材料之间导入合适的介质层,提高了相变有源区的热效率,使得存储器件的操作电流与功耗得到有效降低,并且工艺简单、成本低廉,从而为制造出适合PCRAM的商用化存储器奠定了基础。
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公开(公告)号:CN101477967B
公开(公告)日:2010-06-09
申请号:CN200910029174.X
申请日:2009-01-13
Applicant: 南京大学
IPC: H01L21/822 , B82B3/00 , H01L45/00 , G11C11/56
Abstract: 本发明涉及一种制备垂直结构相变存储器的方法,属于纳米电子和纳米光电子器件技术领域。该方法包括准备衬底、镀隔热层、镀薄膜层、铺设模板、离子刻蚀、去除模板、镀绝热层、抛光磨平、光刻腐蚀、复镀绝热层、复抛磨平、制作电极各步骤。本发明采用纳米阵列的相变材料作为存储信息的载体,通过在电极与相变材料之间导入合适的介质层,提高了相变有源区的热效率,使得存储器件的操作电流与功耗得到有效降低,并且工艺简单、成本低廉,从而为制造出适合PCRAM的商用化存储器奠定了基础。
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公开(公告)号:CN101281884A
公开(公告)日:2008-10-08
申请号:CN200810024961.0
申请日:2008-05-20
Applicant: 南京大学
IPC: H01L21/822 , H01L21/316 , H01L21/283 , H01L33/00 , C23C14/30 , C23C14/08
Abstract: 本发明涉及一种可用于硅基光电集成器件的SiOx薄膜制备方法,属于光电子材料技术领域。该方法包括清洗硅片衬底并去除其表面自然氧化层后干燥、在电子束蒸发沉积装置中通入O2蒸发薄膜、制备器件电极各步骤。本发明的方法仅用氧气作为气源,成本低、对环境无污染,且在低温下进行,操作安全。
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