大面积MoSi超导微米线单光子探测器的激光直写制备方法

    公开(公告)号:CN113555467B

    公开(公告)日:2023-04-18

    申请号:CN202110675450.0

    申请日:2021-06-17

    申请人: 南京大学

    摘要: 本发明公开了一种大面积MoSi超导微米线单光子探测器的激光直写制备方法,将Si基片分别用丙酮、酒精和去离子水超声清洗;将清洗后的基片送入磁控溅射系统副室进行氩离子清洗;将离子铣后的基片送入主室,通过直流磁控溅射生长MoSi薄膜;在真空室中原位射频磁控溅射生长Nb5N6薄膜;绘制掩模版图形,并采用图形补偿的方法增加微米线拐角处的曝光面积;在样品表面旋涂S1805光刻胶,用激光直写光刻机进行光刻,然后放入正胶显影液显影30s,放入去离子水中定影1min,在光刻胶上形成微米线图案;用反应离子刻蚀的方式对做完激光直写的样品进行刻蚀,刻蚀后用丙酮超声1min除去残胶,从而形成微米线。本发明提高了大面积超导微米线单光子探测器的制备效率。

    大面积MoSi超导微米线单光子探测器的激光直写制备方法

    公开(公告)号:CN113555467A

    公开(公告)日:2021-10-26

    申请号:CN202110675450.0

    申请日:2021-06-17

    申请人: 南京大学

    摘要: 本发明公开了一种大面积MoSi超导微米线单光子探测器的激光直写制备方法,将Si基片分别用丙酮、酒精和去离子水超声清洗;将清洗后的基片送入磁控溅射系统副室进行氩离子清洗;将离子铣后的基片送入主室,通过直流磁控溅射生长MoSi薄膜;在真空室中原位射频磁控溅射生长Nb5N6薄膜;绘制掩模版图形,并采用图形补偿的方法增加微米线拐角处的曝光面积;在样品表面旋涂S1805光刻胶,用激光直写光刻机进行光刻,然后放入正胶显影液显影30s,放入去离子水中定影1min,在光刻胶上形成微米线图案;用反应离子刻蚀的方式对做完激光直写的样品进行刻蚀,刻蚀后用丙酮超声1min除去残胶,从而形成微米线。本发明提高了大面积超导微米线单光子探测器的制备效率。