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公开(公告)号:CN109920876A
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:CN201910066111.5
申请日:2019-01-24
Applicant: 南京大学扬州光电研究院
IPC: H01L31/108 , H01L31/0304 , H01L31/18
Abstract: 一种高响应紫外探测器的制作方法,属于半导体器件制备技术领域,本发明通过在GaN籽晶层上形成具有条形或十字形沟槽窗口的掩膜层,并控制生长掩膜沿指定晶向排列,然后利用MOCVD选择性横向外延工艺获得低缺陷密度的半极性晶面AlxGa1-xN材料,最后在AlxGa1-xN材料表面制备金属叉指结构电极形成肖特基接触,从而实现高响应紫外探测器。
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公开(公告)号:CN107482092B
公开(公告)日:2019-05-10
申请号:CN201710615088.1
申请日:2017-07-26
Applicant: 南京大学扬州光电研究院
Abstract: 一种395nm短波长紫外LED结构的外延加工方法,属于半导体技术领域,在衬底上以依次外延生长缓冲层、GaN层、InGaN插入层、AlInGaN超晶格模板层和InGaN/AlInGaN多量子阱结构层。其中AlInGaN超晶格模板层由生长20层的短周期InGaN/AlGaN超晶格结构层形成;在生长所述InGaN/AlxInyGa1‑x‑yN多量子阱结构层时,先在AlInGaN超晶格模板层上生长一层AlxInyGa1‑x‑yN超晶格势垒层,然后再在AlxInyGa1‑x‑yN超晶格势垒层上生长一层InGaN势阱层,如此交替地生长AlxInyGa1‑x‑yN超晶格势垒层和InGaN势阱层,直至最后生长AlxInyGa1‑x‑yN超晶格势垒层。本发明提升LED量子阱结构内量子效率达到3倍以上。
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公开(公告)号:CN107482092A
公开(公告)日:2017-12-15
申请号:CN201710615088.1
申请日:2017-07-26
Applicant: 南京大学扬州光电研究院
CPC classification number: H01L33/06 , H01L33/0075 , H01L33/04
Abstract: 一种395nm短波长紫外LED结构的外延加工方法,属于半导体技术领域,在衬底上以依次外延生长缓冲层、GaN层、InGaN插入层、AlInGaN超晶格模板层和InGaN/AlInGaN多量子阱结构层。其中AlInGaN超晶格模板层由生长20层的短周期InGaN/AlGaN超晶格结构层形成;在生长所述InGaN/AlxInyGa1-x-yN多量子阱结构层时,先在AlInGaN超晶格模板层上生长一层AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层,然后再在AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层上生长一层InGaN势阱层,如此交替地生长AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层和InGaN势阱层,直至最后生长AlxInyGa1-x-yN超晶格势垒层。本发明提升LED量子阱结构内量子效率达到3倍以上。
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