-
公开(公告)号：CN114217098B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202111528433.0
申请日：2021-12-14
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01Q60/38
摘要： 本发明属于三维原子探针设备领域，具体的说是一种用于安装时转移硅片的推拉式转移台，包括固定器；所述固定器顶端固定连接有圆盘，所述圆盘的顶端固定安装有铜夹子，所述固定器的顶端放置有转移台本体，所述转移台本体的一侧呈弧形，所述转移台本体的顶端开设有凹槽，所述转移台本体的一侧螺纹连接有丝杆；通过使用镊子将硅片安放到凹槽内，然后将转移台本体安放到固定器上，并且让转移台本体的弧形面与圆盘贴合，此时凹槽会与铜夹子处于同一水平面，然后转动丝杆，使得丝杆带动推板进行滑动，从而使推板推动凹槽内的硅片，此时硅片会借助推板的推力被放置到铜夹子上，起到了对硅片进行放置的作用，提高了对硅片安放的安全效率。
-
公开(公告)号：CN115932327A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211561670.1
申请日：2022-12-07
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01Q30/20
摘要： 本发明涉及电解抛光技术领域，具体为一种针对三维原子探针样品的闪抛装置，所述针对三维原子探针样品的闪抛装置包括：电源一，所述电源一的阳极连接浸泡在电解液中的三维原子探针样品，阴极连接环形电极；电源二，所述电源二用于向计时器供电，所述计时器用于控制所述电源一的闪抛时长。针对三维原子探针样品的闪抛装置可以去除电解抛光样品表面污染层或者氧化层，去除由于FIB环切带来的Ga离子影响层，通过计时器设定极短的抛光时间，每次抛光对样品的损耗很小，所以结合透射电子显微镜观察，可以轻松定位并抛光到自己感兴趣和想分析的区域。
-
公开(公告)号：CN110850116B
公开(公告)日：2022-05-13
申请号：CN201911087956.9
申请日：2019-11-08
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明属于材料制备领域，特别是一种翻转式制备三维原子探针样品的方法。包括具体如下步骤：标记平面块状样品的感兴趣区域；在平面块状材料上表面，垂直于感兴趣区域方向沉积一层长方形Pt层；提取类四棱柱长条样品：采用原位纳米操纵杆进行提取；翻转类四棱柱长条样品：将步骤3提取的类四棱柱长条样品转移至转动针尖上，采用外置的转动装置将针尖翻转，然后再将翻转后的类四棱柱长条样品转移至原位操作纳米操纵杆上；成形针尖样品。本申请通过将类四棱柱长条样品翻转180°后成尖，实现对多层结构材料和感兴趣区域距离表面较深的材料的针尖制备，所制备的针尖样品利于在三维原子探针设备中正常收集。
-
公开(公告)号：CN109261646B
公开(公告)日：2022-04-01
申请号：CN201810917874.1
申请日：2018-08-13
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： B08B7/00
摘要： 本发明公开了一种利用聚焦离子束清理三维原子探针近局域电极的方法，方法包括：将三维原子探针近局域电极装于聚焦离子束样品台上，将带三维原子探针近局域电极的样品台放置在聚焦离子束中；在聚焦离子束中，倾转样品台，调整成像补偿角度，调整工作距离；将要切的三维原子探针近局域电极在FIB图像模式下对齐到最中心；将FIB的环切环的外环与三维原子探针近局域电极中心环上的突起缺陷的根部对齐，内环与中心环上突起缺陷的顶端边缘对齐，环切到三维原子探针近局域电极环表面无杂质。本发明提供的清理方法，通过聚焦离子束清理局域电极，实现了三维原子探针近局域电极的彻底清理，尤其是内部的彻底清理，节约了成本。
-
公开(公告)号：CN114295865A
公开(公告)日：2022-04-08
申请号：CN202111557558.6
申请日：2021-12-19
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明为一种原子探针设备和透射电子显微镜联用的多样品台。样品台包括螺丝锁紧机构和自锁机构两种。其中，螺丝锁紧机构包括圆柱形尾柱，鳄式开口夹和紧固螺丝；自锁机构包括圆柱形尾柱、反向镊子和平头夹板。本发明的样品台优化了纳米针尖试样的装载方式，可以同时装载多根纳米针尖试样，极大提高了利用透射电子显微镜检查纳米针尖试样的工作效率，并保证了纳米针尖在透射电子显微镜和原子探针设备之间转移的安全性。
-
公开(公告)号：CN112858150A
公开(公告)日：2021-05-28
申请号：CN202110028436.1
申请日：2021-01-11
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01N17/00 , G01N3/40 , G01N3/42 , G01N23/2251 , G01N23/04 , G01N23/20 , G01Q60/38 , G01N1/44
摘要： 本发明属于材料抗辐照损伤领域，具体涉及一种筛选核电反应堆压力容器合金耐辐照材料的方法。包括如下步骤：步骤(1)：激光重熔制备具有晶粒尺寸梯度的核电反应堆压力容器合金材料；步骤(2)：对步骤(1)制备的材料侧面抛光进行辐照实验；步骤(3)：对辐照后的材料，选择不同晶粒尺寸的区域，利用显微硬度仪、纳米压痕仪、进行力学性能测试，同时利用聚焦离子束对对辐照前与后材料进行微观结构的表征；进行扫描电镜、透射电镜和三维原子探针分析。本发明可以实现一块样品具有大尺度晶粒尺寸(2‑100um)梯度变化范围同时具有非常大的梯度层(500um)，进而探究不同晶粒尺寸对辐照的影响，提高筛选抗辐照的材料效率。
-
公开(公告)号：CN110208299A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910456982.8
申请日：2019-05-29
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01N23/20025
摘要： 本发明属于电子背散射衍射技术领域，特别是一种聚焦离子束双束系统样品台。包括：样品台主体：样品台主体上表面设置有凹形样品槽，凹形样品槽底部表面设置有弧形螺纹槽，凹形样品槽一侧的侧壁上设有螺纹通孔，螺纹通孔和弧形螺纹槽的轴线重合；紧固螺钉：穿过样品台主体一侧的螺纹通孔，将样品在紧固螺钉和凹形样品槽的另一侧之间固定，伸出螺纹通孔部分的紧固螺钉通过弧形螺纹槽固定在凹形样品槽的底部；固定杆：设置在样品台主体中部的下端，用于连接双束系统的旋转底座。本申请聚焦离子束/扫描电镜双束系统样品台，通过采用机械固定的方式对样品进行固定，有效的防止薄片样品的移动。
-
公开(公告)号：CN109346391A
公开(公告)日：2019-02-15
申请号：CN201810977038.2
申请日：2018-08-26
申请人： 南京理工大学
摘要： 本发明涉及一种用于装载近局域电极的聚焦离子束/扫描电镜双束系统样品台。该样品台包括：样品台主体，燕尾形样品槽，方形卡槽，内六角紧定螺钉以及固定杆，固定杆与样品台主体底部垂直。样品台主体内设置有燕尾形样品槽；燕尾形样品槽用于装载近局域电极；燕尾槽底部设置有方形卡槽，方形卡槽用于卡紧近局域电极底部的销钉；内六角紧定螺钉通过方形卡槽顶住近局域电极底部的销钉以进一步固定近局域电极；固定杆用于连接聚焦离子束/扫描电镜双束系统旋转底座。在该发明的使用过程中，样品台与近局域电极依靠机械固定，能有效防止近局域电极的移动，使其工作稳定可靠，有效提高设备效率。
-
公开(公告)号：CN109813586B
公开(公告)日：2024-08-30
申请号：CN201910145691.7
申请日：2019-02-27
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： G01N1/28
摘要： 本发明涉及聚焦离子束双束仪器样品制备领域，具体涉及一种轴向旋转装置。装置包括：转移针尖：用于转移样品；转移针尖夹持台：用于夹持转移针尖，转移针尖在转移针尖夹持台中可轴向旋转设置；旋转主轴：前端设置呈倒“T”型槽，转移针尖固定在所述槽中；旋转手柄：与旋转主轴连接，带动旋转主轴转动，从而带动转移针尖转动。本发明装置通过将针尖固定于旋转主轴上并旋转旋转手柄来旋转针尖，由角度控制台精确控制旋转角度，且角度控制台与旋转主轴通过螺纹连接，保证了转转的稳定，整个装置满足了在聚焦离子束双束仪器制备样品过程中任意方向制样的现实需求，增大聚焦离子束双束仪器制样技术的灵活度，突破了现阶段的标准取样方法。
-
公开(公告)号：CN114392985B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN202210060261.7
申请日：2022-01-19
申请人： 南京理工大学
IPC分类号： B08B7/00 , B08B13/00 , G01N23/2251
摘要： 本发明属于材料领域，具体的说是一种利用特斯拉线圈清理三维原子探针近局域电极的方法，该方法包括如下步骤：S1：首先将三维原子探针近局域电极从三维原子探针设备上取下，然后使用夹持器械将三维原子探针近局域电极固定在清理工作台上；S2：其次将特斯拉线圈尖端对准近局域电极微孔，留有1‑3mm的距离；S3：检查特斯拉线圈、三维原子探针近局域电极正常后，给特斯拉线圈接通电源；通过方法步骤的设计,实现了利用特斯拉线圈尖端产生高压电火花对三维原子探针近局域电极表面脏污进行熔融处理，实现表面高效率清洁的功能，解决了聚焦离子束清洁成本高降低使用寿命的问题，提高了三维原子探针近局域电极清洁的效率。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
34 条记录 (耗时 0.043 秒)
