一种智能电表
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN108872664A

    公开(公告)日:2018-11-23

    申请号:CN201810865280.0

    申请日:2018-08-01

    IPC分类号: G01R11/24

    摘要: 本申请公开了一种智能电表,包括用于计量电量的计量器;用于传输数据的通信模块;与通信模块连接的主控器,用于通过通信模块接收主站发送的数据,并判断数据是否为计量类敏感数据,若是,则转发至安全模块,否则根据数据执行相应的操作;分别与主控器和计量器连接、用于根据计量类敏感数据对计量器的计量值执行相应的安全操作的安全模块。本申请将计量类敏感数据直接由安全模块来处理,安全模块与计量器直接连接,可以直接对计量器的计量值进行安全操作,也就是说,对计量值的处理不是由主控器做,而是由非常安全的安全模块去做,避免了在主控器处理时受到恶意篡改的风险,提高了电表的安全性,更好地保护了用户的利益。

    一种智能电表
    2.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208588767U

    公开(公告)日:2019-03-08

    申请号:CN201821236233.1

    申请日:2018-08-01

    IPC分类号: G01R11/24

    摘要: 本申请公开了一种智能电表,包括用于计量电量的计量器;用于传输数据的通信模块;与通信模块连接的主控器,用于通过通信模块接收主站发送的数据,并判断数据是否为计量类敏感数据,若是,则转发至安全模块,否则根据数据执行相应的操作;分别与主控器和计量器连接、用于根据计量类敏感数据对计量器的计量值执行相应的安全操作的安全模块。本申请将计量类敏感数据直接由安全模块来处理,安全模块与计量器直接连接,可以直接对计量器的计量值进行安全操作,也就是说,对计量值的处理不是由主控器做,而是由非常安全的安全模块去做,避免了在主控器处理时受到恶意篡改的风险,提高了电表的安全性,更好地保护了用户的利益。(ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利

    用于芯片生产的动态记忆矩阵构建方法、系统及相关装置

    公开(公告)号:CN109726502B

    公开(公告)日:2022-12-06

    申请号:CN201910027189.6

    申请日:2019-01-11

    IPC分类号: G06F30/20 G06F30/27 G06K9/62

    摘要: 本申请公开了一种用于芯片生产的动态记忆矩阵构建方法、系统及相关装置,包括获取空气压缩机的历史观测向量,其中,历史观测向量中包括多个变量的监测数据;计算各个变量之间的相关性系数,根据相关性系数将各个变量分为多个小组,在每个小组里确定任意一个变量作为待选变量,通过待选变量构成待选历史观测向量;获取新观测向量,计算待选历史观测向量对新观测向量的影响值,将影响值满足剔除条件的待选历史观测向量剔除;通过剔除操作后剩余的待选历史观测向量构建动态记忆矩阵。本申请优化了构建动态记忆矩阵的行和列,降低了动态记忆矩阵的构建复杂度,从而降低了构建MSET模型的复杂度,提高了模型的预测精度与泛化能力。

    一种用于料带的芯片查补设备

    公开(公告)号:CN109775331B

    公开(公告)日:2021-02-12

    申请号:CN201910168054.1

    申请日:2019-03-06

    摘要: 本发明公开了用于料带的芯片查补设备,包括:底座、控制装置以及依次设于底座上的输送装置、检测装置、剥离装置、补料装置以及封合装置,输送装置用于驱动料盘旋转以将料盘中的料带从第一料盘输送至第二料盘;检测装置位于料带输送路径上并用于检测料带中是否缺失芯片;剥离装置用于剥离料带中芯片缺失处的载带与盖带;补料装置用于补充芯片至与盖带分离的载带上;封合装置用于封合已补充芯片的载带与盖带;输送装置、检测装置、剥离装置、补料装置和封合装置信号连接于控制装置。能实现芯片缺失的自动检测与自动补充,有效避免了手工操作时效率低、材料浪费等问题,极大提高了芯片出厂效率与质量。

    基于密码芯片的电能计量装置的查找路径规划方法及装置

    公开(公告)号:CN109918768A

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201910160423.2

    申请日:2019-03-04

    摘要: 本申请公开了一种基于密码芯片的电能计量装置的查找路径规划方法,通过接收目标电能计量装置的经过密码芯片加密的目标标识信息;然后将加密的目标标识信息解密,并通过调用预先存储的标识信息与位置信息的对应关系确定出与目标标识信息对应的目标位置信息;根据维护人员的当前位置信息和目标位置信息规划出导航路径,路径规划方式更加高效便捷;并且,通过密码芯片加密目标标识信息,使得目标标识信息在传输过程中的安全性更高,从而进一步保障规划出的电能计量装置的查找路径的信息的安全性。本申请还公开了一种基于密码芯片的电能计量装置的查找路径规划装置、设备及计算机可读存储介质,均具有上述有益效果。

    一种集成电路光刻蚀结构,制备方法及集成电路

    公开(公告)号:CN110277372B

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN201910667327.7

    申请日:2019-07-23

    摘要: 本发明公开了一种集成电路光刻蚀结构,包括第一导体和第二导体,第一导体与第二导体均通过预设版图光刻蚀而成;预设版图包括对应第一导体的第一遮蔽图形,以及对应第二导体的第二遮蔽图形;第一遮蔽图形包括至少一个沿预设方向延伸的遮蔽指。在光刻蚀工艺中由于光学邻近效应会使得版图中的拐角处发生畸变,由于受制备工艺中随机扰动的影响,该畸变具有较强的随机性,使得集成电路光刻蚀结构的寄生电容值也不相同。该集成电路光刻蚀结构可以较好的捕获集成电路生产过程中的工艺随机扰动,可用于生成集成电路的标识信息;使用该集成电路光刻蚀结构的制作成本很低。本发明还提供了一种制备方法及一种集成电路,同样具有上述有益效果。

    多物联网射频识别设备数据获取方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109299765A

    公开(公告)日:2019-02-01

    申请号:CN201811289185.7

    申请日:2018-10-31

    IPC分类号: G06K17/00 G06K7/00

    摘要: 本发明公开了一种多物联网射频识别设备数据获取方法,在依据当前业务场景中的物联网射频识别设备数量确定出原始随机数范围之后,就将原始随机数范围发送至各物联网射频识别设备以生成自身随机数;然后读写器将在原始随机数范围内选择目标随机数发送至各物联网射频识别设备;最后接收自身随机数与目标随机数一致的目标物联网射频识别设备的序列号。由此可见,该方法,通过使各物联网射频识别设备产生的自身随机数和读写器选择的目标随机数的方式获取各物联网射频识别设备的序列号,可减少数据发生碰撞的概率,进而可以缩短耗时时间以及提高数据获取效率。另外,本发明还公开了一种多物联网射频识别设备数据获取装置及存储介质,效果如上。

    一种智能电表
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN108872664B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN201810865280.0

    申请日:2018-08-01

    IPC分类号: G01R11/24

    摘要: 本申请公开了一种智能电表,包括用于计量电量的计量器;用于传输数据的通信模块;与通信模块连接的主控器,用于通过通信模块接收主站发送的数据,并判断数据是否为计量类敏感数据,若是,则转发至安全模块,否则根据数据执行相应的操作;分别与主控器和计量器连接、用于根据计量类敏感数据对计量器的计量值执行相应的安全操作的安全模块。本申请将计量类敏感数据直接由安全模块来处理,安全模块与计量器直接连接,可以直接对计量器的计量值进行安全操作,也就是说,对计量值的处理不是由主控器做,而是由非常安全的安全模块去做,避免了在主控器处理时受到恶意篡改的风险,提高了电表的安全性,更好地保护了用户的利益。

    一种芯片出厂检验装置
    9.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109003924B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN201810891363.7

    申请日:2018-08-07

    IPC分类号: H01L21/67

    摘要: 本发明公开一种芯片出厂检验装置,包括机体底座、设置于所述机体底座的两端并驱动料盘同步旋转以水平送出芯片料带的支撑驱动机构、设置于所述机体底座上并用于在所述芯片料带的运输过程中检测芯片的出厂质量参数的检测机构,以及与所述检测机构信号连接、用于根据内置程序控制其检测流程的控制主机。本发明所提供的芯片出厂检验装置,通过支撑驱动机构驱动两端料盘旋转,对芯片料带进行卷绕,从而实现对芯片的运输效果,并通过检测机构在芯片料带的卷绕过程中实现对各个芯片的出厂质量参数的检测,同时在检测过程全程中辅以控制主机进行自动控制,快速、高效完成对芯片的批量出厂质量检验,提高质量检测精度,降低人工劳动量和人力成本。

    一种物理不可克隆函数电路,集成电路及制备方法

    公开(公告)号:CN110263588B

    公开(公告)日:2023-05-16

    申请号:CN201910667328.1

    申请日:2019-07-23

    IPC分类号: G06F21/73 G06F21/76

    摘要: 本发明公开了一种物理不可克隆函数电路,包括至少两个串联光刻蚀结构和运算放大器,串联光刻蚀结构包括相互串联的第一光刻蚀结构和第二光刻蚀结构,第一光刻蚀结构与第二光刻蚀结构之间形成有连接点,运算放大器的两个输入端分别与两个串联光刻蚀结构的连接点连接。第一光刻蚀结构具体通过第一预设版图光刻蚀而成,第一预设版图的第一遮蔽图形包括第一遮蔽指,第二光刻蚀结构具体通过第二预设版图光刻蚀而成,第二预设版图的第三遮蔽图形包括第二遮蔽指。上述物理不可克隆函数电路仅由串联光刻蚀结构和运算放大器构成,其结构非常简单。本发明还提供了一种物理不可克隆函数电路的制备方法及一种集成电路,同样具有上述有益效果。