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公开(公告)号：CN109813723B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN201910234757.X
申请日：2019-03-26
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种外观检测设备及待检测产品的外观检测方法，属于外观检测技术领域。外观检测设备包括输送系统和检测工位，其中输送系统包括输送轨道，以及位于输送轨道上的上下料夹具和传送装置；沿输送系统设置有主表面检测系统、中框检测系统、凹面检测系统、凸面检测系统，凹面检测系统用于检测设置于第一主表面的凹槽；凸面检测系统用于检测凸设于第二主表面的平面。外观检测方法包括：在第一检测工位待检测产品的第一主表面及在第二检测工位所述第一主表面的凹槽和/或凸设的平面进行检测；然后翻转，在第一检测工位对第二主表面进行检测。本发明实现产品外观检测的统一化、标准化，以及高效率检测。
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公开(公告)号：CN113433135B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110706393.8
申请日：2021-06-24
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明涉及硅片检测设备技术领域，公开了一种硅片检测装置。其包括：图像采集件、挡板组件和光源组件。图像采集件用于采集待检测硅片上采集区域的图像；挡板组件置于图像采集件与待检测硅片之间，挡板组件包括第一挡板；光源组件包括两个光源，其中一个光源位于第一挡板的第一侧，另一个光源以及图像采集件位于第一挡板的第二侧，第一侧与第二侧相背设置，位于第一侧的光源发出的光线照射至第一挡板上并能够通过第一挡板散射至采集区域内，位于第二侧的光源出的光线能够由第二侧达到采集区域内。本发明实现了采集到的图像灰度分布均匀，提升了图像的对比度，更易于分析出硅片的缺陷，提高了硅片的检测精度。
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公开(公告)号：CN113376170B
公开(公告)日：2023-01-10
申请号：CN202110667773.5
申请日：2021-06-16
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种产品外观检测设备的校准方法及标定块，涉及产品外观缺陷检测技术领域。该校准方法包括：将多个第一标定板设置于特征标定块的各面上；通过图像处理算法计算得出特征标定块各面的第一标定板的平均灰度方差G，调整设备的方位使平均灰度方差G小于预设灰度方差；通过图像处理算法提取特征标定块上设置有刻度标尺的刻度区域并测量刻度间像素间隔，调整设备与特征标定块间的间距，使像素间隔处于预设像素间隔范围内，以使对应特征标定块的实际长度处于预设长度范围内；获取设置在特征标定块上箭头定点所在的图像像素坐标，调整设备位置使图像像素坐标与预设坐标的误差在预设误差值内。本发明能提高检测准确度，可靠性高。
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公开(公告)号：CN113252691A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110571915.8
申请日：2021-05-25
申请人： 博众精工科技股份有限公司
发明人： 卢亚宾
摘要： 本发明公开了一种产品缺陷检测仪及检测方法，涉及产品外观缺陷检测技术领域。该产品缺陷检测仪包括：固定座；拍摄组件，包括设于固定座上的第一相机、第二相机和第三相机，第一相机倾斜设于产品的上方，以拍摄产品的俯视图像，第二相机与产品平行设置，以拍摄产品的平视图像，第三相机倾斜设于产品的下方，以拍摄产品的仰视图像；光源，设于固定座上，用于对产品打光。本发明能够对产品仰视、侧视及仰视进行图像拍摄，确保拍摄视野，减少视野盲区，提高成像清晰度，同时提高整体结构紧凑度、简化结构、缩小体积。
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公开(公告)号：CN110083357A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910350522.7
申请日：2019-04-28
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G06F8/38
摘要： 本发明实施例公开了一种界面构建方法、装置、服务器及存储介质。该方法包括：根据动态数据库的接口调用方法构建基类，所述基类用于通过与动态数据库之间的接口调用数据；基于基类构建至少一个子类，根据至少一个子类构建界面。通过上述方案从而实现了界面构建和数据调度的分离，通过基类进行数据调用，再基于基类构建子类，进一步构建界面，能够实现快速构建界面，并且可以重复利用数据单元，提高了界面构建的效率，尤其适用于视觉检测软件系统开发过程中进行界面构建的场景，减少了界面构建以及软件系统开发的时间。
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公开(公告)号：CN110083357B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201910350522.7
申请日：2019-04-28
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G06F8/38
摘要： 本发明实施例公开了一种界面构建方法、装置、服务器及存储介质。该方法包括：根据动态数据库的接口调用方法构建基类，所述基类用于通过与动态数据库之间的接口调用数据；基于基类构建至少一个子类，根据至少一个子类构建界面。通过上述方案从而实现了界面构建和数据调度的分离，通过基类进行数据调用，再基于基类构建子类，进一步构建界面，能够实现快速构建界面，并且可以重复利用数据单元，提高了界面构建的效率，尤其适用于视觉检测软件系统开发过程中进行界面构建的场景，减少了界面构建以及软件系统开发的时间。
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公开(公告)号：CN113624777A
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN202110997707.4
申请日：2021-08-27
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明涉及硅片检测设备领域，公开了一种硅片检测装置。其包括传送单元、发光单元、反射单元、第一采集单元和第二采集单元。传送单元能够将硅片由第一检测位置沿传送方向传送至第二检测位置；发光单元包括第一光源和第二光源，分别置于传送单元垂直于传送方向的两侧；反射单元置于传送单元远离第一光源的一侧，反射单元包括两个反射镜，沿传送方向间隔设置并形成采集间隙；第一采集单元置于传送单元远离第二光源的一侧；第二采集单元设置在反射单元远离传送单元的一侧，第二采集单元能够通过采集间隙采集处于第一检测位置与第二检测位置之间的硅片的图像。本发明在同一工序内完成硅片的崩边及脏污的检测，提高了结构紧凑性。
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公开(公告)号：CN113433135A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110706393.8
申请日：2021-06-24
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明涉及硅片检测设备技术领域，公开了一种硅片检测装置。其包括：图像采集件、挡板组件和光源组件。图像采集件用于采集待检测硅片上采集区域的图像；挡板组件置于图像采集件与待检测硅片之间，挡板组件包括第一挡板；光源组件包括两个光源，其中一个光源位于第一挡板的第一侧，另一个光源以及图像采集件位于第一挡板的第二侧，第一侧与第二侧相背设置，位于第一侧的光源发出的光线照射至第一挡板上并能够通过第一挡板散射至采集区域内，位于第二侧的光源出的光线能够由第二侧达到采集区域内。本发明实现了采集到的图像灰度分布均匀，提升了图像的对比度，更易于分析出硅片的缺陷，提高了硅片的检测精度。
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公开(公告)号：CN113376170A
公开(公告)日：2021-09-10
申请号：CN202110667773.5
申请日：2021-06-16
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种产品外观检测设备的校准方法及标定块，涉及产品外观缺陷检测技术领域。该校准方法包括：将多个第一标定板设置于特征标定块的各面上；通过图像处理算法计算得出特征标定块各面的第一标定板的平均灰度方差G，调整设备的方位使平均灰度方差G小于预设灰度方差；通过图像处理算法提取特征标定块上设置有刻度标尺的刻度区域并测量刻度间像素间隔，调整设备与特征标定块间的间距，使像素间隔处于预设像素间隔范围内，以使对应特征标定块的实际长度处于预设长度范围内；获取设置在特征标定块上箭头定点所在的图像像素坐标，调整设备位置使图像像素坐标与预设坐标的误差在预设误差值内。本发明能提高检测准确度，可靠性高。
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公开(公告)号：CN110049243A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910319681.0
申请日：2019-04-19
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例公开了一种图像采集方法、装置、设备和介质。其中，所述方法应用于图像采集设备，所述图像采集设备上配置有拍摄装置、光源和旋转轴，该旋转轴上设置有位移传感器，采集对象放置在旋转轴上，该采集对象具有至少一个不规则表面；该方法包括：控制所述旋转轴按照预设轨迹移动；通过所述位移传感器获取所述旋转轴的实时位置，并根据所述旋转轴的实时位置和采集对象的形状，计算所述采集对象的实时位置信息；若所述采集对象的实时位置信息与预设的目标位置信息相匹配，则触发所述光源和拍摄装置采集图像。本发明实施例简化了图像采集的运动过程，而且整个图像采集过程连续进行，提高了图像采集的效率。
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