-
公开(公告)号：CN113252685A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110485846.9
申请日：2021-04-30
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明属于芯片检测技术领域，公开了一种芯片检测机，该芯片检测机用于检测芯片待检测面的缺陷，芯片检测机包括相机、第一光源组件及光学投影组件，相机与检测装置的检测区域正对设置，以采集芯片的待检测面的图像，第一光源组件包括四个第一条形光源，四个第一条形光源于相机的光轴的四周两两相对设置，并均能够朝向芯片的待检测面发射光束，相机获取芯片待检测面的二维图像，光学投影组件包括两个以上的投影件，两个以上的投影件绕相机的光轴均匀排列，并能够朝向芯片的待检测面投射结构光，进而获取芯片待检测面的三维数据，本发明通过分析得到半导体芯片的锡球高度，既能够检测芯片的待检测面缺陷，同时还能量测半导体芯片的锡球高度。
-
公开(公告)号：CN113210275A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202110482231.0
申请日：2021-04-30
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明属于分拣技术领域，公开了一种芯片分拣方法及芯片分拣机，该芯片分拣机包括至少两条第一输送轨道、第二输送轨道及分拣装置，其中一条第一输送轨道输送第一料盘，其余第一输送轨道均输送第二料盘，第二输送轨道输送第三料盘，分拣装置能够分拣芯片，选定第二料盘中的至少一行/列存放位作为间隔区，分拣装置将第二料盘中的良品芯片分拣至第一料盘中，并按照次品类别将第一料盘和第二料盘中的次品芯片分拣至第二料盘中被间隔区划分形成的各个放置区中，第三料盘缓存冗余于第一料盘及第二料盘的所有放置区的芯片，本发明能够将芯片分拣为良品和次品，同时能够按照次品类别分拣次品芯片，缩减了分拣的步骤，减少分拣耗时，提高了效率。
-
公开(公告)号：CN109961860A
公开(公告)日：2019-07-02
申请号：CN201910244774.1
申请日：2019-03-28
申请人： 中核建中核燃料元件有限公司 , 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G21C17/06
摘要： 本发明公开了一种用于核燃料棒表面检测的设备及其检测方法，属于自动化设备技术领域。该设备包括检测装置、上料装置、下料装置和控制装置，通过设置上料装置能够实现棒料的自动上料，通过设置检测装置能够对经过测字符识别机构识别后的棒料的表面微小缺陷以及端部焊缝的微小缺陷进行精确检测，通过设置下料装置能够实现棒料的自动下料，并根据检测装置的检测结果将检验完毕的棒料输送至合格区和不合格区，以便操作人员对不合格区的棒料进行复检。整个设备不仅集成化程度高、自动化程度高、且检测效率高、所需的操作人员少，且能够对棒料表面的微小缺陷和焊缝端部的微小缺陷进行自动检测，有利于提高检测精度和棒料的使用安全性。
-
公开(公告)号：CN110083357B
公开(公告)日：2023-10-13
申请号：CN201910350522.7
申请日：2019-04-28
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G06F8/38
摘要： 本发明实施例公开了一种界面构建方法、装置、服务器及存储介质。该方法包括：根据动态数据库的接口调用方法构建基类，所述基类用于通过与动态数据库之间的接口调用数据；基于基类构建至少一个子类，根据至少一个子类构建界面。通过上述方案从而实现了界面构建和数据调度的分离，通过基类进行数据调用，再基于基类构建子类，进一步构建界面，能够实现快速构建界面，并且可以重复利用数据单元，提高了界面构建的效率，尤其适用于视觉检测软件系统开发过程中进行界面构建的场景，减少了界面构建以及软件系统开发的时间。
-
公开(公告)号：CN113433135A
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN202110706393.8
申请日：2021-06-24
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明涉及硅片检测设备技术领域，公开了一种硅片检测装置。其包括：图像采集件、挡板组件和光源组件。图像采集件用于采集待检测硅片上采集区域的图像；挡板组件置于图像采集件与待检测硅片之间，挡板组件包括第一挡板；光源组件包括两个光源，其中一个光源位于第一挡板的第一侧，另一个光源以及图像采集件位于第一挡板的第二侧，第一侧与第二侧相背设置，位于第一侧的光源发出的光线照射至第一挡板上并能够通过第一挡板散射至采集区域内，位于第二侧的光源出的光线能够由第二侧达到采集区域内。本发明实现了采集到的图像灰度分布均匀，提升了图像的对比度，更易于分析出硅片的缺陷，提高了硅片的检测精度。
-
公开(公告)号：CN113075835A
公开(公告)日：2021-07-06
申请号：CN202110407612.2
申请日：2021-04-15
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G03B15/05
摘要： 本发明实施例公开了一种多路光源频闪和相机触发控制装置及控制系统。该控制装置包括时序控制模块，用于在外部电压信号触发下进行时序控制，并输出第一脉冲序列，至少一个光源控制模块，与时序控制模块电连接，用于根据第一脉冲序列触发多路光源，其中，每个光源控制模块设置有多个输出通道，每个输出通道连接一个光源，光源控制模块用于根据第一脉冲序列控制任意一个输出通道对应光源的频闪参数，其中，所述频闪参数包括电流强度和频率。本发明实施例的技术方案，通过增加输出通道的数量，提高了可控制光源的数量，减少整体系统复杂程度，提升多光源应用场景的可靠性以及稳定性及拓展性，并且实现了光源触发和相机触发的完全同步。
-
公开(公告)号：CN110132975A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910244006.6
申请日：2019-03-28
申请人： 中核建中核燃料元件有限公司 , 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明公开了一种用于核燃料棒包壳表面检测的方法、装置，所述包壳呈圆柱状。其中，所述方法包括：针对待测圆柱体中至少两个长度对应的至少两组待测圆柱区段，采用至少两个图像采集器获取每组待测圆柱区段表面的3D点云数据；基于所述每组待测圆柱区段表面的3D点云数据中的深度信息，确定每组待测圆柱区段的表面缺陷。本发明实施例，实现了对核燃料棒包壳表面缺陷精准、快速的检测。
-
公开(公告)号：CN110049243A
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201910319681.0
申请日：2019-04-19
申请人： 博众精工科技股份有限公司
摘要： 本发明实施例公开了一种图像采集方法、装置、设备和介质。其中，所述方法应用于图像采集设备，所述图像采集设备上配置有拍摄装置、光源和旋转轴，该旋转轴上设置有位移传感器，采集对象放置在旋转轴上，该采集对象具有至少一个不规则表面；该方法包括：控制所述旋转轴按照预设轨迹移动；通过所述位移传感器获取所述旋转轴的实时位置，并根据所述旋转轴的实时位置和采集对象的形状，计算所述采集对象的实时位置信息；若所述采集对象的实时位置信息与预设的目标位置信息相匹配，则触发所述光源和拍摄装置采集图像。本发明实施例简化了图像采集的运动过程，而且整个图像采集过程连续进行，提高了图像采集的效率。
-
公开(公告)号：CN113433135B
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202110706393.8
申请日：2021-06-24
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G01N21/88
摘要： 本发明涉及硅片检测设备技术领域，公开了一种硅片检测装置。其包括：图像采集件、挡板组件和光源组件。图像采集件用于采集待检测硅片上采集区域的图像；挡板组件置于图像采集件与待检测硅片之间，挡板组件包括第一挡板；光源组件包括两个光源，其中一个光源位于第一挡板的第一侧，另一个光源以及图像采集件位于第一挡板的第二侧，第一侧与第二侧相背设置，位于第一侧的光源发出的光线照射至第一挡板上并能够通过第一挡板散射至采集区域内，位于第二侧的光源出的光线能够由第二侧达到采集区域内。本发明实现了采集到的图像灰度分布均匀，提升了图像的对比度，更易于分析出硅片的缺陷，提高了硅片的检测精度。
-
公开(公告)号：CN110083357A
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201910350522.7
申请日：2019-04-28
申请人： 博众精工科技股份有限公司
IPC分类号： G06F8/38
摘要： 本发明实施例公开了一种界面构建方法、装置、服务器及存储介质。该方法包括：根据动态数据库的接口调用方法构建基类，所述基类用于通过与动态数据库之间的接口调用数据；基于基类构建至少一个子类，根据至少一个子类构建界面。通过上述方案从而实现了界面构建和数据调度的分离，通过基类进行数据调用，再基于基类构建子类，进一步构建界面，能够实现快速构建界面，并且可以重复利用数据单元，提高了界面构建的效率，尤其适用于视觉检测软件系统开发过程中进行界面构建的场景，减少了界面构建以及软件系统开发的时间。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
21 条记录 (耗时 0.029 秒)
