一种具有高衰减系数的机械可控裂结装置

    公开(公告)号:CN107315032A

    公开(公告)日:2017-11-03

    申请号:CN201710545142.X

    申请日:2017-07-06

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: G01N27/00

    CPC分类号: G01N27/00

    摘要: 一种具有高衰减系数的机械可控裂结装置,涉及机械可控裂结装置。设有骨架底座、步进电机、微芯片和探针装置;所述骨架底座为不锈钢圆柱底座,所述步进电机上开孔,将微芯片、探针装置和步进电机组装固定在开孔上,用于单分子测试;所述步进电机与骨架底座连接;所述微芯片设有聚酰亚胺层和金电极;所述探针装置将微芯片中微小电极引出成平面外界电极,探针装置设有支撑结构和接触结构,所述支撑结构可采用铝合金材料的桥型结构,在支撑结构中心钻有直径1cm的孔洞,用于微芯片的架设;所述接触结构以支撑结构中心孔洞作为分界,两边对称组装上聚酯包膜柔性覆铜板、聚四氟乙烯板、环氧玻纤布基板、银针。

    聚二甲基硅氧烷芯片低真空键合方法

    公开(公告)号:CN1195981C

    公开(公告)日:2005-04-06

    申请号:CN03130857.0

    申请日:2003-05-15

    申请人: 厦门大学

    摘要: 涉及一种聚二甲基硅氧烷芯片低真空键合方法。其步骤为将聚合后的硅橡胶样品新鲜剥离得芯片组件,放入真空腔,抽真空,用氧气反复冲洗,排出残余气体;再抽真空,加高压使真空腔内的氧气起辉,对芯片组件表面进行氧等离子体轰击,并与大气压平衡,打开真空腔,将经氧等离子体处理好的芯片组件贴合。其键合强度很高,经拉力实验测定,可超过PDMS本体的强度,仪器设备简单,要求的真空度较低。抽真空时间、放气时间短,提高了效率。

    聚二甲基硅氧烷芯片低真空键合方法

    公开(公告)号:CN1484021A

    公开(公告)日:2004-03-24

    申请号:CN03130857.0

    申请日:2003-05-15

    申请人: 厦门大学

    摘要: 涉及一种聚二甲基硅氧烷芯片低真空键合方法。其步骤为将聚合后的硅橡胶样品新鲜剥离得芯片组件,放入真空腔,抽真空,用氧气反复冲洗,排出残余气体:再抽真空,加高压使真空腔内的氧气起辉,对芯片组件表面进行氧等离子体轰击,并与大气压平衡,打开真空腔,将经氧等离子体处理好的芯片组件贴合。其键合强度很高,经拉力实验测定,可超过PDMS本体的强度,仪器设备简单,要求的真空度较低。抽真空时间、放气时间短,提高了效率。

    一种芯片质子泵及其制造和使用方法

    公开(公告)号:CN103537330B

    公开(公告)日:2016-05-04

    申请号:CN201310503969.6

    申请日:2013-10-23

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: B01L3/00

    摘要: 本发明公开了一种芯片质子泵及其制造和使用方法,该芯片质子泵,包括微通道,其还包括至少一储液池、所述的储液池和微通道之间设有连接通道,该连接通道上设有将储液池和微通道隔开的质子膜,且该质子膜在通电时能驱动质子进入或泵出微通道;以及一微电极,微电极的一极设于储液池,另一极设于微通道上。本发明的质子泵,可以用于改变流经微通道的溶液pH值或形成pH梯度,便于进一步的反应或分离。可应用于微流控芯片通道中溶液的pH控制、改变以及pH梯度建立,并进行分离或分析等。

    集成电路反剥离光刻方法

    公开(公告)号:CN1800983A

    公开(公告)日:2006-07-12

    申请号:CN200510048367.1

    申请日:2005-12-31

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: G03F7/20 H01L21/027

    摘要: 集成电路反剥离光刻方法,涉及一种集成电路光刻方法,尤其是涉及一种采用改进的反剥离工艺的集成电路光刻方法。提供一种改进的集成电路反剥离光刻方法。其步骤为在硅片表面先后涂增粘剂层和反转光刻胶层后烘胶,烘胶后在硅片表面再次涂反转光刻胶层,前烘后掩膜曝光,用掩膜板遮挡;反转烘后泛曝光,再显影,淀积金层,金厚度为2μm;将溅射好金的硅片用丙酮浸泡至少4h;将浸泡过丙酮的硅片放入超声仪中进行超声剥离。解决了业内一直没有解决的在金膜较厚情况下反剥离工艺技术问题,通过工艺流程与工艺条件的改进,尤其是在涂胶工艺中,采用先涂一层胶,然后烘干后再涂第二层的工艺,显著地加厚了光刻胶的厚度,使反剥离工艺得到改进。

    一种芯片质子泵及其制造和使用方法

    公开(公告)号:CN103537330A

    公开(公告)日:2014-01-29

    申请号:CN201310503969.6

    申请日:2013-10-23

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: B01L3/00

    摘要: 本发明公开了一种芯片质子泵及其制造和使用方法,该芯片质子泵,包括微通道,其还包括至少一储液池、所述的储液池和微通道之间设有连接通道,该连接通道上设有将储液池和微通道隔开的质子膜,且该质子膜在通电时能驱动质子进入或泵出微通道;以及一微电极,微电极的一极设于储液池,另一极设于微通道上。本发明的质子泵,可以用于改变流经微通道的溶液pH值或形成pH梯度,便于进一步的反应或分离。可应用于微流控芯片通道中溶液的pH控制、改变以及pH梯度建立,并进行分离或分析等。

    集成电路反剥离光刻方法

    公开(公告)号:CN100437359C

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200510048367.1

    申请日:2005-12-31

    申请人: 厦门大学

    IPC分类号: G03F7/20 H01L21/027

    摘要: 集成电路反剥离光刻方法,涉及一种集成电路光刻方法,尤其是涉及一种采用改进的反剥离工艺的集成电路光刻方法。提供一种改进的集成电路反剥离光刻方法。其步骤为在硅片表面先后涂增粘剂层和反转光刻胶层后烘胶,烘胶后在硅片表面再次涂反转光刻胶层,前烘后掩膜曝光,用掩膜板遮挡;反转烘后泛曝光,再显影,淀积金层,金厚度为2μm;将溅射好金的硅片用丙酮浸泡至少4h;将浸泡过丙酮的硅片放入超声仪中进行超声剥离。解决了业内一直没有解决的在金膜较厚情况下反剥离工艺技术问题,通过工艺流程与工艺条件的改进,尤其是在涂胶工艺中,采用先涂一层胶,然后烘干后再涂第二层的工艺,显著地加厚了光刻胶的厚度,使反剥离工艺得到改进。