一种光栅编码器电磁干扰可靠性的定量评估方法及测试系统

    公开(公告)号:CN119986187A

    公开(公告)日:2025-05-13

    申请号:CN202510035829.3

    申请日:2025-01-09

    Applicant: 吉林大学

    Abstract: 本发明公开了一种光栅编码器电磁干扰可靠性的定量评估方法及测试系统,包括:获取光栅编码器在电磁干扰下的输出信号,所述输出信号包括两相方波信号对应的时间序列数据;根据所述输出信号计算所述两相方波信号的占空比误差和相位偏移程度,并将所述占空比误差确定为所述两相方波信号的均匀性误差,将所述相位偏移程度确定为所述两相方波信号的正交性误差;根据所述均匀性误差和所述正交性误差对所述光栅编码器的电磁干扰可靠性进行评估。通过采用均匀性误差和正交性误差对增量式光栅编码器的输出精度进行评估,避免了使用专用试验台进行直接检测的复杂性和高成本,简化了检测流程。

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