-
公开(公告)号：CN101726503B
公开(公告)日：2012-08-29
申请号：CN200810224362.3
申请日：2008-10-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04 , A61B6/03
Abstract: 涉及X射线层析相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；光栅子系统，包括第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；相对移动装置，用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内，在多个位置处，所述成像系统对被检测物体进行相衬成像，由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像，并由此进行三维图像重建。
-
公开(公告)号：CN119510456A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411733296.8
申请日：2024-11-28
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
IPC: G01N23/046 , G01V5/22 , G01V13/00 , G02B7/00
Abstract: 本发明提供一种检测设备，包括：检测部件，具有相对的第一侧和第二侧；入口通道部件，设于所述检测部件的第一侧；以及出口通道部件，设于所述检测部件的第二侧；其中，所述检测部件包括：支撑框架限定出检测通道，所述支撑框架为一体成型件；辐射源，设于所述支撑框架；探测器，设于所述支撑框架，且与所述辐射源相对；光栅组件，包括可调光栅，所述可调光栅包括可移动横臂和可移动竖臂，所述可移动横臂设于所述支撑框架的顶壁面，所述可移动竖臂设于所述支撑框架的侧壁面。本发明的检测设备，支撑框架一体成型，支撑框架的安装面具有良好的平面度，有效确保辐射源、探测器和光栅组件安装位置的准确性，进而有利于确保扫描图像的质量。
-
公开(公告)号：CN101943668B
公开(公告)日：2013-03-27
申请号：CN200910088662.8
申请日：2009-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04
CPC classification number: G01N23/04 , B82Y10/00 , G01N23/20075 , G21K2201/061 , G21K2207/005
Abstract: 一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。
-
公开(公告)号：CN101943668A
公开(公告)日：2011-01-12
申请号：CN200910088662.8
申请日：2009-07-07
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/04 , G01N23/083 , A61B6/03 , G03B42/02
CPC classification number: G01N23/04 , B82Y10/00 , G01N23/20075 , G21K2201/061 , G21K2207/005
Abstract: 一种X射线成像技术，利用包括：X射线源、两吸收光栅G1和G2、X射线探测器、控制器和数据处理单元的成像系统对被测物体进行X射线暗场CT成像，包括：向被测物体发射X射线；使得所述两块吸收光栅G1和G2之一在其至少一个周期范围内进行相位步进运动；在每个相位步进步骤，探测器接收X射线，并转化为电信号；其中，经过至少一个周期的相位步进，探测器上每个像素点处的X射线光强表示为一个光强曲线；根据探测器上每个像素点处的光强曲线与不存在被检测物体情况下的光强曲线的对比度，计算得到每个像素的散射角分布的二阶矩；在多个角度拍摄物体的图像，然后根据CT重建算法可以得物体的散射信息图像。
-
公开(公告)号：CN101726503A
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200810224362.3
申请日：2008-10-17
Applicant: 清华大学 , 同方威视技术股份有限公司
IPC: G01N23/083 , G01N23/04
Abstract: 涉及X射线层析相衬成像系统及方法，包括：X射线装置，向被检测物体发射X射线束；光栅子系统，包括第一和第二吸收光栅，位于X射线束方向上，被检测物体折射的X射线经该第一和第二吸收光栅形成强度变化的X射线信号；检测单元，接收强度变化的X射线并转换为电信号；和数据处理单元，处理并提取该电信号中折射角信息，并利用折射角信息计算出像素信息；相对移动装置，用于使得所述被检测的物体相对于所述成像系统相对地移动。在所述成像系统与被检测物体的一定相对移动范围内，在多个位置处，所述成像系统对被检测物体进行相衬成像，由此取得被检测物体的多个图像。所述多个图像经过转换变成同一个重建平面上的图像，并由此进行三维图像重建。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN119501520A
公开(公告)日：2025-02-25
申请号：CN202411944750.4
申请日：2024-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本公开提供了一种基于光栅的拼接装置及拼接系统，其中，拼接装置包括：支撑台；承载机构，设置于支撑台上，承载机构的承载面被构造成支撑多个工作件，其中，工作件至少包括第一工作件和第二工作件；以及调节机构，活动地安装于支撑台上，被构造为在承载面的第一方向上滑动、和绕与承载面垂直的第一转轴转动，以驱动第二工作件运动至允许与第一工作件拼接的目标位置。
-
公开(公告)号：CN119439338A
公开(公告)日：2025-02-14
申请号：CN202411944763.1
申请日：2024-12-26
Applicant: 同方威视技术股份有限公司 , 清华大学
Abstract: 本发明提供了一种光栅的制备方法，该制备方法包括：将光栅片和隔离组件交替的置于光栅制备室中，以在光栅制备室中形成堆叠结构；其中，隔离组件适用于确保相邻的两个光栅片之间间隔相同的距离；使光栅片和隔离组件在光栅制备室中保持固定；在光栅制备室内形成负压；在负压的作用下，使胶体进入光栅制备室并填充至两个相邻的光栅片之间的缝隙内以对两个相邻的光栅片进行粘接；以及对胶体进行固化，固化后的胶体允许光束穿过。本发明的实施例提供了一种工艺造价低、工艺流程简单、生产周期短、能够大规模生产的光栅的制备方法。
-
公开(公告)号：CN119539661A
公开(公告)日：2025-02-28
申请号：CN202411043666.5
申请日：2024-07-31
Applicant: 清华大学
IPC: G06Q10/0832 , G01V5/22 , G01V5/26 , G01S13/88 , B65B57/02 , B65G65/00 , G06Q10/0831 , G06Q10/0833 , G06F18/2433 , G06N5/01 , G06N3/02 , G06N20/20
Abstract: 本申请涉及一种跨境新业态三智安检方法及装置，其中，方法包括：基于三智检查机对多个目标跨境电商订单包裹进行安全检测；对多个目标跨境电商订单包裹进行封装分拣，且根据集装箱配装清单对分拣后的多个目标跨境电商订单包裹进行拼箱施封，得到清单总分单；将安全检测结果和清单总分单发送至三智供应链安全管理平台，使得海关根据三智供应链安全管理平台和物流监管模型等，简化查验多个目标跨境电商订单包裹，并通过国际物流企业将查验后的跨境电商订单包裹配送至境外消费者。由此，解决了现有的跨境集装箱的检查方法难以对拼箱集装箱进行全面准确的安全检查，无法有效识别碎片化拼箱货物安全风险，难以实现全球供应链全链条信息可控共享等问题。
-
公开(公告)号：CN119001810A
公开(公告)日：2024-11-22
申请号：CN202411301456.1
申请日：2024-09-18
Applicant: 清华大学
Abstract: 本公开涉及辐射探测技术领域，尤其涉及一种大动态范围的辐射探测器及方法。所述辐射探测器包括传感器、积分器、计数通道和积分通道；传感器，用于将待探测的辐射转换为电流信号，辐射包括射线或粒子；积分器，用于将电流信号转换为电压信号，将电压信号分别输入至计数通道和积分通道；计数通道，用于根据电压信号，确定辐射的计数值；积分通道，用于根据电压信号，确定辐射的电荷积分值，并通过电荷泵电路在积分过程中动态扩展积分通道的量程。本公开实施例提供了一种宽计数率范围和能量量程的辐射探测器，利用探测器电流信号的脉冲计数模式和电荷积分模式各自优势，在同时读出两种模式信号处理后实现计数率范围和能量量程的拓展。
-
公开(公告)号：CN118858334A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202410849651.1
申请日：2024-06-27
Applicant: 清华大学
IPC: G01N23/20 , G06T7/73 , G01N23/20008 , G01N23/046
Abstract: 本申请涉及一种可调编码孔XRD成像系统及方法。该系统包括：射线源、前准直组件、成像区域、射线阻挡器、编码板和像素化谱仪，其中，射线源用于产生X射线；前准直组件用于将X射线整形为等于预设角度的扇束射线，并照射在成像区域内的被扫描物体；射线阻挡器用于阻挡经过被扫描物体的部分射线，并使剩余射线通过编码板投射至预设区间，其中，编码板包含多个编码孔，且编码板位置可调；像素化谱仪用于采集落在预设区间内的不同能量的X光子，以根据采集结果得到被扫描物体的XRD衍射谱。由此，在扫描过程中通过调节编码板位置，可以丰富采集数据，提升采集数据的数量和质量，改善现有XRD系统的采集数据条件差、求解困难的问题。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
43
records
(took 0.043 seconds)
