一种硅片清洗系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112309942A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202011196895.2

    申请日:2020-10-30

    摘要: 本发明涉及硅片处理领域,公开了一种硅片清洗系统,包括依次连接的上料机构和清洗机构,上料机构包括至少一条平料传送带,平料传送带终端设有立片导槽,立片导槽终端竖直向下,立片导槽下方设有竖料传送带,竖料传送带沿传送方向设有至少一条立片传送槽,立片传送槽槽宽与硅片厚度相匹配,立片传送槽与立片导槽终端平行且一一对应,清洗机构包括清洗池,清洗池上方通过升降机构连有清洗框,以使清洗框能够进出清洗池,清洗框的入口与竖料传送带终端匹配,清洗框内平行设有若干插片槽,插片槽与立片传送槽平行且一一对应。其能够自动上料,使硅片平行且间隔地插入清洗框,有效提升清洗效率,降低人工成本,避免硅片表面污染。

    一种半导体芯片裂片机
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112201621A

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN202011196888.2

    申请日:2020-10-30

    摘要: 本发明公开了一种半导体芯片裂片机,包括机体和滑动连接于该机体的龙门架;以及轧辊,用于辊压芯片;升降辊架,配置于该龙门架、连接于该轧辊;还包括一对调节装置,配置于该龙门架与该升降辊架之间、用于调整该轧辊的水平角度;该对调节装置对称配置于该轧辊的两端;一对距离检测装置,配置于该龙门架、分别对应于该轧辊的两端;该对距离检测装置设置于同一高度,该距离检测装置用于检测该轧辊两端部之间的高度差。本发明能够提高轧辊水平角度的调整效率,提高轧辊水平角度的调整精度,在生产过程中实现轧辊水平角度的快速调整,提高生产效率。

    一种用于瞬态抑制器的低触发高鲁棒性SCR器件及保护电路

    公开(公告)号:CN113571513A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202111111116.9

    申请日:2021-09-23

    IPC分类号: H01L27/02

    摘要: 本发明提供一种用于瞬态抑制器的低触发高鲁棒性SCR器件及保护电路,通过第一N型重掺杂区、第一P阱、N阱以及与阳极端口连接的第二P型重掺杂区构成了第一个SCR器件;通过与阳极端口连接的第二P型重掺杂区、第二P阱、N阱以及与阴极端口连接的第三N型重掺杂区构成了第二个SCR器件;同时通过第二P阱、N阱、第一栅氧化层、第二栅氧化层构成了RC电路;通过第三N型重掺杂区、第四N型重掺杂区和第二栅氧化层构成了寄生NMOS器件,提高了SCR器件的可控性和运行可靠性。

    一种用于瞬态抑制器的低触发高鲁棒性SCR器件及保护电路

    公开(公告)号:CN113571513B

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111111116.9

    申请日:2021-09-23

    IPC分类号: H01L27/02

    摘要: 本发明提供一种用于瞬态抑制器的低触发高鲁棒性SCR器件及保护电路,通过第一N型重掺杂区、第一P阱、N阱以及与阳极端口连接的第二P型重掺杂区构成了第一个SCR器件;通过与阳极端口连接的第二P型重掺杂区、第二P阱、N阱以及与阴极端口连接的第三N型重掺杂区构成了第二个SCR器件;同时通过第二P阱、N阱、第一栅氧化层、第二栅氧化层构成了RC电路;通过第三N型重掺杂区、第四N型重掺杂区和第二栅氧化层构成了寄生NMOS器件,提高了SCR器件的可控性和运行可靠性。

    一种冷光源曝光机
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112180694A

    公开(公告)日:2021-01-05

    申请号:CN202011192267.7

    申请日:2020-10-30

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 一种冷光源曝光机,包括支架、载片台、曝光机构和竖向调节机构,载片台水平固定于支架的下端,竖向调节机构用于调节曝光机构的高度,曝光机构包括紫外灯源、多面镜组、反光镜组、机械快门和罩壳,多面镜组和反光镜组均置于罩壳内,多面镜组包括若干呈环形均匀紧密布置的反光片,紫外灯源置于多面镜组的中心点位置处,反光镜组包括第一反光镜和第二反光镜,第一反光镜与第二反光镜平行对峙布置、并与水平方向呈夹角45°布置,第一反光镜置于紫外灯源正下方,机械快门横置于第一反光镜和第二反光镜之间,第二反光镜正下方还设有准直镜。其避免了曝光机载片台上热面积累积,提高了曝光效率,大大降低了紫外光的能量衰减,扩大了曝光面积。

    一种半导体芯片裂片机
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213124413U

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202022481501.X

    申请日:2020-10-30

    摘要: 本实用新型公开了一种半导体芯片裂片机,包括机体和滑动连接于该机体的龙门架;以及轧辊,用于辊压芯片;以及升降辊架,配置于该龙门架、连接于该轧辊;还包括一对调节装置,配置于该龙门架与该升降辊架之间、用于调整该轧辊的水平角度;该对调节装置对称配置于该轧辊的两端;一对距离检测装置,配置于该龙门架、分别对应于该轧辊的两端;该对距离检测装置设置于同一高度,该距离检测装置用于检测该轧辊两端部之间的高度差。本实用新型能够提高轧辊水平角度的调整效率,提高轧辊水平角度的调整精度,在生产过程中实现轧辊水平角度的快速调整,提高生产效率。

    一种硅片清洗系统
    7.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213124402U

    公开(公告)日:2021-05-04

    申请号:CN202022483281.4

    申请日:2020-10-30

    摘要: 本实用新型涉及硅片处理领域,公开了一种硅片清洗系统,包括依次连接的上料机构和清洗机构,上料机构包括规整筒,规整筒上方设有水平滑轨,水平滑轨滑动连接有升降杆,升降杆底端连有取料吸盘,还包括平料传送带,平料传送带终端设有立片导槽,立片导槽终端竖直向下,立片导槽下方设有竖料传送带,竖料传送带设有立片传送槽,立片传送槽槽宽与硅片厚度相匹配,立片传送槽的槽壁与槽底均铺设有软质层,清洗机构包括清洗池,清洗池上方通过升降机构连有清洗框,清洗框的入口与竖料传送带终端匹配,清洗框内平行设有若干插片槽。其能够自动上料,使硅片平行且间隔地插入清洗框,有效提升清洗效率,降低人工成本,避免硅片表面污染。

    一种冷光源曝光机
    8.
    实用新型

    公开(公告)号:CN213457648U

    公开(公告)日:2021-06-15

    申请号:CN202022484676.6

    申请日:2020-10-30

    IPC分类号: G03F7/20

    摘要: 一种冷光源曝光机,包括支架、载片台、曝光机构和竖向调节机构,载片台水平固定于支架的下端,竖向调节机构用于调节曝光机构的高度,曝光机构包括紫外灯源、多面镜组、反光镜组、机械快门和罩壳,多面镜组和反光镜组均置于罩壳内,多面镜组包括若干呈环形均匀紧密布置的反光片,紫外灯源置于多面镜组的中心点位置处,反光镜组包括第一反光镜和第二反光镜,第一反光镜与第二反光镜平行对峙布置、并与水平方向呈夹角45°布置,第一反光镜置于紫外灯源正下方,机械快门横置于第一反光镜和第二反光镜之间,第二反光镜正下方还设有准直镜。其避免了曝光机载片台上热面积累积,提高了曝光效率,大大降低了紫外光的能量衰减,扩大了曝光面积。