一种大豆株高鉴定的KASP分子标记及应用

    公开(公告)号:CN118667997A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410886798.8

    申请日:2024-07-03

    摘要: 本发明涉及农业生物学技术领域,具体涉及一种大豆株高鉴定的KASP分子标记及应用,与大豆株高显著关联的Chr13_35823553位于大豆基因组GmBES1的Chr13_35819610‑35819810bp位置,Chr13_35823553处存在一个T/C突变,该KASP分子标记的核苷酸序列如SEQ ID NO.1所示。本发明通过分析GmBES1基因的变异位点,开发了KASP分子标记,并使用这个分子标记进行PCR检测,可以快速、准确地鉴定大豆的株高。这样可以降低人为因素的干扰,提高株高鉴定的准确性和可重复性。

    一种大豆叶片的光合色素测定方法及系统

    公开(公告)号:CN104089895B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201410355544.X

    申请日:2014-07-24

    IPC分类号: G01N21/27 G06T7/00

    摘要: 本申请提供了一种大豆叶片的光合色素测定方法及系统,该方法及系统首先获取大豆叶片的图像;然后将该图像分割为预设规格的若干单元;再将该若干单元构建为单元矩阵;采集每个单元的图像数据;根据光合色素方程和图像数据计算得到每个单元的光合色素含量;根据每个单元的光合色素含量和单元矩阵获得大豆叶片的光合色素分布图。由于本方法无需将叶片进行切割然后利用化学法分别测定其光合色素含量,只是对叶片的图像进行分析,测定速度极快,平均用时不超过20秒,从而能够解决现有测定方法测定效率较低的问题。

    用于测定间套作大豆冠层光谱数据的测定装置

    公开(公告)号:CN103837482B

    公开(公告)日:2016-03-16

    申请号:CN201410100597.7

    申请日:2014-03-18

    IPC分类号: G01N21/25

    摘要: 本发明提供了一种用于测定间套作大豆冠层光谱数据的测定装置,用于遮挡间套作大豆中的高位作物并测定大豆冠层光谱数据,包括:可沿大豆生长方向伸缩的安装架;安装在安装架上,且能够随安装架移动以将高位作物与大豆隔离开并能够吸收高位作物反射光的遮挡板;用于测定大豆冠层光谱的光谱仪。工作时,将安装架安装在平行于间套作大豆行的两边,然后在安装架上安装能够遮挡高位作物的黑色遮挡板以及光谱仪。本申请中设置了能够随安装架沿大豆生长方向移动,以遮挡高位作物,实现高位作物与大豆的隔离,同时还可吸收高位作物的反射光线的遮挡板,可解决高位作物的遮挡大豆的问题及光反射对大豆光谱测定的影响,因此,有效提高了测定数据的准确性。

    一种套作大豆的补偿生长能力的检测方法

    公开(公告)号:CN104620839A

    公开(公告)日:2015-05-20

    申请号:CN201510100570.2

    申请日:2015-03-06

    IPC分类号: A01G1/00

    CPC分类号: A01G22/00

    摘要: 本发明涉及农学技术领域,特别涉及一种套作大豆的补偿生长能力的检测方法。该方法通过获得补偿生长能力综合指数,来评价套作大豆的补偿生长能力,且得到补偿生长能力的直接评价指标。在本发明提供的套作大豆补偿生长能力的综合评价方法中,在大豆成熟期对大豆进行收获考种,分别获得净作大豆和套作大豆产量数据,将补偿生长能力综合指数分别与产量及产量损失系数进行相关性分析,相关性系数分别为:0.776(p

    一种套作大豆的补偿生长能力的检测方法

    公开(公告)号:CN104620839B

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201510100570.2

    申请日:2015-03-06

    IPC分类号: A01G1/00

    摘要: 本发明涉及农学技术领域,特别涉及一种套作大豆的补偿生长能力的检测方法。该方法通过获得补偿生长能力综合指数,来评价套作大豆的补偿生长能力,且得到补偿生长能力的直接评价指标。在本发明提供的套作大豆补偿生长能力的综合评价方法中,在大豆成熟期对大豆进行收获考种,分别获得净作大豆和套作大豆产量数据,将补偿生长能力综合指数分别与产量及产量损失系数进行相关性分析,相关性系数分别为:0.776(p