公开(公告)号：CN113514485A

公开(公告)日：2021-10-19

申请号：CN202110704200.5

申请日：2021-06-24

申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 ,  国标(北京)检验认证有限公司

发明人： 韩小磊 ,  徐云培 ,  杜志伟 ,  李聪 ,  车聪 ,  付新 ,  李婷 ,  贾荣光 ,  何少卿 ,  彭永刚

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N1/28 ,  G01N1/32 ,  G01N1/34 ,  G01N1/36

摘要： 本发明涉及一种钕铁硼电子背散射衍射分析样品的制备方法，属于扫描电镜样品制备技术领域。本发明通过金相镶样、机械研磨、机械抛光、振动抛光和样品清洗等步骤，制备出大区域高质量的样品。采用本方法制备的钕铁硼EBSD的样品，避免了样品在制样过程中被不均匀腐蚀或产生表面离子损伤，EBSD采集装置可以采集到高质量的菊池花样，从而获得样品准确的结构和取向信息；由于采用了镶样的方法制样，本方法对于样品的适用性较好，适用于从微米级粉体到厘米级块体的各种形态的NdFeB样品。本方法制样操作简单，可实施性强，成本低廉。

公开(公告)号：CN115931941A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211487999.8

申请日：2022-11-25

申请人： 国标(北京)检验认证有限公司

发明人： 韩小磊 ,  车聪 ,  彭永刚 ,  杜志伟 ,  贾荣光 ,  马会娜 ,  王宁 ,  徐云培

IPC分类号： G01N23/2202 ,  G01N23/2251

摘要： 本发明涉及一种用于扫描电镜和能谱仪校准的参考样品及制备方法，属于扫描电镜校准参考样品制备技术领域。该参考样品包括铜‑铝连接体、镶嵌体和表面碳膜，铜‑铝连接体设置有扫描电镜校准标识和能谱峰位校准标识，扫描电镜校准标识包括低倍校准标识、中倍校准标识和高倍校准标识，标识由正交十字栅格组成，设置在铜‑铝连接体的铜侧；能谱峰位校准标识包括两条与铜‑铝界面平行的标识线，分别设置在铜‑铝界面的两侧。该样品可用于扫描电镜放大倍率、图像线性失真度、能谱峰位、能量分辨率和高低能端峰高比等多参数的检查和校准。该样品的制备方法操作简单，成本较低，适合实验室自制，参考样品在校准过程使用时较为方便快捷。

公开(公告)号：CN113514485B

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202110704200.5

申请日：2021-06-24

申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 ,  国标(北京)检验认证有限公司

发明人： 韩小磊 ,  徐云培 ,  杜志伟 ,  李聪 ,  车聪 ,  付新 ,  李婷 ,  贾荣光 ,  何少卿 ,  彭永刚

IPC分类号： G01N23/20008 ,  G01N1/28 ,  G01N1/32 ,  G01N1/34 ,  G01N1/36

摘要： 本发明涉及一种钕铁硼电子背散射衍射分析样品的制备方法，属于扫描电镜样品制备技术领域。本发明通过金相镶样、机械研磨、机械抛光、振动抛光和样品清洗等步骤，制备出大区域高质量的样品。采用本方法制备的钕铁硼EBSD的样品，避免了样品在制样过程中被不均匀腐蚀或产生表面离子损伤，EBSD采集装置可以采集到高质量的菊池花样，从而获得样品准确的结构和取向信息；由于采用了镶样的方法制样，本方法对于样品的适用性较好，适用于从微米级粉体到厘米级块体的各种形态的NdFeB样品。本方法制样操作简单，可实施性强，成本低廉。