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公开(公告)号：CN112444435A
公开(公告)日：2021-03-05
申请号：CN202011314203.X
申请日：2020-11-20
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司 , 国合通用测试评价认证股份公司
IPC分类号： G01N1/28 , G01N23/04 , G01N23/20008
摘要： 本发明公开了属于透射电镜制样与分析技术领域的一种块体材料平面透射电镜样品的制备方法。具体步骤为1)将块体材料加工成薄片，固定于减薄用的环体表面；2)将薄片减薄至中心出现孔洞；3)在孔洞边缘观察粗定位，确定待分析制样的矩形选区；4)在分析制样的矩形选区表面沉积保护层；5)将镀过保护层的矩形选区三边切空，将截面修理平整；6)将纳米机械手与第四边的对边截面焊接后将第四边切空，矩形选区与薄片脱离；7)提取矩形选区焊接至FIB载网的柱体上；8)调整样品台使离子束垂直于矩形选区的截面入射，截面镀保护层，然后最终减薄，得到平面透射电镜样品。本发明是一种简单易行的定点制备块体材料平面透射电镜样品的方法。
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公开(公告)号：CN113514485A
公开(公告)日：2021-10-19
申请号：CN202110704200.5
申请日：2021-06-24
申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N1/28 , G01N1/32 , G01N1/34 , G01N1/36
摘要： 本发明涉及一种钕铁硼电子背散射衍射分析样品的制备方法，属于扫描电镜样品制备技术领域。本发明通过金相镶样、机械研磨、机械抛光、振动抛光和样品清洗等步骤，制备出大区域高质量的样品。采用本方法制备的钕铁硼EBSD的样品，避免了样品在制样过程中被不均匀腐蚀或产生表面离子损伤，EBSD采集装置可以采集到高质量的菊池花样，从而获得样品准确的结构和取向信息；由于采用了镶样的方法制样，本方法对于样品的适用性较好，适用于从微米级粉体到厘米级块体的各种形态的NdFeB样品。本方法制样操作简单，可实施性强，成本低廉。
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公开(公告)号：CN113514485B
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202110704200.5
申请日：2021-06-24
申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/20008 , G01N1/28 , G01N1/32 , G01N1/34 , G01N1/36
摘要： 本发明涉及一种钕铁硼电子背散射衍射分析样品的制备方法，属于扫描电镜样品制备技术领域。本发明通过金相镶样、机械研磨、机械抛光、振动抛光和样品清洗等步骤，制备出大区域高质量的样品。采用本方法制备的钕铁硼EBSD的样品，避免了样品在制样过程中被不均匀腐蚀或产生表面离子损伤，EBSD采集装置可以采集到高质量的菊池花样，从而获得样品准确的结构和取向信息；由于采用了镶样的方法制样，本方法对于样品的适用性较好，适用于从微米级粉体到厘米级块体的各种形态的NdFeB样品。本方法制样操作简单，可实施性强，成本低廉。
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公开(公告)号：CN109682848A
公开(公告)日：2019-04-26
申请号：CN201811635287.X
申请日：2018-12-29
申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/2005 , G01N23/20058
CPC分类号： G01N23/2005 , G01N23/20058 , G01N2001/2866 , G01N2001/2873
摘要： 本发明公开了一种Mg-RE-Zn系镁合金的透射薄膜试样的制备方法，该方法包括以下步骤：(1)将Mg-RE-Zn系镁合金块状试样切割成厚度为1mm左右的薄片；(2)将步骤(1)所得薄片用金刚砂纸研磨至0.1mm厚；而且薄片一侧研磨至表面光滑；(3)采用金刚砂纸分别研磨步骤(2)所得薄片两侧，直至薄片厚度约为0.06mm；(4)在铳样机上将步骤(3)所得薄片铳成圆片；(5)将步骤(4)所得圆片置于电解双喷减薄仪中进行双喷减薄；直至圆片中心出现小孔为止；(6)将步骤(5)所得圆片置于离子减薄仪，进气口氩气压力约为0.18Mpa，所得物即为Mg-RE-Zn系镁合金的透射薄膜试样。本方法制备的Mg-RE-Zn系镁合金薄膜样品，可用于透射电镜观察的薄区较大，样品表面干净无污染层，成本低廉。
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公开(公告)号：CN213957199U
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202022757171.2
申请日：2020-11-25
申请人： 国合通用测试评价认证股份公司 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/203 , G01N23/20025 , G01N23/2204 , G01N23/2251
摘要： 本实用新型涉及一种扫描电镜大面积EBSD试样用样品台，属于扫描电镜技术领域。扫描电镜大面积EBSD试样用样品台，包括圆柱底座、带凹槽的夹具和若干螺钉，带凹槽的夹具由底板和两个挡板组成，其中一个挡板上设置螺纹孔；螺钉穿过螺纹孔将放置在夹具中的样品固定在螺钉与不带螺纹孔的挡板之间。本实用新型样品台的结构简单，操作方便，机械固定牢固，不易漂移，可以测量大面积EBSD样品，或同时测量多个镶嵌样品，极大的提高了检测质量及效率。
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公开(公告)号：CN111982640A
公开(公告)日：2020-11-24
申请号：CN201910431250.3
申请日：2019-05-22
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
摘要： 本发明涉及一种用于EBSD测试的增材制造铝硅合金的制备方法，属于振动抛光技术领域。对铝硅合金镶嵌成的金相试样，首先采用由粗到细的砂纸，进行不同道次的水磨处理，然后采用金刚石抛光液进行抛光处理，将抛光后的试样清洗干净，表面光亮；将硅溶胶抛光液与去离子水以≥3:2的体积配比混合配成振动抛光液；将抛光液倒入振动抛光机中，将试样待测面浸没在抛光液中，进行振动抛光。本发明方法可用于对增材制造Al-Six-Mg样品的微观组织和织构的研究，相对于电解抛光和OPS机械抛光具有操作简单便捷，易控制，效果好等优点，适用于增材制造的硬质相和基体共存的两相或多相合金。
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公开(公告)号：CN111855337A
公开(公告)日：2020-10-30
申请号：CN201910345110.4
申请日：2019-04-26
申请人： 国标(北京)检验认证有限公司
摘要： 本发明涉及一种制备高纯钌靶EBSD样品的方法，属于EBSD试样制备技术领域。将高纯钌靶线切割成待测试样，进行机械磨抛，清洁干净后再用二氧化硅悬浮液抛光20-30分钟，抛光速度逐渐减慢，最后用清水将试样抛光20-30秒；用中性洗涤剂清洁试样表面，并在水龙头下冲洗试样表面，直至样品表面充分清洗干净，最后吹风机冷风吹干。本发明操作简便，能够去除高纯钌靶的表面机械应力，同时不给样品表面带来污染及组织改变，获得真实高质量的测试样品。
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公开(公告)号：CN106645243B
公开(公告)日：2019-08-02
申请号：CN201611207403.9
申请日：2016-12-23
申请人： 北京有色金属研究总院 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/2202
摘要： 本发明公开了一种大颗粒粉末透射电镜样品的制备方法，属于透射电镜样品制备技术领域。大颗粒粉末与含碳的导电粉混合制成混合粉末，然后金相镶样、底部研磨、顶部研磨、样品固定与清洗、离子减薄，制备出可用于透射电镜观察的样品。采用本方法制备的大颗粒粉末透射电镜样品，在一个样品中很容易找到多个边缘具有薄区的大颗粒，实现原子分辨水平的高分辨像的观察，同时又避免了样品漂移或抖动造成的高分辨像不清晰问题；本方法制样周期短，操作简单，可实施性强，成本低廉。
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公开(公告)号：CN106645243A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611207403.9
申请日：2016-12-23
申请人： 北京有色金属研究总院 , 国标(北京)检验认证有限公司
IPC分类号： G01N23/22
CPC分类号： G01N23/2202
摘要： 本发明公开了一种大颗粒粉末透射电镜样品的制备方法，属于透射电镜样品制备技术领域。大颗粒粉末与含碳的导电粉混合制成混合粉末，然后金相镶样、底部研磨、顶部研磨、样品固定与清洗、离子减薄，制备出可用于透射电镜观察的样品。采用本方法制备的大颗粒粉末透射电镜样品，在一个样品中很容易找到多个边缘具有薄区的大颗粒，实现原子分辨水平的高分辨像的观察，同时又避免了样品漂移或抖动造成的高分辨像不清晰问题；本方法制样周期短，操作简单，可实施性强，成本低廉。
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