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公开(公告)号:CN118212503A
公开(公告)日:2024-06-18
申请号:CN202410482072.8
申请日:2024-04-22
摘要: 本发明公开了一种基于抽样理论的绝缘子样本库质量评估方法,包括以下步骤:构建待评估的绝缘子串样本库;采用等概率抽样模型进行第一次抽样,通过预先训练好的YOLOv5模型对抽样图片进行识别,判断图片中标记的绝缘子串是否正确,并对正确标记和错误标记分别进行统计,根据统计结果计算待评估的绝缘子串样本库合格率的区间估计;当结果为不合格时,进行二次抽样,根据YOLOv5模型识别结果重新计算样本合格率;若不合格,则根据YOLOv5模型的识别结果重新标记,并更新待评估的绝缘子串样本库,以进行重新评估。本发明可以提高绝缘子质量评估的准确性、降低评估成本。