公开(公告)号：CN101173972A

公开(公告)日：2008-05-07

申请号：CN200710184831.9

申请日：2007-10-30

申请人： 国际商业机器公司 ,  索尼计算机娱乐公司

发明人： 桑格·H·唐 ,  布赖恩·弗拉克斯 ,  吉勒斯·格韦斯 ,  查尔斯·R·约翰斯 ,  布拉德·W·迈克尔 ,  爱川诚 ,  泷口严 ,  田村哲司

IPC分类号： G01R31/00 ,  G01R31/28 ,  G01R31/317 ,  G01R31/3173

CPC分类号： G01R31/3004

摘要： 本发明涉及用于测试电子设备中最小运行电压的方法和装置在一个实施例中，一种测试系统测试被测设备(DUT)。DUT包括执行内建自测(BIST)程序的内部测试控制器。内建自测程序包括基于阵列的自动内建自测程序、离散和组合逻辑内建自测程序、以及功能架构验证程序(AVP)。外部制造系统测试控制器管理DUT内的内部测试控制器，并且为向DUT供电的电源输入电压确定最小运行电压电平。逻辑仿真器提供建模能力，以进一步增强DUT的最小电压电源输入运行值的发展。