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公开(公告)号：CN118372174B
公开(公告)日：2024-10-22
申请号：CN202410497511.2
申请日：2024-04-24
申请人： 天津大学
摘要： 本发明公开了一种多反光学系统的光学性能测量及补偿抛光方法，包括如下步骤：1)确定待修面；2)波前像差测量；3)待修面面形解算；4)补偿抛光路径规划；5)补偿抛光。本发明的方法将多反光学系统中各镜面的面形偏差和位姿偏差归结到了一个镜面上进行评估和补偿，对装调引入的位姿偏差进行补偿，在确保多反光学系统的整体性能的基础上，极大的提高了补偿抛光效率。
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公开(公告)号：CN115741224B
公开(公告)日：2023-12-01
申请号：CN202211026926.9
申请日：2022-12-08
申请人： 天津大学
IPC分类号： B23Q15/04
摘要： 本发明涉及超精密加工领域，尤其涉及一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法及系统，所述一种超精密飞切刀具回转半径与回转角度误差修正方法包括：利用超精密飞切刀具进行试切处理得到超精密飞切刀具试切数据；利用所述超精密飞切刀具试切数据对超精密飞切刀具回转半径与回转角度进行误差修正处理，获得刀具回转半径和角度，实现刀具高精度对正效果。目前没有方法进行超精密飞切刀具参数对正，本发明中所述的方案，采用试切的方式，通过测量获得试切件在刀具三个切削角度下的切削高度差，通过数学计算确定刀具的回转半径及角度偏差，该方案只需在刀具装上后，通过试切确定出相对高度位置偏差即可，可实现较好的实际加工效果。
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公开(公告)号：CN112414676B
公开(公告)日：2022-02-11
申请号：CN202011225596.7
申请日：2020-11-05
申请人： 天津大学
摘要： 本发明涉及一种多自由曲面反射镜测量数据的评价计算方法，包括下列步骤：(1)使用多表面测量数据中所有表面的测量数据与多自由曲面反射系统的设计模型进行坐标配准，完成测量坐标系与模型坐标系的统一；(2)使用经过坐标配准后的各表面测量数据分别与各自面型的设计模型方程进行坐标配准，完成各表面面形与位置误差的评价。
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公开(公告)号：CN109151252A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201811010028.8
申请日：2018-08-31
申请人： 天津大学
CPC分类号： H04N5/04 , H04N5/2624 , H04N17/002
摘要： 本发明涉及一种小型化超短焦视觉成像检测装置，包括成像单元、至少一个微透镜阵列单元，照明光源，图像处理模块及显示模块，其特征在于，各个微透镜阵列拼接成一体后，在拼接后的周边布置照明光源，拼接后的微透镜阵列与成像单元直接贴合。
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公开(公告)号：CN118372174A
公开(公告)日：2024-07-23
申请号：CN202410497511.2
申请日：2024-04-24
申请人： 天津大学
摘要： 本发明公开了一种多反光学系统的光学性能测量及补偿抛光方法，包括如下步骤：1)确定待修面；2)波前像差测量；3)待修面面形解算；4)补偿抛光路径规划；5)补偿抛光。本发明的方法将多反光学系统中各镜面的面形偏差和位姿偏差归结到了一个镜面上进行评估和补偿，对装调引入的位姿偏差进行补偿，在确保多反光学系统的整体性能的基础上，极大的提高了补偿抛光效率。
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公开(公告)号：CN118258320A
公开(公告)日：2024-06-28
申请号：CN202410365221.2
申请日：2024-03-28
申请人： 天津大学
摘要： 本发明公开了一种多面光学元件轮廓测量方法，包括如下步骤：1)对扫描测量系统进行系统标定；2)对扫描测量系统进行对标实验；3)确定光学元件各面的最佳测量视角；4)获取光学元件的理论位姿；5)根据理论位姿和最佳测量角度规划扫描测量系统的测量路径，并按该测量路径对光学元件进行扫描测量，得到扫描测量结果；6)迭代测量光学元件的测量轮廓。本发明的测量方法对测量环境的要求低，测量精度高，成本低，具有极大的推广价值。
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公开(公告)号：CN117347008A
公开(公告)日：2024-01-05
申请号：CN202311291690.6
申请日：2023-10-08
申请人： 天津大学
摘要： 本发明涉及光学系统制造与检测领域，具体涉及一种光斑扫描系统性能优化方法及装置，所述一种光斑扫描系统性能优化方法包括：S1、利用同步棱镜获取待优化光学系统的光斑多角度图像；S2、利用所述待优化光学系统的光斑多角度图像获取待优化光学系统的光斑辐照数据；S3、根据所述待优化光学系统的光斑辐照数据完成性能优化，可获取光学系统的光学性能并进行评价，同时实时对光学系统中的两个关键部件进行位姿调整，从而实现性能最优的光学装调，该方法可实现一个装置进行全自动化性能评测‑位姿调控，极大增加了生产效率，并避免人工检测，解决激光扫描实际打印评测造成的资源浪费问题。
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公开(公告)号：CN116559174A
公开(公告)日：2023-08-08
申请号：CN202310496389.2
申请日：2023-05-05
申请人： 天津大学
摘要： 本发明公开了一种用于狭小空间内的大幅宽成像接收装置及方法，属于成像领域。其中，成像接收装置包括图像传感器、第一自由曲面反射镜、第二自由曲面反射镜、平面镜，信号处理芯片和计算机，图像传感器通过信号处理芯片与计算机电连接，图像传感器下安装有第一自由曲面反射镜，第一自由曲面反射镜与第二自由曲面反射镜的镜面相对，第二自由曲面反射镜的正下方安装有平面镜，平面镜与待测物体呈45度夹角倾斜。发明通过两个多次反射的自由曲面组成的光路压缩系统，减小系统工作距离，可在狭小工作距离下实现成像系统紧贴待测件进行检测，结构简化能够在30mm的狭小空间内布局系统进行大于500mm大幅面的图像获取与检测。
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公开(公告)号：CN115415886A
公开(公告)日：2022-12-02
申请号：CN202211056314.4
申请日：2022-08-30
申请人： 天津大学
摘要： 本发明涉及机械加工领域，尤其涉及一种内壁光学表面抛光路径计算方法，包括：利用待抛光工件坐标系建立与待抛光工件坐标系平行的机械臂坐标系；利用所述机械臂坐标系获取抛光路径基础矢量；利用所述抛光路径基础矢量得到内壁光学表面抛光路径，可对分布在侧壁的内壁光学表面进行抛光，且抛光方法能够实现表面加工纹理去除的效果，提升表面质量，解决内壁光学表面加工纹理去除中的空间小，位置灵活，且需要通过人工手抛进行纹理去除的费时费力，工艺不可控的难题。
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