一种乡村聚落单元分类方法和系统

    公开(公告)号:CN115563516A

    公开(公告)日:2023-01-03

    申请号:CN202211049411.0

    申请日:2022-08-30

    申请人: 天津大学

    摘要: 本发明提供一种乡村聚落单元分类方法和系统,其中,该方法包括:S1:获取全域乡村原始数据;S2:划定全域乡村聚落单元矢量边界;S3:构建乡村聚落单元多维评价指标体系;S4:对全域乡村聚落单元进行分类,划分乡村聚落单元类型;S5:根据各类型的综合特征,划定全域保留、改造、拆迁撤并的乡村聚落单元。本发明提供的乡村聚落单元分类方法和系统克服了现有乡村聚落单元分类技术方法的不足,在兼顾农业生产效率的基础上,提供一种尊重乡村聚落单元完整性、原真性价值的多维分类方法。

    基于纳米测量机的自适应白光扫描干涉测量方法

    公开(公告)号:CN105136019A

    公开(公告)日:2015-12-09

    申请号:CN201510219727.3

    申请日:2015-04-30

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B9/02

    摘要: 本发明涉及微结构光学测试技术领域,为实现在不损失精度的前提下尽可能缩短测量时间,提高大间断结构相关信息的测试效率。为此,本发明采取的技术方案是,基于纳米测量机的自适应白光扫描干涉测量方法,包括如下步骤:(1)纳米测量机初始化;(2)按照设置的扫描步长进行精细扫描并存储图像;(3)按照评价函数和离焦阈值判断所采集图像是否处于离焦扫描状态;(4)记录位置并存储图像;(5)当再次处于离焦状态时停止扫描,读取存储的上下表面有效图像;(6)绘制光强曲线图,计算相干峰位置,进行倾斜调整后获取被测结构高度信息。本发明主要应用于微结构光学测试。

    基于纳米测量与倾斜扫描白光干涉微结构测试系统及方法

    公开(公告)号:CN101975559B

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:CN201010274207.X

    申请日:2010-09-07

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 一种基于纳米测量与倾斜扫描白光干涉微结构测试系统及方法,系统有图像采集卡,数字CCD摄像机,显微光学系统,干涉物镜,可调倾斜工作台,PC机,纳米测量机,工作台倾斜控制器,通过光纤向显微光学系统提供光源的白光光源,PC机还分别连接图像采集卡和工作台倾斜控制器。方法是在纳米测量机的工作平台上固定可调倾斜工作台,将被测样品至于其上,由PC机控制纳米测量机带动可调倾斜工作台沿其倾斜角度完成扫描,CCD数字摄像机采集图像并由图像采集卡传至PC机进行后续处理;对于采集的图像进行追踪并进行干涉信号的提取后,进行零级干涉条纹的位置进行定位,最终确定表面形貌。本发明为无损的检测,消除了光源热效应的影响,可以实现0.1nm的位移分辨力。

    基于纳米测量与倾斜扫描白光干涉微结构测试系统及方法

    公开(公告)号:CN101975559A

    公开(公告)日:2011-02-16

    申请号:CN201010274207.X

    申请日:2010-09-07

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B11/24

    摘要: 一种基于纳米测量与倾斜扫描白光干涉微结构测试系统及方法,系统有图像采集卡,数字CCD摄像机,显微光学系统,干涉物镜,可调倾斜工作台,PC机,纳米测量机,工作台倾斜控制器,通过光纤向显微光学系统提供光源的白光光源,PC机还分别连接图像采集卡和工作台倾斜控制器。方法是在纳米测量机的工作平台上固定可调倾斜工作台,将被测样品至于其上,由PC机控制纳米测量机带动可调倾斜工作台沿其倾斜角度完成扫描,CCD数字摄像机采集图像并由图像采集卡传至PC机进行后续处理;对于采集的图像进行追踪并进行干涉信号的提取后,进行零级干涉条纹的位置进行定位,最终确定表面形貌。本发明为无损的检测,消除了光源热效应的影响,可以实现0.1nm的位移分辨力。

    基于白光相移干涉术的微结构形貌测试系统及测试方法

    公开(公告)号:CN101949692A

    公开(公告)日:2011-01-19

    申请号:CN201010274210.1

    申请日:2010-09-07

    申请人: 天津大学

    IPC分类号: G01B11/245

    摘要: 一种基于白光相移干涉术的微结构形貌测试系统及测试方法,系统有依次设置的数字CCD摄像机、显微光学系统、压电陶瓷驱动器、干涉物镜以及与压电陶瓷驱动器相连的压电陶瓷控制器,还有提供光源的白光光源和PC机,PC机通过图像采集卡与数字CCD摄像机连接,PC机通过图像采集卡还连接压电陶瓷控制器,干涉物镜的输入端对应于设置在隔振平台上的被测样品。方法是通过移相器带动干涉物镜对被测物体进行垂直扫描并记录采集的图像;通过重心法确定其重心;通过计算零级条纹上一位置处的相位信息,求得此位置与零级条纹位置的偏差;通过综合干涉信号的强度信息与相位信息以确定零级干涉条纹的位置。本发明测量效率高,扩展了测量范围,并提高了测量分辨力。