利用符号快速错误检测的硅后验证和调试

    公开(公告)号:CN107710166A

    公开(公告)日:2018-02-16

    申请号:CN201680034767.3

    申请日:2016-06-06

    Abstract: 公开了用于验证集成电路的改进的方法和结构,特别是由其构造的片上系统。我们将根据本公开的方法和结构称为符号快速错误检测或符号QED。符号QED的说明性特征包括:1)适用于任何片上系统(SoC)设计,只要包含至少一个可编程处理器;2)广泛适用于处理器内核、加速器和非内核组件内的逻辑漏洞;3)不需要故障复现;4)漏洞定位期间不需要人工干预;5)不需要跟踪缓冲区;6)不需要断言;和7)使用称为“变化检测器”的硬件结构,仅引入小面积占用。符号QED展示了:1)在设计阶段嵌入“变化检测器”的系统的(和自动的)方法;2)快速错误检测(QED)测试,以较短的错误检测延迟和高覆盖率检测漏洞;和3)形式化技术,根据漏洞检测实现漏洞定位和生成最小漏洞跟踪。

    利用符号快速错误检测的硅后验证和调试

    公开(公告)号:CN107710166B

    公开(公告)日:2021-06-18

    申请号:CN201680034767.3

    申请日:2016-06-06

    Abstract: 公开了用于验证集成电路的改进的方法和结构,特别是由其构造的片上系统。我们将根据本公开的方法和结构称为符号快速错误检测或符号QED。符号QED的说明性特征包括:1)适用于任何片上系统(SoC)设计,只要包含至少一个可编程处理器;2)广泛适用于处理器内核、加速器和非内核组件内的逻辑漏洞;3)不需要故障复现;4)漏洞定位期间不需要人工干预;5)不需要跟踪缓冲区;6)不需要断言;和7)使用称为“变化检测器”的硬件结构,仅引入小面积占用。符号QED展示了:1)在设计阶段嵌入“变化检测器”的系统的(和自动的)方法;2)快速错误检测(QED)测试,以较短的错误检测延迟和高覆盖率检测漏洞;和3)形式化技术,根据漏洞检测实现漏洞定位和生成最小漏洞跟踪。

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