测试用例的管理方法及系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118860897A

    公开(公告)日:2024-10-29

    申请号:CN202411203795.6

    申请日:2024-08-29

    发明人: 孙波 刘洁 张红兵

    IPC分类号: G06F11/36

    摘要: 本申请实施例提供了一种测试用例的管理方法及系统,其中,该方法应用于回归测试工具,包括:根据对映射文件进行解析的解析结果确定待验证的测试用例文件和所述测试用例文件对应的回归策略;基于所述测试用例文件和所述回归策略对所述测试用例文件进行仿真验证,得到验证结果;将所述验证结果发送至所述日志记录处理模块,并获取所述日志记录处理模块基于所述回归策略和所述验证结果所生成的处理指令;基于所述处理指令对所述测试用例的用例记录进行处理。通过本申请,解决了在测试用例的验证过程中,使用传统回归策略会产生大量用例日志,占用较多内存空间的技术问题。

    令牌添加数量的配置方法及装置、存储介质、电子设备

    公开(公告)号:CN118764437A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410766451.X

    申请日:2024-06-13

    IPC分类号: H04L47/215 H04L41/0803

    摘要: 本申请实施例提供了一种令牌添加数量的配置方法及装置、存储介质、电子设备,其中,该方法包括:确定目标芯片的时钟频率、整形速率和最小添加周期,其中,所述最小添加周期用于指示为所述目标芯片的令牌桶添加令牌的最小周期;根据所述时钟频率、整形速率和最小添加周期确定单次的令牌添加数量;根据所述令牌添加数量确定第一参数的数值和第二参数的数值,其中,所述令牌添加数量与所述第一参数和所述第二参数存在第一函数关系;在寄存器中配置所述第一参数的数值和所述第二参数的数值,以配置所述令牌添加数量。

    一种针对片上系统的时钟单元的检测方法和装置

    公开(公告)号:CN118673849A

    公开(公告)日:2024-09-20

    申请号:CN202410546402.5

    申请日:2024-04-30

    摘要: 本发明实施例提供了一种针对片上系统的时钟单元的检测方法和装置,通过确定时钟单元,以及与时钟单元对应的多路复用器、状态上报寄存器、更新寄存器和时钟使能寄存器;获取针对多路复用器的多路复用器配置信息;获取针对状态上报寄存器、更新寄存器和时钟使能寄存器的时钟分频汇总信息;采用多路复用器配置信息和时钟分频汇总信息确定目标场景,并生成针对目标场景的测试用例;确定时钟单元在目标场景下执行测试用例所生成的分频配置信息;生成针对分频配置信息的参考模型;采用参考模型对分频配置信息执行断言检测,从而实现了对时钟单元的输出信号进行自动验证,提升了针对时钟单元的检测效率。

    芯片覆盖率分析过程的调整方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN117875228A

    公开(公告)日:2024-04-12

    申请号:CN202410046520.X

    申请日:2024-01-11

    IPC分类号: G06F30/327 G06F30/33

    摘要: 本发明涉及芯片验证技术领域,公开了一种芯片覆盖率分析过程的调整方法、装置、设备及介质,该方法包括:对芯片进行覆盖率分析,得到覆盖率文件,并根据覆盖率文件,生成过滤文件;将过滤文件转换为目标文件;获取目标文件中硬件逻辑代码的注释信息、第一代码名单以及第二代码名单,其中,第一代码名单用于确定允许过滤的硬件逻辑代码,第二代码名单用于确定不允许过滤的硬件逻辑代码;根据注释信息、第一代码名单以及第二代码名单对目标文件进行调整,得到调整后的目标文件,并根据调整后的目标文件调整芯片覆盖率分析过程。本发明解决了由于过滤文件数据信息庞大、各类过滤掉的内容交叉,难以根据过滤文件调整覆盖率分析过程的问题。

    验证结果的获取方法和装置、存储介质及电子设备

    公开(公告)号:CN118473986A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410536254.9

    申请日:2024-04-29

    摘要: 本申请实施例提供了一种验证结果的获取方法和装置、存储介质及电子设备,其中,该方法包括:获取目标数据传输任务的任务配置和预设传输方向,其中,任务配置包括:所述第一数据的源地址、目的地址、数据长度;在确定发送次数与接收次数均与第一数据的预计传输次数M一致的情况下,通过任务配置对从源端口获取到的M个第二数据进行偏移处理,以去除M个第二数据对应的无效比特位,得到第一期望数据;通过任务配置对从目的端口获取到的M个第三数据进行偏移处理,以去除M个第三数据对应的无效比特位,得到第二期望数据;对第一期望数据和第二期望数据进行对比,以获取对目标数据传输任务的验证结果。

    一种芯片测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN118091369A

    公开(公告)日:2024-05-28

    申请号:CN202410233973.3

    申请日:2024-02-29

    发明人: 孙波 刘洁 张红兵

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本申请公开了一种芯片测试方法、系统、设备及计算机可读存储介质,涉及芯片技术领域,将测试数据的相应信息写入控制块;将控制块传输至对目标芯片进行模拟的参考模型;获取参考模型通过控制块对测试数据进行处理后得到的第一处理结果;记录测试数据及第一处理结果;将控制块的地址写入目标芯片;采集目标芯片通过控制块读取的目标数据并记录;获取目标芯片对目标数据进行处理后得到的第二处理结果并记录;对测试数据、目标数据、第一处理结果和第二处理结果进行分析,得到目标芯片的测试结果。本申请实现了对芯片的数据读取能力和数据处理能力进行了分析,与仅对芯片的数据处理能力相比,本申请的芯片测试更加全面,准确性更好。

    传输系统的数据包处理方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117834570A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202410239068.9

    申请日:2024-03-04

    摘要: 本发明提供了一种传输系统的数据包处理方法、装置、电子设备及存储介质,属于数据传输领域,应用于数据包处理装置,包括:响应于确定接收侧工作缓存的读指针和接收侧工作缓存的写指针不同,从接收侧工作缓存中获取网络数据传输发起方发送的外部描述符;根据外部描述符记载的物理地址获取数据包并根据外部描述符生成数据包对应的内部描述符;根据内部描述符对数据包进行核心处理;根据核心处理对应的核心处理结果对序列查找表中的数据传输序列进行后处理并根据序列查找表和数据包生成目标数据包;根据接收队列向处理器输出目标数据包。在GRO合并规则下支持数据包过滤和端CPU负载均衡,并提供对发送异常时的GRO序列打断与刷新重组能力。

    一种寄存器配置的统一控制方法、装置、设备及介质

    公开(公告)号:CN118409913A

    公开(公告)日:2024-07-30

    申请号:CN202410545083.6

    申请日:2024-04-30

    IPC分类号: G06F11/22

    摘要: 本申请公开了一种寄存器配置的统一控制方法、装置、设备及介质,涉及芯片验证技术领域,应用于验证平台,包括:基于寄存器描述文件并利用寄存器生成工具生成寄存器配置类和寄存器配置序列;寄存器配置类用于配置寄存器值,且包括所有寄存器域信息,寄存器配置序列用于对待测试单元中的寄存器进行配置;在测试用例中声明寄存器配置类,创建对应的目标实例并对其进行随机约束;基于句柄传递方法将随机后实例传递至寄存器配置序列,以便对待测试单元中的寄存器进行配置,并基于句柄传递方法将随机后实例传递至验证平台中的各待验证组件。通过上述技术方案,实现了验证平台对寄存器配置的统一控制,提高了验证效率。

    传输系统的数据包处理方法、装置、电子设备及存储介质

    公开(公告)号:CN117834570B

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410239068.9

    申请日:2024-03-04

    摘要: 本发明提供了一种传输系统的数据包处理方法、装置、电子设备及存储介质,属于数据传输领域,应用于数据包处理装置,包括:响应于确定接收侧工作缓存的读指针和接收侧工作缓存的写指针不同,从接收侧工作缓存中获取网络数据传输发起方发送的外部描述符;根据外部描述符记载的物理地址获取数据包并根据外部描述符生成数据包对应的内部描述符;根据内部描述符对数据包进行核心处理;根据核心处理对应的核心处理结果对序列查找表中的数据传输序列进行后处理并根据序列查找表和数据包生成目标数据包;根据接收队列向处理器输出目标数据包。在GRO合并规则下支持数据包过滤和端CPU负载均衡,并提供对发送异常时的GRO序列打断与刷新重组能力。

    一种仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118760603A

    公开(公告)日:2024-10-11

    申请号:CN202410946628.4

    申请日:2024-07-15

    IPC分类号: G06F11/36

    摘要: 本发明涉及芯片验证技术领域,公开了一种仿真验证方法、装置、计算机设备及存储介质,该方法包括:获取待验证模块的至少一个测试用例对应的第一仿真结果,第一仿真结果包括至少一个测试用例的第一覆盖率、待验证模块的多个未覆盖特性、每个未覆盖特性关联的多个第一测试用例以及输入激励参数;根据第一仿真结果,建立多个未覆盖特性、多个第一测试用例以及每个第一测试用例的输入激励参数之间的映射关系;根据目标未覆盖特性和映射关系,确定目标测试用例和目标测试用例的输入激励参数集合;基于输入激励参数集合和目标测试用例,进行仿真回归,直到目标未覆盖特性验证成功。本发明可以解决验证芯片的测试用例的覆盖率较低且提升缓慢的问题。