公开(公告)号：CN117929958A

公开(公告)日：2024-04-26

申请号：CN202410040706.4

申请日：2024-01-11

申请人： 常州工学院

发明人： 戴子豪 ,  柏昕言 ,  马彦农 ,  巫万源 ,  王浩清 ,  陈功 ,  王奕森 ,  黄丹丹 ,  张怡婷 ,  丁仲雅 ,  王婷婷

IPC分类号： G01R31/26

摘要： 本发明公开了一种LED灯故障工作状态快速检测方法，包括如下步骤：设置若干个灯箱并联为一个灯箱组，若干个灯箱组串联成一个灯箱行，在每个灯箱组上均安装电流传感器，在每个灯箱行上安装电压传感器，所述电流传感器连接电流数据采集器，所述电压传感器连接电压数据采集器；所述电流数据采集器和电压数据采集器连接单片机；通过单片机获取灯箱行的电压值并判断发生故障的灯箱行；通过单片机获取发生故障的灯箱行内各个灯箱组的电流值从而判断发生故障的灯箱组；对发生故障的灯箱组进行检查，判断灯箱组内发生故障的灯箱。本发明能够高时效、节能、低成本的保障灯箱阵列的安全运行，减少人工监测维护不便以及高温环境损耗等带来的运行成本。

公开(公告)号：CN117892041A

公开(公告)日：2024-04-16

申请号：CN202410067921.3

申请日：2024-01-17

申请人： 常州工学院

发明人： 王浩清 ,  李波逵 ,  陈功 ,  俞文杰 ,  黄丹丹 ,  丁梦瑾 ,  王婷婷 ,  章哲 ,  王奕森 ,  薛雯丽 ,  周珉毅 ,  赵英岐 ,  周志豪

IPC分类号： G06F17/11 ,  C23C14/35 ,  C23C14/54

摘要： 本发明公开了一种动态辨识改进灰关联模型磁控溅射工艺参数优化方法，该方法基于动态改变的辨识系数跟踪算法，构建具有动态辨识系数的改进灰关联度量化模型，准确提供磁控溅射工艺参数对薄膜的厚度和薄膜的透过率的影响程度，进而对磁控溅射工艺参数进行优化。本发明通过构建具有动态辨识系数的改进灰色关联度量化模型，能够实现辨识系数的自动化确定，能够准确提供磁控溅射工艺参数对薄膜的厚度和薄膜的透过率的影响程度，进而对磁控溅射工艺参数进行优化。

公开(公告)号：CN117824559A

公开(公告)日：2024-04-05

申请号：CN202310315758.3

申请日：2023-03-29

申请人： 常州工学院

发明人： 张咏旭 ,  王浩清 ,  陈功 ,  邹全 ,  陈宇靖 ,  冯雨哲 ,  李志隆 ,  豆雨健 ,  徐佳晨 ,  吴佳云 ,  柏昕言

IPC分类号： G01B21/08 ,  C23C14/54 ,  C23C14/35

摘要： 本发明属于测量膜厚实验装置技术领域，尤其是一种模拟测量磁控溅射镀膜膜厚实验装置，针对现有的磁控溅射的石英晶体测厚装置仅能在企业生产过程中进行调试，会影响企业的生产过程，且测试过程中难以对测试样品进行彻底粉碎，从而影响测试效果的问题，现提出如下方案，其包括外壳，所述外壳的一侧安装有通风管道，所述通风管道上安装有鼓风机，所述外壳的内壁上安装有环形底板，所述环形底板的顶部安装有三个震动弹簧，三个所述震动弹簧的顶端安装有同一个筛子。本发明操作简单，使用方便，能够便于对能够模拟磁控溅射镀膜过程以及石英晶体高精度测量，并降低测量时产生的误差，便于人们使用。

公开(公告)号：CN116990713A

公开(公告)日：2023-11-03

申请号：CN202310529722.5

申请日：2023-05-11

申请人： 常州工学院

发明人： 王浩清 ,  巫万源 ,  陈功 ,  陈桦 ,  金子杰 ,  卢建树 ,  胡忠义 ,  陶浩然 ,  朱羿 ,  马彦农 ,  戴子豪 ,  赵珺涵 ,  周军

IPC分类号： G01R31/44 ,  G01R19/165 ,  G09F13/04

摘要： 本发明公开了一种会展用多灯箱工作状态监测方法及其系统，包括如下步骤：在各个灯箱组上均安装电流传感器，在每个灯箱组内依次串联的若干个灯箱上交错设置若干个电压传感器一和电压传感器二，电压传感器一设置在每四个依次串联的灯箱之间，电压传感器二在间隔两个灯箱后设置在每四个依次串联的灯箱之间；获取灯箱组的电流值并判断发生故障的灯箱组；以及获取发生故障的灯箱组内各个灯箱的电压值从而判断灯箱组内发生故障的灯箱。本发明相比于传统模式，本模式所需的电压传感器较少，降低硬件的成本，检测的分辨率也小。