一种绝对式编码器、制作方法及使用方法

    公开(公告)号:CN115931017A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202310154565.4

    申请日:2023-02-23

    IPC分类号: G01D5/26

    摘要: 本发明涉及精密仪器测量的技术领域,更具体地说,它涉及一种绝对式编码器、制作方法及使用方法,其技术方案要点是:S1、制作码道;S2、依次组装所述码道、紫外辅助光源、安装台、荧光探测器、光学放大系统和PC端,获得编码器。本发明使用微纳增材制造进行码道的制造,充分发挥微纳增材制造工艺的优势,简单、轻易地实现连续自定义打印路径的规划,并且具有制造精度高、加工行程长、加工效率高的工艺优势,使用自发光量子点(具体材料为钙钛矿量子点)实现绝对式码道图案自发光,便于荧光探测器快速、准确采集到光信号,提高绝对式编码器测量的准确性。

    一种光栅尺测量误差动态补偿方法

    公开(公告)号:CN116108886A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202310121337.7

    申请日:2023-02-13

    摘要: 本发明提供一种光栅尺测量误差动态补偿方法,包括以下步骤:S1:构建误差补偿网络;S2:结合不同工作环境的干扰因素,分别根据所述误差补偿网络建立用于补偿不同工作环境下光栅尺测量误差的智能体;S3:根据预设的邻近阈值选取邻近智能体;S4:基于降维的贝叶斯层次模型对邻近智能体中的误差补偿网络进行迁移学习,快速得到用于补偿当前工作环境下光栅尺测量误差的目标智能体,从而实现光栅尺测量误差动态补偿。本发明提供一种光栅尺测量误差动态补偿方法,解决了现有的针对多误差因素综合补偿的方法难以在实际工作环境中取得精准的补偿效果的问题。

    一种基于深度学习的光栅尺自动定位译码方法

    公开(公告)号:CN116109702A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202310121340.9

    申请日:2023-02-13

    摘要: 本发明提供一种基于深度学习的光栅尺自动定位译码方法,包括以下步骤:S1:构建码道粗定位译码模型和码道细定位译码模型,S2:从输入的光栅尺图像中获取码道二值化图像和码元中心横坐标,从光栅尺图像中获取尾端码元定位二值图像;S3:根据码道二值化图像和码元中心横坐标解译出光栅尺图像的粗位置信息,根据尾端码元定位二值图像解译出光栅尺图像的细位置信息;S4:根据光栅尺图像的码元宽度、粗位置信息和细位置信息得到绝对位置信息作为自动定位译码结果。本发明提供一种基于深度学习的光栅尺自动定位译码方法,解决了现有的码道定位技术制约了光栅尺定位译码精确性的问题。