一种太赫兹时域光谱仪中材料参数提取方法和系统

    公开(公告)号:CN118464840A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410608368.X

    申请日:2024-05-16

    Abstract: 本发明公开了一种太赫兹时域光谱仪中材料参数提取方法和系统,包括:获取待检测材料的太赫兹时域波形;根据预设材料参数提取网络,对所述太赫兹时域波形进行参数提取,得到待检测材料的物理参数;其中,所述预设材料参数提取网络是将通过物理模型仿真不同材料参数对应的参考信号和样品信号传入卷积神经网络而训练得到的;所述样品信号是通过迁移矩阵法处理参考信号和材料特征矩阵而获取的;所述参考信号是通过双边指数函数建模而获取的。本发明通过预设材料参数提取网络自动学习太赫兹信号的特征表示,能够充分挖掘信号中蕴含的材料信息,在低信噪比和强散射等非理想测量条件下,能够更准确地提取材料物理参数。

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