-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN117030642A
公开(公告)日：2023-11-10
申请号：CN202311036837.7
申请日：2023-08-16
Applicant: 广州大学
IPC: G01N21/31
Abstract: 本发明提供了一种材料成膜过程的吸收光谱测量装置及其使用方法，涉及薄膜样品吸收光谱测试技术领域，包括：旋涂组件，用于使样品旋涂成膜；光源组件，位于旋涂组件上方，用于提供向旋涂组件的测试光源；测试光路，光源组件发出光源，经测试光路穿过旋涂组件并传输到光谱仪；光隔绝箱，用于隔绝环境光，旋涂组件、光源组件和测试光路均位于光隔绝箱内。本发明通过构建了能对于材料从液态膜到固态薄膜过程的吸收光谱测量装置，得到薄膜样品在旋涂过程中的吸收光谱，进一步研究薄膜成膜的过程，了解材料在旋涂过程中吸收光谱的变化，提高研究成果的质量和可靠性。
-
公开(公告)号：CN117007560A
公开(公告)日：2023-11-07
申请号：CN202311034399.0
申请日：2023-08-16
Applicant: 广州大学
Abstract: 本发明提供了一种材料成膜过程的原位发光光谱测量装置及其使用方法，涉及薄膜样品发光光谱测试技术领域，包括：旋涂组件，用于使样品旋涂成膜；光源组件，位于旋涂组件上方，用于提供向旋涂组件的测试光源；测试光路，包括二向色镜位于光源组件与旋涂组件之间，光源组件发光穿过二向色镜到旋涂组件上，使样品激发光并投射至二向色镜，二向色镜将发射光反射并传输到光谱仪；光隔绝箱，用于隔绝环境光，旋涂组件、光源组件和测试光路均位于光隔绝箱内。本发明通过构建了能对于材料从液态膜到固态薄膜过程的发光光谱测量装置，得到薄膜样品在旋涂过程中的发光光谱，可研究薄膜成膜的过程，了解材料旋涂过程中发光光谱，提高研究成果的可靠性。
-
公开(公告)号：CN212693587U
公开(公告)日：2021-03-12
申请号：CN202020822363.4
申请日：2020-05-18
Applicant: 广州大学
IPC: G01N21/31
Abstract: 本实用新型公开了一种飞秒时间分辨吸收光谱探测系统，其中，激光脉冲光源发射的飞秒脉冲光经第一分束片分束，其中一束作为泵浦光，其经第一倍频BBO晶体后产生倍频脉冲光，然后经第一透镜聚焦后传输至被测样品的表面；另一束再经第二分束片分成第一、二分束光，第一分束光经第二倍频BBO晶体产生倍频脉冲光，经过第一反射镜、第二透镜和第一带孔平面镜后传输至第三倍频BBO晶体，第二分束光经超连续白光产生组件产生超连续白光，然后穿过第一带孔平面镜后传输至第三倍频BBO晶体，并与倍频脉冲光重叠从而产生放大的白光，再经第三分束片分束，一束进入探测器，另一束作为探测光和参考光，被光谱仪收集。本实用新型可以提高系统光谱信号的探测灵敏度。
-
公开(公告)号：CN210037588U
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201920698540.X
申请日：2019-05-16
Applicant: 广州大学
IPC: G01N21/31
Abstract: 本实用新型涉及一种吸收光谱测试系统，其包括，转轮式光源(1)、第一透镜(2)、第一光阑(3)、样品架(4)、第二光阑(5)、第二透镜(6)、光强度传感器(7)、单片机模块以及显示模块；该系统采用转轮式光源结构，可以实现探测物体对不同波长光的吸收，且在其探测光路上透镜的设置，使光源呈平行光出射，透过物体后经凸透镜汇聚到光强度传感器上，减少待测物体折射对测量的影响；另外该系统采用单片机最小系统，可以实现实时数字化显示数值；整体来看该测试系统结合了日常生活例如农业探测领域的特点，采用常规的光学部件，其探测光路简单紧凑，构成的吸收光谱测试系统结构简单，造价便宜，且携带方便。
-
公开(公告)号：CN209820631U
公开(公告)日：2019-12-20
申请号：CN201920704282.1
申请日：2019-05-16
Applicant: 广州大学
Abstract: 本实用新型涉及一种便携式低成本光谱仪，该光谱仪在入光口位置通过光阑的约束以及透镜的汇聚从而使外部入射的发散光变为平行光，同时采用平面反射镜组通过反射作用使不同波长的光之间的水平位移增大，再分别经过透镜聚焦到光强度传感器上进行光强度检测，从而使分光更明显且实现同时测量，且该光谱仪所使用的部件较为常规，其成本较低，相比较市面上的光谱仪大多昂贵厚重，本实用新型的光谱仪造价便宜，且其体积较小，携带方便，适应广泛应用于日常的农业生产探测中。
-
-
-
-
Search Results
5
records
(took 0.013 seconds)
