一种绝缘纸厚度测试方法、系统、设备及存储介质

    公开(公告)号:CN118463819A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202410283679.3

    申请日:2024-03-13

    摘要: 本发明公开了一种绝缘纸厚度测试方法、系统、设备及存储介质,涉及绝缘纸厚度测试技术领域,包括获取单层绝缘纸样品和多层绝缘纸样品;分别测量单层绝缘纸样品和多层绝缘纸样品的厚度以及对应的近红外光谱;建立单层绝缘纸样品的厚度与对应的近红外光谱之间的线性模型;建立多层绝缘纸样品的厚度与对应的近红外光谱之间的分类模型;采集不同应用场景下的待测绝缘纸的近红外光谱,将待测绝缘纸的近红外光谱代入至对应的线性模型或分类模型,对待测绝缘纸的厚度进行测试。本发明相比于X射线具有使用安全性好,便携性好。相比于超声技术,本发明方法测厚准确度和穿透性都较好。应用漫反射光谱测试,相比于太赫兹技术,不受测试角度和形状限制。

    一种金属微粒研究实验平台
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118059977A

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN202311441585.6

    申请日:2023-11-01

    IPC分类号: B01L9/02 G01N15/00

    摘要: 本发明涉及物理实验设备技术领域,尤其是一种金属微粒研究实验平台,包括,延展组件,所述延展组件包括平台主体、固定连接于所述平台主体顶部的台面以及与所述台面连接的延伸台,所述平台主体内壁开设有第一滑槽,所述台面包括第一螺纹槽和紧固螺栓,所述第一螺纹槽开设于所述台面一侧,所述紧固螺栓与所述第一螺纹槽螺纹连接。本发明装置通过延展组件能够使得该实验平台的台面能够根据实验需求进行延展,从而方便实验操作的进行,具有更好的实用性。

    一种基于可串并联等效电容矩阵的阻抗匹配方法及系统

    公开(公告)号:CN117833850A

    公开(公告)日:2024-04-05

    申请号:CN202311545657.1

    申请日:2023-11-17

    IPC分类号: H03H7/38

    摘要: 本发明公开了一种基于可串并联等效电容矩阵的阻抗匹配方法及系统包括,预设针对分岔线的第一串并联等效匹配电路,获取注入的电缆信号经过串并联等效匹配电路处理后的第一反射系数,第一串并联等效匹配电路包括在分岔线的支路电感与旁路电容两侧,整体并联电容器矩阵;判断第一反射系数与第一阈值的大小,根据第一串并联等效匹配电路中的电容矩阵进行电容配置,得到第二串并联等效匹配电路;获取注入的电缆信号经过第二串并联等效匹配电路处理后的第二反射系数,若第二反射系数满足阈值,则基于可串并联等效电容矩阵的阻抗匹配成功。可以有效改善信号线与电力电缆之间由于阻抗不匹配而产生的问题,提高信号的注入效率。