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公开(公告)号：CN101442285A
公开(公告)日：2009-05-27
申请号：CN200810176345.7
申请日：2008-11-20
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
IPC分类号： H02P6/14
CPC分类号： H02P25/08 , H02P6/16 , H02P25/089
摘要： 一种电驱动系统，其包括由电子控制器控制的电机，并需要代表与该电机的运行相关联的量的控制信号。这些信号可能代表，例如，转子位置和磁通量或电流。一种控制器包括估测程序，以便使用电机的已知磁性和转子位置信号来提供对电流或者供电电压的估测。
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公开(公告)号：CN100508360C
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：CN200510084097.X
申请日：2005-07-12
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
发明人： M·P·坦卡德
IPC分类号： H02P6/16
摘要： 一种具有转子位置传感器的电机，所述传感器对控制系统提供输出信号。该输出信号包括由于部件缺陷和制造缺陷而导致的误差。公开了一种方法，该方法能够通过与校准的数据的比较而确定信号中的误差，从而对电机的控制系统提供校正。该校正可以被存储在控制系统中，并被用于改进传感器输出信号的精确度，从而改善了电机的输出。
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公开(公告)号：CN1719719A
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN200510080756.2
申请日：2005-06-30
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
IPC分类号： H02P6/16
CPC分类号： H02P6/18 , H02P25/089
摘要： 一种电机，所述电机具有提供输出信号给控制系统的转子位置传感器。所述输出信号包含由于元件缺陷和制造缺点而造成的误差。本发明公开了一种方法，其能够通过使用位置检测算法来确定所述信号中的所述误差，以便提供对所述电机的所述控制系统的补偿。所述补偿可以被存储在所述控制系统中，并被用来提高所述传感器输出信号的精度，从而改进所述电机的输出。
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公开(公告)号：CN1302613C
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：CN03156280.9
申请日：2003-09-02
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
CPC分类号： H02K11/00 , G01R15/181 , G01R31/343 , H01F5/003 , H02P25/092
摘要： 测量开关磁阻电机中的电流变化率的方法和装置。一个线圈由印刷电路板的两个或多个轨迹42、43构成，并被安排得接近于导体50，以测量导体中的电流变化率。线圈的每匝在平行于导体的方向上位移开与其相邻的匝。线圈的输出可以被用来为开关磁阻驱动装置中的位置探测方案提供探测信号。
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公开(公告)号：CN1728536A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：CN200510084098.4
申请日：2005-07-12
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
IPC分类号： H02P6/16
CPC分类号： H02P25/08
摘要： 一种具有转子位置传感器的电机，所述传感器对控制系统提供输出信号。所述输出信号包括由于部件缺陷和制造缺陷而导致的误差。公开了一种方法，所述方法通过连续运行rpt信号中具有一组假设误差的电机、并形成一组测试结果，而可以确定信号中的误差。随后可以将这些结果互相比较，从而确定电机的控制系统的最优校正值。可以将所述校正值存储在控制系统中，并用于改进传感器输出信号的精确度，从而改善了电机的输出。
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公开(公告)号：CN1728535A
公开(公告)日：2006-02-01
申请号：CN200510084097.X
申请日：2005-07-12
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
发明人： M·P·坦卡德
IPC分类号： H02P6/16
摘要： 一种具有转子位置传感器的电机，所述传感器对控制系统提供输出信号。该输出信号包括由于部件缺陷和制造缺陷而导致的误差。公开了一种方法，该方法能够通过与校准的数据的比较而确定信号中的误差，从而对电机的控制系统提供校正。该校正可以被存储在控制系统中，并被用于改进传感器输出信号的精确度，从而改善了电机的输出。
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公开(公告)号：CN1487663A
公开(公告)日：2004-04-07
申请号：CN03156280.9
申请日：2003-09-02
申请人： 开关磁阻驱动有限公司
CPC分类号： H02K11/00 , G01R15/181 , G01R31/343 , H01F5/003 , H02P25/092
摘要： 测量开关磁阻电机中的电流变化率的方法和装置。一个线圈由印刷电路板的两个或多个轨迹42、43构成，并被安排得接近于导体50，以测量导体中的电流变化率。线圈的每匝在平行于导体的方向上位移开与其相邻的匝。线圈的输出可以被用来为开关磁阻驱动装置中的位置探测方案提供探测信号。
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