-
公开(公告)号：CN103140741A
公开(公告)日：2013-06-05
申请号：CN201180047277.4
申请日：2011-08-12
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/20
CPC分类号： G01B7/14 , G01D5/14 , G01R33/1223
摘要： 本发明涉及一种用于检测磁场的方法，特别用于通过连接到电子器件（5）的优选为椭圆形的软磁元件（2）来检测物体（3）的位置，其中电子器件用于测量软磁材料的阻抗，其特征在于，根据物体的位置来使用磁场，该物体位于关于软磁材料的装置中，软磁材料在其位置调整磁场，从而所述软磁材料的磁导率（μ）根据所述磁场并且从而根据所述物体（3）的位置（d）被调整。合适设计的设备（1）用于应用根据本发明的方法。
-
公开(公告)号：CN101027537B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200580031527.X
申请日：2005-07-19
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/20
CPC分类号： G01D5/202 , G01D5/2033
摘要： 本发明涉及一种用于检测测试对象(5)相对于传感器的位置和速度的装置和方法，传感器(1)和测试对象(5)被排列成使得它们能相对于彼此位移。传感器(1)包括具有至少一个、较佳地为多个电压分接头(4)的测量线圈(2)和放置在测试对象(5)上同时电磁耦合于测量线圈(2)的靶(7)。用于累加在传感器(1)上分接的电压的电子部件(6)被分派给传感器。对于传感器的最简单的可能设计，本发明的特征是同时测量位置和速度，靶(7)包括两部分(8、10)，一部分(8)由导电材料制成，而另一部分以磁体(10)的形式提供，且求值电路(11)基于用于累加分接的电压的电子部件(6)的输出信号来确定与靶位置成比例的电压分量Up和与靶速度成比例的电压分量Uv。
-
公开(公告)号：CN102246006B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN200980151622.1
申请日：2009-11-17
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/243
CPC分类号： G01D5/243 , G01D5/2216
摘要： 一种用于评估一个传感器的电路系统，此电路系统包括两个复阻抗(2，3，13，14)，所述复阻抗(2，3，13，14)分别为谐振电路的部件，其中，所述复阻抗(2，3，13，14)可以被激发以执行振荡，以及其中，所述两个复阻抗(2，3，13，14)中的至少一个为所述传感器的部件，其特征在于特别高效率低成本且电路设计尽可能简单，其中提供计数器(9，18)和开关装置(8，16).可以使用计数器(9，18)交替地对所述两个振荡电路的其中一个的振荡进行计数，当达到可指定的计数器读出后，可以开关所述开关装置(8，16)，并将所述开关装置的开关信号用作所述电路系统的脉宽调制的输出信号(11，21)。
-
公开(公告)号：CN101341377A
公开(公告)日：2009-01-07
申请号：CN200480033985.2
申请日：2004-10-28
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/20
CPC分类号： G01D5/2013 , G01D5/202
摘要： 本发明涉及非接触位移测量系统，该系统包括可用交流电流来供电的测量线圈(1)，所述测量线圈(1)具有至少两个电压抽头(7)。该系统还包括分配给传感器(2)的导电和/或导磁的测量物体(4)以及评定电路(3)。传感器(2)和测量物体(4)在测量线圈(1)的纵向方向可彼此相对移位。本发明的特征在于，测量物体(4)具有至少一个影响两个电压抽头(7)之间的测量线圈(1)的阻抗的标记(8)，使得评定电路(3)可产生与待测物体(4)相对于电压抽头(7)的位置相关的输出信号(9)。
-
公开(公告)号：CN1774615A
公开(公告)日：2006-05-17
申请号：CN200480010313.X
申请日：2004-02-17
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
摘要： 一种导电且优选为齿形面(22)相对一传感器(3)的运动参数的一种测定方法和装置，而所述传感器包括至少一产生一交变电磁场的线圈(16)，所述电磁场由于在所述齿形面(22)和所述传感器(3)之间的位置变化引起的反馈而经历一可通过所述线圈(16)测定的变化，所述方法和装置这样设置以致于所述位置变化由所述线圈(16)的耦合阻抗(Zc)导出，而且利用一在所述传感器(3)和所述齿形面(22)之间的距离d来测定所述线圈(16)的复耦合阻抗(Zc)的实数部份(Rc)和虚数部份(Xc)，所述距离d基于所述测定值且同时采用一算法为基来计算。
-
公开(公告)号：CN103140741B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201180047277.4
申请日：2011-08-12
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/20
CPC分类号： G01B7/14 , G01D5/14 , G01R33/1223
摘要： 本发明涉及一种用于检测磁场的方法，特别用于通过连接到电子器件（5）的优选为椭圆形的软磁元件（2）来检测物体（3）的位置，其中电子器件用于测量软磁材料的阻抗，其特征在于，根据物体的位置来使用磁场，该物体位于关于软磁材料的装置中，软磁材料在其位置调整磁场，从而所述软磁材料的磁导率（μ）根据所述磁场并且从而根据所述物体（3）的位置（d）被调整。合适设计的设备（1）用于应用根据本发明的方法。
-
公开(公告)号：CN100402983C
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN200480010313.X
申请日：2004-02-17
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
摘要： 一种导电且优选为齿形面(22)相对一传感器(3)的运动参数的一种测定方法和装置，而所述传感器包括至少一产生一交变电磁场的线圈(16)，所述电磁场由于在所述齿形面(22)和所述传感器(3)之间的位置变化引起的反馈而经历一可通过所述线圈(16)测定的变化，所述方法和装置这样设置以致于所述位置变化由所述线圈(16)的耦合阻抗(Zc)导出，而且利用一在所述传感器(3)和所述齿形面(22)之间的距离d来测定所述线圈(16)的复耦合阻抗(Zc)的实数部份(Rc)和虚数部份(Xc)，所述距离d基于所述测定值且同时采用一算法为基来计算。
-
公开(公告)号：CN101027537A
公开(公告)日：2007-08-29
申请号：CN200580031527.X
申请日：2005-07-19
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/20
CPC分类号： G01D5/202 , G01D5/2033
摘要： 本发明涉及一种用于检测测试对象(5)相对于传感器的位置和速度的装置和方法，传感器(1)和测试对象(5)被排列成使得它们能相对于彼此位移。传感器(1)包括具有至少一个、较佳地为多个电压分接头(4)的测量线圈(2)和放置在测试对象(5)上同时电磁耦合于测量线圈(2)的靶(7)。用于累加在传感器(1)上分接的电压的电子部件(6)被分派给传感器。对于传感器的最简单的可能设计，本发明的特征是同时测量位置和速度，靶(7)包括两部分(8、10)，一部分(8)由导电材料制成，而另一部分以磁体(10)的形式提供，且求值电路(11)基于用于累加分接的电压的电子部件(6)的输出信号来确定与靶位置成比例的电压分量Up和与靶速度成比例的电压分量Uv。
-
公开(公告)号：CN103547896A
公开(公告)日：2014-01-29
申请号：CN201280022419.6
申请日：2012-03-16
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
CPC分类号： G01K1/20 , F16D2066/001 , G01K7/36 , G01K13/08
摘要： 一种以非接触方式工作的涡流传感器，用于导电性测量对象或元件的温度测量，其中，所述测量独立于传感器和测量对象/元件之间的距离，其特征在于，优选地在传感器的测量线圈的位置确定传感器的内在温度，且其中补偿了由于测量对象或元件的温度测量所引起的对传感器的内在温度的影响或者传感器中的温度梯度的影响。一种系统包括相应的传感器和导电测量对象。一种方法利用了相应的传感器来对测量对象或元件进行温度测量。
-
公开(公告)号：CN102246006A
公开(公告)日：2011-11-16
申请号：CN200980151622.1
申请日：2009-11-17
申请人： 微-埃普西龙测量技术有限两合公司
IPC分类号： G01D5/243
CPC分类号： G01D5/243 , G01D5/2216
摘要： 一种用于评估一个传感器的电路系统，此电路系统包括两个复阻抗(2，3，13，14)，所述复阻抗(2，3，13，14)分别为谐振电路的部件，其中，所述复阻抗(2，3，13，14)可以被激发以执行振荡，以及其中，所述两个复阻抗(2，3，13，14)中的至少一个为所述传感器的部件，其特征在于特别高效率低成本且电路设计尽可能简单，其中提供计数器(9，18)和开关装置(8，16).可以使用计数器(9，18)交替地对所述两个振荡电路的其中一个的振荡进行计数，当达到可指定的计数器读出后，可以开关所述开关装置(8，16)，并将所述开关装置的开关信号用作所述电路系统的脉宽调制的输出信号(11，21)。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
搜索结果
11 条记录 (耗时 0.033 秒)