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公开(公告)号：CN108694130B
公开(公告)日：2023-07-25
申请号：CN201810269584.0
申请日：2018-03-29
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
Inventor： 冈田敏治
IPC: G06F12/02
Abstract: 【目的】本发明的目的在于提供抑制管理信息的容量增加并能增加实际使用上的存储容量的存储器系统及存储器的管理方法。【构成】具有：存储器单元阵列，形成有各自包含多个存储器单元的多个块；以及控制器，按各自包含k个（k为2以上的整数）块的多个管理组的每一个，生成对应在管理组内存在不良块的情况下表示不良的状态信息而加以示出的物理块信息，控制器按多个管理组之中与表示不良的状态信息对应的每个管理组，设定该管理组所包含的k个块之中的不良块以外的块作为再利用块，在按每个管理组设定的再利用块的总数成为k个的情况下将k个再利用块作为新的管理组进行设定。
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公开(公告)号：CN108694130A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810269584.0
申请日：2018-03-29
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
Inventor： 冈田敏治
IPC: G06F12/02
CPC classification number: G06F3/0659 , G06F3/0616 , G06F3/0619 , G06F3/064 , G06F3/0679 , G06F12/0246
Abstract: 本发明的目的在于提供抑制管理信息的容量增加并能增加实际使用上的存储容量的存储器系统及存储器的管理方法。具有：存储器单元阵列，形成有各自包含多个存储器单元的多个块；以及控制器，按各自包含k个（k为2以上的整数）块的多个管理组的每一个，生成对应在管理组内存在不良块的情况下表示不良的状态信息而加以示出的物理块信息，控制器按多个管理组之中与表示不良的状态信息对应的每个管理组，设定该管理组所包含的k个块之中的不良块以外的块作为再利用块，在按每个管理组设定的再利用块的总数成为k个的情况下将k个再利用块作为新的管理组进行设定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110739022B
公开(公告)日：2024-08-02
申请号：CN201910654135.2
申请日：2019-07-19
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
Inventor： 冈田敏治
Abstract: 本发明涉及半导体存储器装置。提供了能够在短时间内输出示出存储器单元的通常块和缺陷块的配置关系的数据序列的半导体存储器装置。具有：存储器部，包括具有每一个由多个存储器单元构成的多个存储器块的通常存储器区域、以及具有用于置换多个存储器块之中的作为包括缺陷单元的存储器块的缺陷块的冗余块的冗余存储器区域；存储部，将示出通常存储器区域中的缺陷块的位置的缺陷地址信息与作为该缺陷块的置换对象的冗余块的位置对应起来存储；以及输出电路，根据数据读出信号，基于存储部中存储的信息，输出示出通常存储器区域的至少一部分的区域中的缺陷块与缺陷块以外的块的配置关系的由2值的数据构成的数据序列。
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公开(公告)号：CN110739021A
公开(公告)日：2020-01-31
申请号：CN201910654147.5
申请日：2019-07-19
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
Inventor： 冈田敏治
Abstract: 本发明涉及半导体存储器的测试方法。提供了能够一边抑制性能的偏差一边制造半导体存储器的半导体存储器的测试方法。具有：测定多个存储器单元的电气特性的步骤；基于测定值来检测缺陷单元的步骤；将包括规定数以上缺陷单元的存储器块判定为缺陷块的步骤；判定缺陷块的数量是否为第1阈值以上的步骤；在缺陷块的数量为第1阈值以上的情况下将半导体存储器判定为次品的步骤；在判定为第1阈值不足的情况下将缺陷块的数量与第2阈值进行比较的步骤；在判定为缺陷存储器块的数量为第2阈值不足的情况下变更测定条件来重复执行一连串步骤的步骤；以及通过与向其他块的访问不同的方法来管理向缺陷块的访问的步骤。
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公开(公告)号：CN110739022A
公开(公告)日：2020-01-31
申请号：CN201910654135.2
申请日：2019-07-19
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
Inventor： 冈田敏治
Abstract: 本发明涉及半导体存储器装置。提供了能够在短时间内输出示出存储器单元的通常块和缺陷块的配置关系的数据序列的半导体存储器装置。具有：存储器部，包括具有每一个由多个存储器单元构成的多个存储器块的通常存储器区域、以及具有用于置换多个存储器块之中的作为包括缺陷单元的存储器块的缺陷块的冗余块的冗余存储器区域；存储部，将示出通常存储器区域中的缺陷块的位置的缺陷地址信息与作为该缺陷块的置换对象的冗余块的位置对应起来存储；以及输出电路，根据数据读出信号，基于存储部中存储的信息，输出示出通常存储器区域的至少一部分的区域中的缺陷块与缺陷块以外的块的配置关系的由2值的数据构成的数据序列。
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公开(公告)号：CN103595311B
公开(公告)日：2018-02-06
申请号：CN201310350625.6
申请日：2013-08-13
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
IPC: H02P6/08
Abstract: 本发明提供一种即使利用较为廉价且处理能力低的微控制器也能够容易地生成任意的控制信号的半导体装置、电子设备以及控制信号生成方法。在电机控制系统（12）的微控制器（20）中，PWM装置（30）具备PWM设定寄存器（34）。PWM设定寄存器（34）具备占空比更新周期寄存器（54）、占空比更新值寄存器（56）以及占空比更新次数寄存器（58）。PWM生成部（32）根据PWM设定寄存器的各寄存器中设定的值生成并输出PWM信号。在PWM装置进行软开关控制动作时，即使没有基于软件（39（CPU36））的中断，也能够利用PWM生成部根据PWM设定寄存器中设定的值来自动地生成并输出PMW信号。
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公开(公告)号：CN103595311A
公开(公告)日：2014-02-19
申请号：CN201310350625.6
申请日：2013-08-13
Applicant: 拉碧斯半导体株式会社
IPC: H02P6/08
Abstract: 本发明提供一种即使利用较为廉价且处理能力低的微控制器也能够容易地生成任意的控制信号的半导体装置、电子设备以及控制信号生成方法。在电机控制系统（12）的微控制器（20）中，PWM装置（30）具备PWM设定寄存器（34）。PWM设定寄存器（34）具备占空比更新周期寄存器（54）、占空比更新值寄存器（56）以及占空比更新次数寄存器（58）。PWM生成部（32）根据PWM设定寄存器的各寄存器中设定的值生成并输出PWM信号。在PWM装置进行软开关控制动作时，即使没有基于软件（39（CPU36））的中断，也能够利用PWM生成部根据PWM设定寄存器中设定的值来自动地生成并输出PMW信号。
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