主机控制的电子装置测试
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118749118A

    公开(公告)日:2024-10-08

    申请号:CN202380023593.0

    申请日:2023-03-14

    IPC分类号: G11C29/02 G11C29/12 G06F3/06

    摘要: 电子装置可以经配置以使主机能够间接控制与所述电子装置相关联的测试。所述主机与所述电子装置之间的接口可以是抽象的,使得所述主机不能直接控制所述电子装置。所述电子装置的实例包含存储器装置和功率管理集成电路。所述电子装置可以允许所述主机发现所述电子装置所支持的测试数量和相应测试描述符。所述电子装置可以与所述主机交互以配置测试和/或测试结果的报告。

    使用缩放的错误计数信息的错误计数报告方法,以及采用所述方法的存储器装置

    公开(公告)号:CN118629480A

    公开(公告)日:2024-09-10

    申请号:CN202410744077.3

    申请日:2019-07-12

    IPC分类号: G11C29/02 G11C29/42 G06F11/10

    摘要: 本公开涉及使用缩放的错误计数信息的错误计数报告方法,以及采用所述方法的存储器装置。提供了一种设备,其包括存储器阵列,所述存储器阵列包含以多个列和多个行布置的多个存储器单元。所述设备进一步包括经配置以进行以下操作的电路系统:对所述存储器阵列执行错误检测操作以确定检测到的错误的原始计数,将所述检测到的错误的原始计数与阈值进行比较以确定超出阈值的量,根据缩放算法缩放所述超出阈值的量以确定缩放的错误计数,并且将所述缩放的错误计数存储在用户可访问的存储位置中。

    用于存储器模块的动态随机存取存储器(DRAM)部件

    公开(公告)号:CN112687304B

    公开(公告)日:2024-09-06

    申请号:CN202010905199.8

    申请日:2015-10-28

    摘要: 本公开的实施例涉及用于存储器模块的动态随机存取存储器(DRAM)部件。该存储器模块包括模块接口;第一存储器部件堆叠,包括第一数据接口,被耦合到模块接口;以及第二数据接口;第二存储器部件堆叠,包括第三数据接口,被耦合到第一堆叠的所述第二数据接口,其中所述第二数据接口和所述第三数据接口利用线性链中的点对点拓扑被连接;以及第四数据接口;以及命令和地址(CA)接口,被耦合到所述第一堆叠和第二堆叠,其中,所述CA接口用于从存储器控制器接收第一命令和第二命令;控制所述模块接口处的第一访问插槽的定时,以用于与所述第一命令相关的数据;以及控制所述模块接口处的第二访问插槽的定时,以用于与所述第二命令相关联的数据。

    执行漏电检测操作的存储器件
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118486353A

    公开(公告)日:2024-08-13

    申请号:CN202410110522.0

    申请日:2024-01-25

    发明人: 李泫怡 金完东

    摘要: 在一些实施例中,一种存储器件包括:存储单元阵列,包括多个存储块,该多个存储块包括多条字线;传输晶体管电路,包括耦接到多条字线的多个传输晶体管;行解码器,被配置为向多个传输晶体管的第一端子提供块选择电压,并向多个传输晶体管的第二端子提供驱动电压;电压发生器,被配置为生成块选择电压和驱动电压;以及控制电路,被配置为控制行解码器和电压发生器,对多个存储块中的目标存储块执行漏电检测操作,将目标存储块的多条第一检测字线设置为第一电压电平,并将目标存储块的多条第二检测字线设置为第二电压电平。

    具有冗余控制线驱动器的非易失性存储器

    公开(公告)号:CN118235207A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202280074227.3

    申请日:2022-05-21

    发明人: 李靓 郑勤

    摘要: 非易失性存储器包括存储器单元、连接到存储器单元的字线和连接到字线的一组常规控制栅极驱动器。控制栅极驱动器包括接收不同电压源并提供不同输出电压的控制栅极驱动器的不同子集。包括接收不同电压源并提供不同输出电压的冗余控制栅极驱动器,该冗余控制栅极驱动器可替换常规控制栅极驱动器中的任何常规控制栅极驱动器。

    存储器及其测试方法、存储器系统

    公开(公告)号:CN118155695A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202211561072.4

    申请日:2022-12-07

    发明人: 胡靖三 张勇

    IPC分类号: G11C29/02 G11C29/00

    摘要: 本公开实施例公开了一种存储器及其测试方法、存储器系统。所述存储器包括全局字线以及与所述全局字线连接的检测电路;所述测试方法包括:通过所述检测电路对所述全局字线执行放电操作;其中,所述全局字线从第一电压放电至接地电压,本地字线从所述第一电压放电至第二电压,所述本地字线与所述全局字线连接;所述第二电压大于所述接地电压,所述第二电压小于所述第一电压;在执行所述放电操作之后,对所述全局字线和所述本地字线执行浮置操作,所述全局字线和所述本地字线之间进行电荷共享;通过所述检测电路检测所述共享的电荷,以判断与所述本地字线连接的字线是否断路。