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公开(公告)号:CN111936831A
公开(公告)日:2020-11-13
申请号:CN201980023882.4
申请日:2019-03-29
申请人: 斯维尔系统
摘要: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪,其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪,该干涉仪被光耦合以接收输入光束,并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束,并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束,其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器,其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号,以及处理器,其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号,并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。
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公开(公告)号:CN111936831B
公开(公告)日:2023-11-10
申请号:CN201980023882.4
申请日:2019-03-29
申请人: 斯维尔系统
摘要: 本公开的各方面涉及一种自参考光谱仪,其用于提供对背景或参考光谱密度以及样品或其他光谱密度的同时测量。自参考光谱仪包括干涉仪,该干涉仪被光耦合以接收输入光束,并且沿第一光路引导输入光束以产生第一干涉光束,并且沿第二光路引导输入光束以产生第二干涉光束,其中每个干涉光束是在干涉仪的输出之前被产生的。光谱仪还包括检测器,其被光耦合以同时检测从第一干涉光束产生的第一干涉信号和从第二干涉光束产生的第二干涉信号,以及处理器,其被配置为处理第一干涉信号和第二干涉信号,并且在处理第一干涉信号时将第二干涉信号用作参考信号。
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公开(公告)号:CN108474690A
公开(公告)日:2018-08-31
申请号:CN201680074302.0
申请日:2016-04-18
申请人: 斯维尔系统
摘要: 微机电系统(MEMS)装置提供干涉仪的可移动反射镜的反射镜定位的自校准。MEMS装置中的至少一个反射镜包括非平面表面。可移动反射镜被耦合到具有可变电容的MEMS致动器。MEMS装置包括电容感测电路,用于确定在可移动反射镜的多个参考位置处的所述MEMS致动器的电容,所述多个参考位置对应于由干涉仪基于所述非平坦表面产生的干涉图的中心突发和一个或多个次级突发。校准模块使用在参考位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移。
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公开(公告)号:CN117836609A
公开(公告)日:2024-04-05
申请号:CN202280042189.3
申请日:2022-06-14
申请人: 斯维尔系统
IPC分类号: G01N21/3504 , G01N21/05 , G01N21/03
摘要: 各方面涉及一种光学流体分析仪,其包括被配置为接纳样本流体的流体单元。光学流体分析仪还包括光学元件,该光学元件被配置为在流体单元的相对侧上密封流体单元,并允许来自光源的输入光被发送通过流体单元,并允许来自流体单元的输出光被输入到光谱仪。光学流体分析仪还包括机器学习(ML)引擎,诸如人工智能(AI)引擎,其被配置为基于光谱仪生成的光谱生成限定流体的至少一个参数的结果。
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公开(公告)号:CN108474690B
公开(公告)日:2020-10-13
申请号:CN201680074302.0
申请日:2016-04-18
申请人: 斯维尔系统
摘要: 微机电系统(MEMS)装置提供干涉仪的可移动反射镜的反射镜定位的自校准。MEMS装置中的至少一个反射镜包括非平面表面。可移动反射镜被耦合到具有可变电容的MEMS致动器。MEMS装置包括电容感测电路,用于确定在可移动反射镜的多个参考位置处的所述MEMS致动器的电容,所述多个参考位置对应于由干涉仪基于所述非平坦表面产生的干涉图的中心突发和一个或多个次级突发。校准模块使用在参考位置处的致动器电容来补偿电容感测电路中的任何漂移。
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