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公开(公告)号：CN103514893B
公开(公告)日：2017-11-10
申请号：CN201210199510.7
申请日：2012-06-18
Applicant: 新科实业有限公司
IPC: G11B5/455
Abstract: 本发明公开了一种半导体光源条在老化测试中的冷却系统，包括用于夹持半导体光源条的夹具，所述夹具包括一壳体，所述壳体具有相互连通的进水通道和出水通道；与所述进水通道相连的第一水槽，所述水槽中装有冷却液;与所述出水通道相连的第二水槽；以及与所述出水通道相连的抽吸装置，所述抽吸装置至少将所述第一水槽中的冷却液抽吸至所述第二水槽，从而冲刷所述半导体光源条的底部以降低其温度。本发明能将半导体光源条在老化测试过程中产生的热量散退，并将其局部温度均匀化，从而保持老化测试所需的温度并提高HAMR头的热稳定性。本发明还公开了一种相应的冷却方法。
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公开(公告)号：CN101425295A
公开(公告)日：2009-05-06
申请号：CN200710170008.2
申请日：2007-11-02
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种可以制造出高品质磁头滑块的方法，根据该制造方法可以精确地调整写入元件及读取元件的长度。本发明提供的磁头滑块的制造方法，包括有：在基体上层叠形成具有读取元件及写入元件之磁头的积层形成工序、切出由多个具有所述磁头的磁头滑块相连接而成的长形条块并对飞行面进行研磨从而露出所述读取元件及写入元件的研磨工序、以及，从所述长形条块中切割出一个个磁头滑块的滑块切割工序；其中，所述积层形成工序包括在设有所述读取元件的相同层上形成根据被研磨程度而改变其输出值的读取元件用研磨量检测传感器的环节，同时还包括在设有所述写入元件的相同层上形成根据研磨而改变其输出值的写入元件用研磨量检测传感器的环节，而所述研磨工序则根据所述读取元件用研磨量检测传感器及写入元件用研磨量检测传感器的各个输出值进行研磨。
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公开(公告)号：CN102270458A
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201010201207.7
申请日：2010-06-03
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/3116 , G11B5/3169 , G11B5/3173
Abstract: 本发明公开了一种具有灵敏反馈装置的用于形成磁头的磁条，其包括一列磁头形成部，每一磁头形成部包括将从磁条上切割出来的磁头以及邻近磁头的中间区域；每一磁头包括磁头主体和设置于磁头主体上的磁写头，磁写头包括主磁极，主磁极包括用于研磨的磁极面，所有主磁极均设置于同一列上；其中，磁条具有至少一个设置其内的灵敏反馈装置，灵敏反馈装置包括至少三个与主磁极设置在同一列上的磁极模型，磁极模型的结构与主磁极的结构相同，每两个相邻的在灵敏反馈装置中的磁极模型之间具有间隔，每两个相邻的在灵敏反馈装置中的磁极模型在垂直于磁极面的方向上具有偏移量。本发明还公开了制造磁头的方法。
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公开(公告)号：CN100476952C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200510097786.4
申请日：2005-08-29
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/3173 , G11B5/3166 , G11B5/3169 , G11B5/3903
Abstract: 在本发明公开了形成一种包含多个薄膜磁头前驱体110、多个读取头用RLG传感器200、存储头用RLG传感器300的多个磁头长形条600的方法。其中，使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值的同时修整研磨磁头长形条600，接下来，同时使用读取头用RLG传感器200及存储头用RLG传感器300检测电阻膜201、301的电阻值，由此调整磁头长形条600的研磨面的倾斜度之后，再次使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值并最后研磨磁头长形条600，从而形成空气支承面。
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公开(公告)号：CN102376310A
公开(公告)日：2012-03-14
申请号：CN201010261127.0
申请日：2010-08-13
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/1278 , G11B5/3169 , G11B5/3173 , Y10T29/49021 , Y10T29/53174
Abstract: 本发明公开了一种用于形成磁头的磁条，磁条包括一列磁头形成部，每一磁头形成部包括将从磁条上切割出来的磁头以及邻近磁头的中间区域，每一中间区域包括设置其上的第一导向触点；每一磁头包括：磁头主体；设置于磁头主体上的磁写头和磁读头；设置于磁头主体上的第二导向触点；两个电研磨导向件，设置于所述磁头主体上并分别电连接第一导向触点与第二导向触点；一列连接触点，设置于磁头主体上并电连接磁读头及磁写头；以及接地触点，接地触点设置于磁头主体上并电连接第一导向触点及第二导向触点。本发明还公开了制造磁头的方法。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101009102A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200610006890.2
申请日：2006-01-27
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/1272 , G11B5/3173 , Y10T29/49041 , Y10T29/49048 , Y10T29/49052 , Y10T29/49798
Abstract: 本发明一种磁头加工方法，包括如下步骤：提供由若干磁头结构体形成的、具有磁头空气承载面形成面的长形条；在长形条上的磁头空气承载面形成面上形成切割线，并在靠近切割线、由相邻切割线界定的切割区上形成应力吸收区；研磨所述长形条的磁头空气承载面形成面；沿着所述长形条上的切割线切断长形条而形成单独的磁头。当用切割工具沿切割线将磁头从长形条上切断时，切割过程中在切割线附近的切割区上产生的切割应力被应力吸收区部分或全部地吸收，从而使得切割后的磁头在其空气承载面一侧的边缘，例如宽度方向的两端不会产生明显的边缘凸起，进而消除了磁头刮擦磁盘表面的危险。
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公开(公告)号：CN1771534A
公开(公告)日：2006-05-10
申请号：CN03826437.4
申请日：2003-05-12
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: B24B37/048 , B24B9/065 , B24B21/006 , G11B5/102 , G11B5/3169 , G11B5/6005
Abstract: 本发明披露了一种通过同时振动多个滑块边缘上的磨料研磨带来边缘倒圆硬盘驱动器头滑块的系统和方法。
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公开(公告)号：CN103514893A
公开(公告)日：2014-01-15
申请号：CN201210199510.7
申请日：2012-06-18
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种半导体光源条在老化测试中的冷却系统，包括用于夹持半导体光源条的夹具，所述夹具包括一壳体，所述壳体具有相互连通的进水通道和出水通道；与所述进水通道相连的第一水槽，所述水槽中装有冷却液;与所述出水通道相连的第二水槽；以及与所述出水通道相连的抽吸装置，所述抽吸装置至少将所述第一水槽中的冷却液抽吸至所述第二水槽，从而冲刷所述半导体光源条的底部以降低其温度。本发明能将半导体光源条在老化测试过程中产生的热量散退，并将其局部温度均匀化，从而保持老化测试所需的温度并提高HAMR头的热稳定性。本发明还公开了一种相应的冷却方法。
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公开(公告)号：CN101425295B
公开(公告)日：2012-10-31
申请号：CN200710170008.2
申请日：2007-11-02
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明提供一种可以制造出高品质磁头滑块的方法，根据该制造方法可以精确地调整写入元件及读取元件的长度。本发明提供的磁头滑块的制造方法，包括有：在基体上层叠形成具有读取元件及写入元件之磁头的积层形成工序、切出由多个具有所述磁头的磁头滑块相连接而成的长形条块并对飞行面进行研磨从而露出所述读取元件及写入元件的研磨工序、以及，从所述长形条块中切割出一个个磁头滑块的滑块切割工序；其中，所述积层形成工序包括在设有所述读取元件的相同层上形成根据被研磨程度而改变其输出值的读取元件用研磨量检测传感器的环节，同时还包括在设有所述写入元件的相同层上形成根据研磨而改变其输出值的写入元件用研磨量检测传感器的环节，而所述研磨工序则根据所述读取元件用研磨量检测传感器及写入元件用研磨量检测传感器的各个输出值进行研磨。
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公开(公告)号：CN100476951C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN03826437.4
申请日：2003-05-12
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: B24B37/048 , B24B9/065 , B24B21/006 , G11B5/102 , G11B5/3169 , G11B5/6005
Abstract: 本发明披露了一种通过同时振动多个滑块边缘上的磨料研磨带来边缘倒圆硬盘驱动器头滑块的系统和方法。
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