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公开(公告)号：CN1801330B
公开(公告)日：2010-09-22
申请号：CN200510124483.7
申请日：2005-11-14
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: B24B37/00 , B24B41/06 , Y10T29/49032 , Y10T29/49037 , Y10T29/49041 , Y10T29/49043 , Y10T29/49046 , Y10T29/49048 , Y10T29/49052 , Y10T29/53165 , Y10T428/11
Abstract: 本发明提供一种磁头制造方法，其包括研削及研磨所述块部件的空气支承面的研削、研磨工序。该研削、研磨工序还包括角度调整工序与修饰研磨工序。其中，在角度调整工序中，对块部件，以基板上的磁头元件形成面为基准，调整空气支承面的角度并研削该面。接下来，在修饰研磨工序中，按照通过角度调整工序调整后的角度研磨空气支承面。由此，在研磨空气支承面时，一并考虑到记录元件的磁极长度，因此，制造出可实现高记录密度的垂直磁记录方式磁头。
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公开(公告)号：CN1920960A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：CN200610129001.1
申请日：2006-08-26
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/102 , G11B5/3163 , G11B5/3169 , G11B5/3173 , G11B5/6005 , Y10T29/49041 , Y10T29/49043 , Y10T29/49044 , Y10T29/49046 , Y10T29/49048 , Y10T29/49052
Abstract: 本发明是一种磁头滑块的制造方法，该方法是一种从长形条制造出磁头滑块的方法，所述长形条包括交替排列的用作磁头滑块的多个元件和作为切断成磁头滑块时的切削量的切断部。该制造方法包括：照射步骤(102)，用于照射电磁波，以在作为将要成为磁头滑块的介质相对面的第一面的内表面的第二面的、夹在元件之间的各切断部的至少一部分上，使长形条的整体形状成为将第一面作为凸面的弯曲形状；研磨步骤(103)，紧接着照射步骤，使元件的各个第一面成为凹状地将长形条按压在研磨面的同时对第一面进行研磨；和切断步骤(104)，紧接着研磨步骤，沿着切断面切断长形条，并使其分离成各磁头滑块。本发明的磁头滑块的制造方法，能够在磁头滑块上高精度且经济性良好地形成形状稳定性高的凸度(camber)。
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公开(公告)号：CN101113996B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200710126451.X
申请日：2007-06-08
Applicant: 新科实业有限公司
Inventor： 袋井修
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/07 , G01R33/09 , Y10T29/49041 , Y10T29/49046
Abstract: 本发明提供一种可以减少触片设置面积的用于磁场检测传感器的研磨量检测元件，该元件设置在磁头滑块之间的切断间隙部上。本发明提供的研磨量检测元件31是一种含有基板5及磁场检测传感器10的层积体的研磨量检测元件。该研磨量检测元件31，与磁场检测传感器10一同暴露地设置在所述层积体的研磨面G上，并具备其阻抗值根据研磨量发生变化的阻抗膜32；以及与该阻抗膜32的一端电气连接的，设置在所述层积体的与研磨面G不同的面上，且用于测量阻抗值的触片33。另外，该阻抗膜32的另一端则电气连接在所述基板5上。
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公开(公告)号：CN1801330A
公开(公告)日：2006-07-12
申请号：CN200510124483.7
申请日：2005-11-14
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: B24B37/00 , B24B41/06 , Y10T29/49032 , Y10T29/49037 , Y10T29/49041 , Y10T29/49043 , Y10T29/49046 , Y10T29/49048 , Y10T29/49052 , Y10T29/53165 , Y10T428/11
Abstract: 本发明提供一种磁头制造方法，其包括研削及研磨所述块部件的空气支承面的研削、研磨工序。该研削、研磨工序还包括角度调整工序与修饰研磨工序。其中，在角度调整工序中，对块部件，以基板上的磁头元件形成面为基准，调整空气支承面的角度并研削该面。接下来，在修饰研磨工序中，按照通过角度调整工序调整后的角度研磨空气支承面。由此，在研磨空气支承面时，一并考虑到记录元件的磁极长度，因此，制造出可实现高记录密度的垂直磁记录方式磁头。
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公开(公告)号：CN1762613A
公开(公告)日：2006-04-26
申请号：CN200510052035.0
申请日：2005-02-28
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种保持清洗物并将其浸渍到洗槽的清洗物保持具，其设有：配置清洗物的托架，立设于该托架的清洗物配置面的包围清洗物周围的包围构件，以及限制清洗物从托架分离而脱离的情况的脱离限制构件；包围构件包围的清洗物周围形成有供清洗清洗物时使用的溶剂流入流出的开口部。该发明可有效抑制清洗后的清洗物上溶剂的残留，并提高清洗后的清洁度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1762613B
公开(公告)日：2011-09-14
申请号：CN200510052035.0
申请日：2005-02-28
Applicant: 新科实业有限公司
Abstract: 本发明公开了一种保持清洗物并将其浸渍到洗槽的清洗物保持具，其设有：配置清洗物的托架，立设于该托架的清洗物配置面的包围清洗物周围的包围构件，以及限制清洗物从托架分离而脱离的情况的脱离限制构件；包围构件包围的清洗物周围形成有供清洗清洗物时使用的溶剂流入流出的开口部。该发明可有效抑制清洗后的清洗物上溶剂的残留，并提高清洗后的清洁度。
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公开(公告)号：CN100476952C
公开(公告)日：2009-04-08
申请号：CN200510097786.4
申请日：2005-08-29
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/3173 , G11B5/3166 , G11B5/3169 , G11B5/3903
Abstract: 在本发明公开了形成一种包含多个薄膜磁头前驱体110、多个读取头用RLG传感器200、存储头用RLG传感器300的多个磁头长形条600的方法。其中，使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值的同时修整研磨磁头长形条600，接下来，同时使用读取头用RLG传感器200及存储头用RLG传感器300检测电阻膜201、301的电阻值，由此调整磁头长形条600的研磨面的倾斜度之后，再次使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值并最后研磨磁头长形条600，从而形成空气支承面。
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公开(公告)号：CN1324561C
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200410032737.8
申请日：2004-04-16
IPC: G11B5/39
CPC classification number: G11B5/31 , Y10T29/49032
Abstract: 磁条(3)上的各个薄膜磁头(1)中的加热器(17)与其邻近的加热器电连接，每个加热器(17)都与一个可变电阻器(33)并行连接。根据薄膜磁头(1)的相对介质的表面(S)的凸出量，改变每个可变电阻器(33)的电阻值。并且，当使用相同的电源为所有的加热器(17)通电时，磁头条(3)上薄膜磁头(1)的相对介质的表面(S)被抛光。
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公开(公告)号：CN101113996A
公开(公告)日：2008-01-30
申请号：CN200710126451.X
申请日：2007-06-08
Applicant: 新科实业有限公司
Inventor： 袋井修
CPC classification number: G01R33/12 , G01R33/07 , G01R33/09 , Y10T29/49041 , Y10T29/49046
Abstract: 本发明提供一种可以减少触片设置面积的用于磁场检测传感器的研磨量检测元件。本发明提供的研磨量检测元件31是一种含有基板5及磁场检测传感器10的层积体的研磨量检测元件。该研磨量检测元件31，与磁场检测传感器10一同暴露地设置在所述层积体的研磨面G上，并具备其阻抗值根据研磨量发生变化的阻抗膜32；以及与该阻抗膜32的一端电气连接的，设置在所述层积体的与研磨面G不同的面上，且用于测量阻抗值的触片33。另外，该阻抗膜32的另一端则电气连接在所述基板5上。
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公开(公告)号：CN1767000A
公开(公告)日：2006-05-03
申请号：CN200510097786.4
申请日：2005-08-29
Applicant: 新科实业有限公司
CPC classification number: G11B5/3173 , G11B5/3166 , G11B5/3169 , G11B5/3903
Abstract: 在本发明公开了形成一种包含多个薄膜磁头前驱体110、多个读取头用RLG传感器200、存储头用RLG传感器300的多个磁头长形条600的方法。其中，使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值的同时修整研磨磁头长形条600，接下来，同时使用读取头用RLG传感器200及存储头用RLG传感器300检测电阻膜201、301的电阻值，由此调整磁头长形条600的研磨面的倾斜度之后，再次使用读取头用RLG传感器200检测电阻膜201的电阻值并最后研磨磁头长形条600，从而形成空气支承面。
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