起振电路及芯片
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110880914A

    公开(公告)日:2020-03-13

    申请号:CN201811031941.6

    申请日:2018-09-05

    发明人: 高云 王浩 陈强

    IPC分类号: H03B5/06 H03B5/12

    摘要: 本发明涉及一种起振电路及芯片,起振电路包括偏置电流模块、基准电压模块、起振电压模块、放大模块及比较模块,晶体的第一端连接比较模块的第二输入端,晶体的第二端接地。偏置电流模块用于为基准电压模块、起振电压模块及放大模块提供恒定的偏置电流,基准电压模块用于为比较模块的第一输入端提供稳定的基准电压,起振电压模块用于为晶体提供起振所需的起振电压,放大模块用于对晶体振荡信号进行放大。比较模块用于比较晶体振荡信号的电压和基准电压的大小,输出时钟信号。因此,上述起振电路只需要一端接入晶体就能实现晶体的起振,进而降低了利用该起振电路制作的芯片的成本。

    起振电路及芯片
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN110880914B

    公开(公告)日:2022-09-09

    申请号:CN201811031941.6

    申请日:2018-09-05

    发明人: 高云 王浩 陈强

    IPC分类号: H03B5/06 H03B5/12

    摘要: 本发明涉及一种起振电路及芯片,起振电路包括偏置电流模块、基准电压模块、起振电压模块、放大模块及比较模块,晶体的第一端连接比较模块的第二输入端,晶体的第二端接地。偏置电流模块用于为基准电压模块、起振电压模块及放大模块提供恒定的偏置电流,基准电压模块用于为比较模块的第一输入端提供稳定的基准电压,起振电压模块用于为晶体提供起振所需的起振电压,放大模块用于对晶体振荡信号进行放大。比较模块用于比较晶体振荡信号的电压和基准电压的大小,输出时钟信号。因此,上述起振电路只需要一端接入晶体就能实现晶体的起振,进而降低了利用该起振电路制作的芯片的成本。

    环形压控振荡器及锁相环

    公开(公告)号:CN107565934B

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201610515233.4

    申请日:2016-06-30

    发明人: 王雪艳 陈强

    IPC分类号: H03K3/03 H03L7/099

    摘要: 本发明涉及一种环形压控振荡器,环形压控振荡器包括:电源、转换单元、级联的多级延迟单元和多级隔离缓冲单元。每级延迟单元的两个输出端输出两个相位时钟,其每级延迟单元的两个相位时钟信号的相位差均相同。该环形压控振荡器中的延迟单元的级数小、功耗低,面积小、成本低;同时隔离缓冲单元作为延迟单元的下一级,将延迟单元的输出端和外围电路进行隔离,降低后级电路对延迟单元输出的两个时钟信号的相位差的影响,降低了数据恢复的误码率,而且无需其他偏置电路,电路结构简单,功耗低。此外,还提供一种锁相环。

    环形压控振荡器及锁相环

    公开(公告)号:CN107565934A

    公开(公告)日:2018-01-09

    申请号:CN201610515233.4

    申请日:2016-06-30

    发明人: 王雪艳 陈强

    IPC分类号: H03K3/03 H03L7/099

    摘要: 本发明涉及一种环形压控振荡器,环形压控振荡器包括:电源、转换单元、级联的多级延迟单元和多级隔离缓冲单元。每级延迟单元的两个输出端输出两个相位时钟,其每级延迟单元的两个相位时钟信号的相位差均相同。该环形压控振荡器中的延迟单元的级数小、功耗低,面积小、成本低;同时隔离缓冲单元作为延迟单元的下一级,将延迟单元的输出端和外围电路进行隔离,降低后级电路对延迟单元输出的两个时钟信号的相位差的影响,降低了数据恢复的误码率,而且无需其他偏置电路,电路结构简单,功耗低。此外,还提供一种锁相环。

    芯片测试系统和芯片测试方法
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115993517A

    公开(公告)日:2023-04-21

    申请号:CN202111213894.9

    申请日:2021-10-19

    IPC分类号: G01R31/28

    摘要: 本发明涉及一种芯片测试系统和芯片测试方法,通过对待测芯片分为时序单元和非时序单元,并针对同一类型单元中同一属性的端并联后连接在测试向量输出模块上相应属性的输出端,以便配置待测芯片中非时序单元的组合逻辑功能和或时序单元的时序逻辑功能的全功能测试所需的测试向量。测试时,利用控制器的控制功能,控制测试向量输出模块按照预设规则输出测试向量,并根据选择输出电路的输入端所接的、当前测试向量作用的单个被测单元的输出路数,控制选择输出单元输出当前测试向量作用的单个被测单元的功能测试结果,通过控制器控制测试向量输出模块输出的测试向量,实现芯片中每个被测单元的全部功能测试,整个过程全自动化作业,效率高,可靠性高。

    项目批量添加标识信息方法和装置、终端

    公开(公告)号:CN115687338A

    公开(公告)日:2023-02-03

    申请号:CN202110845620.5

    申请日:2021-07-26

    IPC分类号: G06F16/22 G06F16/23 G06Q50/18

    摘要: 本发明公开了一种项目批量添加标识信息方法和装置、终端,其中方法包括:获取目标文件中所有待添加标识信息的项目名称,得到项目名称列表;基于项目名称列表创建所有项目的工作目录;基于目标文件中项目的标识信息构建所有项目的命令参数配置文件;基于项目的命令参数配置文件生成每个项目的运行命令脚本;执行所有项目的运行命令脚本;将所有添加标识信息后的生产数据文件的名称修改为对应原始生产数据文件的名称。本发明提高了知识产权的设计模块和/或标准单元库的标识信息的添加效率,减少标识信息的错误录入,提高对大批量的知识产权的设计模块和/或标准单元库的更新效率。