单晶硅直径测定法及其设备

    公开(公告)号:CN1056165A

    公开(公告)日:1991-11-13

    申请号:CN91102921.4

    申请日:1991-04-27

    CPC classification number: G01B11/105 Y10T117/1004

    Abstract: 本发明涉及一种测定单晶硅直径的方法和设备。在用CZ法提拉单晶的一规定转动周期的间隔内,用光学装置对熔融环的亮度分布进行取样,由此得出该提拉单晶的直径测定值,再用低通滤波器处理该直径测定值,以产生转换成时序直径数据的滤波器输出值,然后求出滤波器输出值的移动平均值,从而计算出直径值。本发明涉及的设备包括能完成上述测定方法的光学装置、一低通滤波器和计算装置。

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