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公开(公告)号：CN101738511A
公开(公告)日：2010-06-16
申请号：CN200810177407.6
申请日：2008-11-27
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R1/073
Abstract: 一种探针卡，具有一探针基板为以射出成型方式使至少一绝缘材依附于一支撑材，于绝缘材上设置导电接点供以传输探针卡所需的测试信号，由具有高阻值特性的绝缘材使相邻各该导电接点之间达成电性绝缘的特性，更由支撑材的刚性提供探针卡的强度，可承受测试过程中绝缘材所直接接收的应力来源，同时抵抗绝缘材在温度及应力变化的环境因素下产生形变，以维持探针卡的稳定性。
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公开(公告)号：CN107677948A
公开(公告)日：2018-02-09
申请号：CN201710523459.3
申请日：2017-06-30
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/2806
Abstract: 一种测量系统，用以对一待测物进行测量，其包含有：一测量平台，具有一承载面，该承载面供放置该待测物；一悬臂，其一端连接于该测量平台，且可相对于该测量平台移动；一探针模块，设置于该悬臂上，该探针模块具有至少一探针；一握持件，连接于该悬臂上，该握持件用以供使用者握持，藉以带动该悬臂相对于该承载面移动；其中，该悬臂与该探针模块的其中一者设有一挡止部，该挡止部用以抵靠于一参考面上，以使该悬臂与该承载面之间相距一预定距离。
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公开(公告)号：CN104714056A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201410718463.1
申请日：2014-12-02
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
CPC classification number: G01R1/04 , G01R1/07392 , G01R31/2887
Abstract: 本发明公开了一种电性检测机台，包含一机台、一承台、一探针架、一支架、一检测臂、一安置座及多个探针组。该机台具有相平行的二第一导轨；该承台设于该机台上；该探针架设于该机台上，且具有多个设置区；该支架设于该二第一导轨上，且可相对该机台与该承台移动，并具有一第二导轨；该检测臂设于该第二导轨，且位于该承台上方，并可与该支架同步移动及相对该支架移动；该安置座设于该检测臂上，且可相对该检测臂转动或移动；其中一探针组设于该安置座，而其他探针组则分别设于该探针架的设置区；另外，设于该安置座上的探针组可与该安置座同步移动。
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公开(公告)号：CN104714056B
公开(公告)日：2018-01-12
申请号：CN201410718463.1
申请日：2014-12-02
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
CPC classification number: G01R1/04 , G01R1/07392 , G01R31/2887
Abstract: 本发明公开了一种电性检测机台，包含一机台、一承台、一探针架、一支架、一检测臂、一安置座及多个探针组。该机台具有相平行的二第一导轨；该承台设于该机台上；该探针架设于该机台上，且具有多个设置区；该支架设于该二第一导轨上，且可相对该机台与该承台移动，并具有一第二导轨；该检测臂设于该第二导轨，且位于该承台上方，并可与该支架同步移动及相对该支架移动；该安置座设于该检测臂上，且可相对该检测臂转动或移动；其中一探针组设于该安置座，而其他探针组则分别设于该探针架的设置区；另外，设于该安置座上的探针组可与该安置座同步移动。
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公开(公告)号：CN201464508U
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200920005231.6
申请日：2009-03-18
Applicant: 旺矽科技股份有限公司
Abstract: 一种弹簧针接触垫，设置于一探针卡上，供接收测试信号，所述弹簧针接触垫包括一导电层，一绝缘层，一屏蔽层和一I/O接垫，其特征在于：所述导电层，设在所述绝缘层下；所述绝缘层，设在所述导电层上；所述屏蔽层，设在所述绝缘层上；所述I/O接垫，设在所述绝缘层上；其中，所述屏蔽层环绕所述I/O接垫，所述测试信号经由所述I/O接垫输入所述探针卡。
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