粉末比率测定装置、粉末比率测定系统、粉末比率测定方法、计算机程序、高炉以及高炉操作方法

    公开(公告)号:CN113614254A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202080022915.6

    申请日:2020-03-24

    Inventor: 山平尚史

    Abstract: 本发明提供能够在高炉等的操作工序中以高精度实时地测定附着于作为原料来使用的物质的表面的粉末的粉末比率的粉末比率测定装置。本发明的粉末比率测定装置是测定附着于物质(26)的表面的粉末的粉末比率的装置(12),其中,该装置(12)具备:照明装置(18),其对物质(26)进行照明;分光装置(16),其对来自物质(26)的反射光进行分光并测定分光反射率;以及运算装置(22),其至少使用通过分光装置(16)测定出的物质的表面的各位置处的分光反射率中的、粉末附着的区域的分光反射率,来算出与粉末附着的区域的面积对应的值,并基于算出的值来求出粉末比率。

    粒度分布测定装置和粒度分布测定方法

    公开(公告)号:CN111954800A

    公开(公告)日:2020-11-17

    申请号:CN201980023217.5

    申请日:2019-03-19

    Abstract: 本发明提供粒度分布测定装置和粒度分布测定方法,其能够高精度地测定包含粗粒和附着于粗粒的附着粉的原料的粒度分布。粒度分布测定装置(1)具备:粗粒测定装置(2),获取表示粗粒的粒度分布的信息;附着粉测定装置(3),获取表示附着粉的粒度分布的信息;运算装置(4),计算原料(13)的粒度分布。运算装置(4)具备:粗粒粒度分布计算部(43),基于粗粒测定装置(2)获取的表示粗粒的粒度分布的信息计算粗粒的粒度分布;附着粉粒度分布计算部(44),基于附着粉测定装置(3)获取的表示附着粉的粒度分布的信息计算附着粉的粒度分布;原料粒度分布计算部(45),基于粗粒粒度分布计算部(43)计算的粗粒的粒度分布和附着粉粒度分布计算部(44)计算的附着粉的粒度分布计算原料(13)的粒度分布。

    表面形状测定方法、表面形状测定装置以及带的管理方法

    公开(公告)号:CN118265890A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202280076384.8

    申请日:2022-11-14

    Abstract: 提供高精度地测定带的表面形状的表面形状测定方法、表面形状测定装置以及带的管理方法。表面形状测定方法是由测定被驱动单元向行进方向驱动的带的表面形状的表面形状测定装置执行的表面形状测定方法,包括:测定工序(S2),在判定为满足能够看作对带施加的张力恒定的张力恒定条件的情况下,测定带的表面形状;获取工序(S3),获取带的测定数据;以及运算工序(S4),基于获取到的测定数据来运算带的表面形状。

    原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置

    公开(公告)号:CN110476053B

    公开(公告)日:2022-07-26

    申请号:CN201880023175.0

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 提供能够高精度地测定包含粗粒和细粒的原料的粒度分布的原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法、以及使用所测定的粒度分布来测定空隙率的空隙率测定装置。原料的粒度分布测定装置,具有:粗粒测定装置,取得表示粗粒的粒度分布的信息;细粒测定装置,取得表示细粒的粒度分布的信息;以及运算装置,使用表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布,使用表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布,并使用粗粒的粒度分布和细粒的粒度分布来算出原料整体的粒度分布。

    粉率测定方法及装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113646446A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202080026229.6

    申请日:2020-04-03

    Abstract: 本发明能实时且高精度地测定附着在块状物质表面的粉的比例(粉率)。具有如下步骤:测定距离测定装置与块状物质间的距离的步骤S1、从由该步骤S1得到的距离数据算出特征量的步骤S2、以及将由该步骤S2算出的特征量变换为粉率的步骤S3;由步骤S2算出的特征量表示从步骤S1得到的距离数据算出的距离变动。如果块状物质的粉率提高,则在块状物质表面高度方向上,因三维形状内的微小凹凸所造成的微小的距离变动会变大,因而通过将其设为特征量,能实时且高精度地测定块状物质的粉率。

    粒度分布监视装置、粒度分布监视方法、计算机程序、炉、高炉、炉的控制方法以及高炉操作方法

    公开(公告)号:CN113574360A

    公开(公告)日:2021-10-29

    申请号:CN202080021499.8

    申请日:2020-03-17

    Inventor: 山平尚史

    Abstract: 本发明按照每个装入批次掌握所装入的原料的粒度分布。本发明的粒度分布监视装置具有:信息获取装置,按照原料的每个装入批次至少一次以上获取用于确定所装入的原料的粒度分布的信息;以及信息处理装置,处理信息,信息处理装置具有:粒度分布确定部,根据信息获取装置按照每个装入批次至少一次以上获取到的信息,按照每个装入批次确定粒度分布;以及粒度分布显示部,将粒度分布确定部按照每个装入批次确定出的粒度分布可视化,将每个装入批次的可视化粒度分布与装入批次建立关联地显示于画面。

    原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法以及空隙率测定装置

    公开(公告)号:CN110476053A

    公开(公告)日:2019-11-19

    申请号:CN201880023175.0

    申请日:2018-03-30

    Abstract: 提供能够高精度地测定包含粗粒和细粒的原料的粒度分布的原料的粒度分布测定装置、粒度分布测定方法、以及使用所测定的粒度分布来测定空隙率的空隙率测定装置。原料的粒度分布测定装置,具有:粗粒测定装置,取得表示粗粒的粒度分布的信息;细粒测定装置,取得表示细粒的粒度分布的信息;以及运算装置,使用表示粗粒的粒度分布的信息来算出粗粒的粒度分布,使用表示细粒的粒度分布的信息来算出细粒的粒度分布,并使用粗粒的粒度分布和细粒的粒度分布来算出原料整体的粒度分布。

    向高炉装入原料的方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109072318A

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201780017142.0

    申请日:2017-03-14

    Abstract: 在高炉内形成焦炭混合矿石层和焦炭层而进行的高炉操作中,根据形成焦炭层的焦炭中的粉状焦炭的含量,适当地控制焦炭混合矿石层的焦炭混合量,确保高炉内部的透气性。一种向高炉装入原料的方法,层状地形成焦炭混合矿石层和焦炭层,其中,利用设置于输送形成焦炭层的焦炭的输送设备的上方的粒度测定传感器对焦炭中的短径为5mm~35mm的范围的任意的短径以下的焦炭粒子的比率进行测定,将用于形成焦炭层的焦炭不含短径为35mm以下的焦炭粒子的条件定义为基准条件时,基于所测定的比率,将混合原料中的焦炭混合量设定为少于基准条件下的焦炭混合量,将与基准条件的差分的量的焦炭作为形成焦炭层的焦炭进行配合。

    高炉异常检测方法以及高炉操作方法

    公开(公告)号:CN105308191B

    公开(公告)日:2018-10-02

    申请号:CN201480034520.2

    申请日:2014-06-13

    Abstract: 本发明提供能够早期检测出风口成为关闭状态的异常的高炉异常检测方法以及使用该高炉异常检测方法的高炉操作方法。在高炉(1)的风口(2)附近设置照相机(11),通过设置于风口(2)的炉内监视用窗(6)来拍摄回旋区。而且,当判定为利用照相机(11)拍摄到的拍摄图像的亮度为阈值S以下且亮度的变化率为阈值R以下(亮度的降低率为阈值以下)时,判断为产生风口部成为关闭状态的异常。

    表面形状测定装置、表面形状测定方法以及带的管理方法

    公开(公告)号:CN118974513A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202380030409.5

    申请日:2023-03-13

    Abstract: 提供不另外设置传感器地推断带的周向上的测定位置并高精度地测定带的厚度的表面形状测定装置、表面形状测定方法以及带的管理方法。表面形状测定装置(10)测定被驱动单元驱动为绕圈的带的表面形状,其中,具备:带表面测定装置(11),测定带的表面形状;和控制装置(15),基于测定出的带的表面形状的测定数据来运算带的表面形状,控制装置根据测定数据推断带的周向上的测定位置,并将测定数据与测定位置建立关联来运算带的表面形状。

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