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公开(公告)号：CN1182211A
公开(公告)日：1998-05-20
申请号：CN97111442.0
申请日：1997-05-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/8903
Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理,以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分,确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。
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公开(公告)号：CN1170139A
公开(公告)日：1998-01-14
申请号：CN96106812.4
申请日：1996-06-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1871 , G02B27/46 , Y10S359/90
Abstract: 一种其凹部基本上为矩形形状的相位光栅,光栅深度比通过等式:丨n－no丨×(p－d′/e)/p×d′=(λ/2)×(1+2m),(其中,m=0,±1,±2,…)计算得到的深度d′为更深一个规定范围内的值,所述深度d′取决于因相位光栅的衍射产生部分干涉的光的波长λ、相位光栅的间距长度p、相位光栅之基料的折射率n、相位光栅周围介质的折射率no、以及作为光栅深度与光栅凹部斜面宽度之比的形态比e。
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公开(公告)号：CN1155652A
公开(公告)日：1997-07-30
申请号：CN96110780.4
申请日：1996-06-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01B11/06
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 将液晶层3设在平行或正交尼科尔棱晶的两个偏振片2、6之间，并在其间设置一相移片4使第一偏振片透射方向与光轴一致，再测量第二偏振片透射光强为极限值时的旋转角度，并按相移片旋转角度计算双折射层厚度。另一方法采用了一个半波片，首先将液晶层设在光强为极限值的位置，调整两个偏振片间的半波片使第一偏振片透射方向与光轴一致，然后测量当第二偏振片透射光强为极限值时的半波片旋转角度，再根据该角度计算双折射层厚度。
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公开(公告)号：CN1104643C
公开(公告)日：2003-04-02
申请号：CN96107118.4
申请日：1996-06-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/94
Abstract: 本发明的异物检查方法和装置的目的在于，提高异物所发检测光的光强，加大异物和噪声的分辨比，高精度地检测异物。其特征在于，对于检查对象1的检查面1a成S偏振的光束13，以大致平行于所述检查对象1的检查面1a的轴为光轴照射检查面，在与检查面1a所成的交角α为锐角，并且与上述光束的光轴的间的方位角φ在30度以内的光轴上，将上述光束引起的反射光和散射光中的对检查面1a成P偏振的成分18作为异物检测。
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公开(公告)号：CN1318767A
公开(公告)日：2001-10-24
申请号：CN01116696.7
申请日：2001-04-18
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02F1/1335
CPC classification number: G02B6/0038 , G02F1/133615 , G02F2001/133616
Abstract: 为了获得清晰的观看性和均匀的照明,本发明的反射型液晶照明装置,由光源、从侧面取入从光源射出的光并从背面出射照明光的平板状透明导光体、以及充填在导光体与配置在导光体背面侧的反射型液晶之间的透明材料构成。通过透明材料从导光体3的表面3a一侧观看反射型液晶4。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1151361C
公开(公告)日：2004-05-26
申请号：CN97105514.9
申请日：1997-05-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G01D5/38
CPC classification number: G01D5/38
Abstract: 一种光学编码器。它借助移动板及固定板上多个轨道中各光栅栅距不同的相位型衍射光栅产生干涉光，用光接收部检测光的强弱获得不同同步的多个同步信号。另用光接收部检测移动板上聚光元件产生的光斑，每转一圈产生一个脉冲的基准位置。取多个同步信号中同步最短的信号作为对应于移动板移动量的A/B相信号并取基准位置信号与多个同步信号的逻辑积作为表示移动板原点的Z相信号，以获得与A/B相信号中一个脉冲同步的Z相信号。
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公开(公告)号：CN1103060C
公开(公告)日：2003-03-12
申请号：CN97113011.6
申请日：1997-04-05
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02F1/1335
CPC classification number: G02B6/0031 , B60Q3/14 , B60Q3/16 , B60Q3/64 , G02F1/133615
Abstract: 一种液晶显示用背照光，它包括荧光灯(1)，使从荧光灯(1)射出的光朝向液晶元件射出的光导体(2)，以及使从荧光灯(1)射出的光朝向光导体(2)中的入射部反射的反射板(3)，上述光导体(2)中的入射部(4)呈楔形，该楔形由第1面(4a)和第2面(4b)按5°～30°的夹角交叉形成。上述荧光灯(1)设置于与光导体(2)中的入射部(4)的第2面(4b)相对的位置。反射板(3)具有沿光导体(2)中的入射部(4)的第1面(4a)延伸的第1直线部分(3a)，沿第1直线部分(3a)的一端呈抛物线延伸的抛物线部分(3b)，沿光导体(2)中的入射部(4)的第2面(4b)延伸的第2直线部分(3c)。
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公开(公告)号：CN1115555C
公开(公告)日：2003-07-23
申请号：CN97111442.0
申请日：1997-05-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/8903
Abstract: 本发明是使用光的缺陷检查方法及其检查装置。用由半导体激光一维配置的列状光源和投影透镜在被检查物体上进行强度变化的虚线状照明。用线状传感器通过物镜摄像。接着一边用试样台使被检查物体依序移动一边通过用线状传感器的信号和试样台的信号形成图像的前处理部向图象处理部输入图像信号并进行图象处理，以此可以检测被检查物体上的光学不均匀部分，确认有否裂纹缺陷。以此方法可高精度、高速度地检测陶瓷基板和金属烧结材料等的裂纹缺陷。
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公开(公告)号：CN1093264C
公开(公告)日：2002-10-23
申请号：CN96106812.4
申请日：1996-06-10
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G02B5/18
CPC classification number: G02B5/1871 , G02B27/46 , Y10S359/90
Abstract: 一种其凹部基本上为矩形形状的相位光栅，光栅深度比通过等式：|n-n0|×(p-d′/e)/p×d′＝(λ/2)×(1+2m)，(其中，m＝0，±1，±2，…)计算得到的深度d′为更深一个规定范围内的值，所述深度d′取决于因相位光栅的衍射产生部分干涉的光的波长λ、相位光栅的间距长度p、相位光栅之基料的折射率n、相位光栅周围介质的折射率n0、以及作为光栅深度与光栅凹部斜面宽度之比的形态比e。
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公开(公告)号：CN1064757C
公开(公告)日：2001-04-18
申请号：CN96110780.4
申请日：1996-06-26
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G01N21/23
Abstract: 将液晶层3设在平行或正交尼科尔棱镜的两个偏振片2、6之间，并在其间放置一相移片4使第一偏振片透射方向与光轴一致，再测量第二偏振片透射光强为极限值时的旋转角度，并按相移片旋转角度计算双折射层的厚度。另一方法采用了一个半波片，首先将液晶层设在光强为极限值的位置，调整两个偏振片间的半波片使第一偏振片透镜方向与光轴一致，然后测量当第二偏振片透射光强度为极限值时的半波片旋转角度，再根据该角度计算双折射层厚度。
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