测量系统、测量方法和存储介质
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115752246A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211026940.9

    申请日:2022-08-25

    Inventor: 光谷直树

    Abstract: 本公开涉及测量系统、测量方法和存储介质。该测量系统(1)包括:多轴机器人(10);测量单元(20),其耦接到所述多轴机器人(10);以及数据处理设备(30),其中,所述测量单元(20)包括:一个或多于一个摄像装置(23),其能够相对于所述多轴机器人(10)的基准位置移动,以及位置指定装置(22),用于指定所述摄像装置(23)中的一个或多于一个摄像装置(23)相对于所述基准位置的位置,其中,所述数据处理设备(30)包括:获取部(331),用于获取通过使所述摄像装置(23)中的一个或多于一个摄像装置(23)在两个或多于两个位置处拍摄图像所生成的多个拍摄图像数据,以及测量部(333),用于基于多个拍摄图像数据中所包括的工件的特征点的位置来测量所述工件中的多个特征点之间的距离。

    测量设备、控制设备和控制方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114543697A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202111281482.9

    申请日:2021-11-01

    Abstract: 本发明提供了测量设备、控制设备和控制方法。测量设备(S)包括:传感器(2),用于测量工件;多轴机器人(1),用于在三维空间中移动传感器(2);位置确定部(153),用于至少基于指示工件(W)的几何形状的设计数据或拍摄图像数据来确定i)作为沿工件(W)上的多个待测量位置中的各个待测量位置处的法线方向的位置的多个测量位置以及ii)传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处的方向;移动控制部(152),用于通过控制机器人(1)来将传感器(2)顺次移动到多个测量位置;以及测量控制部(154),用于与多个待测量位置相关联地输出指示传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处测量到的结果的测量数据。

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