测量设备、控制设备和控制方法
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114543697A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202111281482.9

    申请日:2021-11-01

    Abstract: 本发明提供了测量设备、控制设备和控制方法。测量设备(S)包括:传感器(2),用于测量工件;多轴机器人(1),用于在三维空间中移动传感器(2);位置确定部(153),用于至少基于指示工件(W)的几何形状的设计数据或拍摄图像数据来确定i)作为沿工件(W)上的多个待测量位置中的各个待测量位置处的法线方向的位置的多个测量位置以及ii)传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处的方向;移动控制部(152),用于通过控制机器人(1)来将传感器(2)顺次移动到多个测量位置;以及测量控制部(154),用于与多个待测量位置相关联地输出指示传感器(2)在多个测量位置中的各个测量位置处测量到的结果的测量数据。

    坐标测量设备
    2.
    发明公开
    坐标测量设备 审中-实审

    公开(公告)号:CN115047470A

    公开(公告)日:2022-09-13

    申请号:CN202210199794.3

    申请日:2022-03-02

    Abstract: 本发明涉及一种坐标测量设备。通过使用激光跟踪器来正确地确定工件的空间坐标坐标测量设备(1)包括:测量部(10),其测量工件;三个或多于三个接入点(20),其设置在与测量部(10)分离的位置,并且使用无线电波与测量部(10)进行无线通信;激光跟踪器(30),其利用激光束照射设置在各个接入点中的反射部,并且接收由反射部反射的激光束;以及控制部(54),其通过激光跟踪器(30)接收由反射部反射的激光束来获得各个接入点(20)的第一坐标,基于接入点(20)和测量部(10)之间的无线通信来获得测量部(10)的第二坐标,使测量部(10)测量工件的第三坐标,并且基于第一坐标、第二坐标和第三坐标来获得工件的空间坐标。

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