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公开(公告)号：CN106225636A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610388298.7
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B5/008
CPC classification number: G01B3/002 , G01B5/008 , G01B5/20 , G05B2219/37193 , G05B2219/37449 , G05B2219/37452 , G06F3/04817 , G06F3/04842
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法，该控制方法在无需CAD系统或高性能PC的情况下进行标称扫描测量。该控制方法包括：使用户从预先准备的几何形状菜单中选择被测物的形状；使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；从预先准备的测量路径菜单中选择测量路径；使用户根据所选择的测量路径来输入用以指定该测量路径的参数；基于所选择的几何形状、所输入的几何形状的参数、所选择的测量路径和所输入的测量路径的参数，使用预先准备的计算公式来计算工件上的测量点和各测量点的法线方向；以及计算在扫描测量点的序列的情况下进行移动所用的扫描测量的路径，并且以扫描所述扫描测量的路径的方式进行所述扫描测量。
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公开(公告)号：CN116086272A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310062101.0
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法和记录存储器，控制方法在无需CAD系统或高性能PC的情况下进行标称扫描测量。该控制方法包括：使用户从预先准备的几何形状菜单中选择被测物的形状；使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；从预先准备的测量路径菜单中选择测量路径；使用户根据所选择的测量路径来输入用以指定该测量路径的参数；基于所选择的几何形状、所输入的几何形状的参数、所选择的测量路径和所输入的测量路径的参数，使用预先准备的计算公式来计算工件上的测量点和各测量点的法线方向；以及计算在扫描测量点的序列的情况下进行移动所用的扫描测量的路径，并且以扫描所述扫描测量的路径的方式进行所述扫描测量。
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公开(公告)号：CN100398985C
公开(公告)日：2008-07-02
申请号：CN200510090001.0
申请日：2005-08-09
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 菊池直也
CPC classification number: G01B21/042
Abstract: 把配置在比测量机(300)的测量范围宽的范围内的多个基准点的位置作为单一的基准坐标系上的坐标点来求出。首先，根据测量机(300)的测量范围分组多个基准点。这时，进行分组(分组工序)使各组与至少一个其它组之间含有规定个数以上的公共的基准点。在每组中测量基准点(测量工序)。在前述每组上算出把在不同的组中测量在不同的组之间公共的基准点得到的各个值坐标变换成相同的或者非常近似的坐标点的坐标变换函数(基准点坐标变换函数计算工序)。由在每组中算出的坐标变换函数坐标变换在每组测量的基准点的位置(坐标变换处理工序)。
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公开(公告)号：CN1734232A
公开(公告)日：2006-02-15
申请号：CN200510090001.0
申请日：2005-08-09
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 菊池直也
CPC classification number: G01B21/042
Abstract: 把配置在比测量机(300)的测量范围宽的范围内的多个基准点的位置作为单一的基准坐标系上的坐标点来求出。首先，根据测量机(300)的测量范围分组多个基准点。这时，进行分组(分组工序)使各组与至少一个其它组之间含有规定个数以上的公共的基准点。在每组中测量基准点(测量工序)。在前述每组上算出把在不同的组中测量在不同的组之间公共的基准点得到的各个值坐标变换成相同的或者非常近似的坐标点的坐标变换函数(基准点坐标变换函数计算工序)。由在每组中算出的坐标变换函数坐标变换在每组测量的基准点的位置(坐标变换处理工序)。
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