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公开(公告)号：CN106802141B
公开(公告)日：2020-02-18
申请号：CN201610846221.X
申请日：2016-09-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 提供一种形状测量设备的控制方法，其能够实现轨迹校正能力和控制稳定性这两者。在对触针针尖进行控制以使探测器相对于工件的偏转量保持为基准偏转量的同时，使触针针尖沿着扫描路径移动。根据通过以下表达式表示的合成速度矢量V来生成针对探测器的移动指示：合成速度矢量V＝Gf·Vf+Ge·Ve+Gc·Vc2，其中：Vf是用以使探测器沿着扫描路径移动的路径速度矢量，Ve是用以使探测器相对于工件的偏转量保持为基准偏转量的偏转校正矢量，Vc2是通过(Vc1·q)q表示的第二轨迹校正矢量，Vc1是用以对探测器的位置进行校正以使得触针针尖朝向扫描路径的第一轨迹校正矢量，以及q是利用工件的表面的法线与路径速度矢量Vf的矢积给出的轨迹校正方向矢量。
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公开(公告)号：CN116086272A
公开(公告)日：2023-05-09
申请号：CN202310062101.0
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法和记录存储器，控制方法在无需CAD系统或高性能PC的情况下进行标称扫描测量。该控制方法包括：使用户从预先准备的几何形状菜单中选择被测物的形状；使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；从预先准备的测量路径菜单中选择测量路径；使用户根据所选择的测量路径来输入用以指定该测量路径的参数；基于所选择的几何形状、所输入的几何形状的参数、所选择的测量路径和所输入的测量路径的参数，使用预先准备的计算公式来计算工件上的测量点和各测量点的法线方向；以及计算在扫描测量点的序列的情况下进行移动所用的扫描测量的路径，并且以扫描所述扫描测量的路径的方式进行所述扫描测量。
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公开(公告)号：CN108120414B
公开(公告)日：2021-07-27
申请号：CN201711229180.0
申请日：2017-11-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法。以每预定数量的区段对扫描路径进行分割，并且定义针对每预定数量的区段的一组测量命令。在执行测量命令期间，针对下一测量命令创建速度计划。此时，进行使测量命令的速度模式计划的最终速度与下一测量命令的速度模式计划的最初速度相同的计划。在执行测量命令期间，连续计算从当前时刻起、直至该测量命令的估计的结束时刻为止的间隙时间。在间隙时间比计划计算时间长的情况下，保持下一测量命令的速度模式计划的最初速度与测量命令的速度模式计划的最终速度相同。
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公开(公告)号：CN107621248A
公开(公告)日：2018-01-23
申请号：CN201710576085.1
申请日：2017-07-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
CPC classification number: G05B19/401 , G01B5/008 , G01B21/04 , G01B21/042 , G01B21/20 , G05B19/041 , G05B2219/37043 , G05B2219/37374 , G05B2219/37411 , Y02P90/265
Abstract: 本发明涉及一种形状测量设备的控制方法。根据合成速度矢量V来生成扫描测量中的探测器移位指令：V＝Gf·Vf+Ge·Ve+sg(p)·Gc·Vc2其中：Vf是探测器沿着扫描路径移位所沿着的矢量；Ve是使探测器的向着工件的压入量维持于标准压入量的矢量。Vc2由(Vc1·q)q来表示，Vc1是在校正探测器位置使得触针头沿着扫描轨道取向的方向上的矢量，q是由工件的表面的法线与Vf的外积给出的矢量。将被测面的法线方向指定为Nw，p是Vc和Nw的内积，并且sg(p)是根据p的值而返回+1或-1的函数。
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公开(公告)号：CN107014334B
公开(公告)日：2020-12-25
申请号：CN201610920781.5
申请日：2016-10-21
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明涉及一种形状测量设备的控制方法。在从触针针尖和工件相接触的状态起使触针针尖与工件分离的退避期间，监视是否存在触针针尖和工件之间的接触。在退避期间检测到触针针尖和工件之间的接触的情况下，使探测器移动至触针针尖不接触工件的位置，并且执行恢复处理。在退避开始点在工件的表面上的点与触针针尖和工件之间的接触点之间的距离是Lm的情况下，考虑到触针针尖的直径d，通过将(Lm‑d)乘以系数k(0
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107014334A
公开(公告)日：2017-08-04
申请号：CN201610920781.5
申请日：2016-10-21
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明涉及一种形状测量设备的控制方法。在从触针针尖和工件相接触的状态起使触针针尖与工件分离的退避期间，监视是否存在触针针尖和工件之间的接触。在退避期间检测到触针针尖和工件之间的接触的情况下，使探测器移动至触针针尖不接触工件的位置，并且执行恢复处理。在退避开始点在工件的表面上的点与触针针尖和工件之间的接触点之间的距离是Lm的情况下，考虑到触针针尖的直径d，通过将(Lm‑d)乘以系数k(0
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公开(公告)号：CN106802141A
公开(公告)日：2017-06-06
申请号：CN201610846221.X
申请日：2016-09-23
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 提供一种形状测量设备的控制方法，其能够实现轨迹校正能力和控制稳定性这两者。在对触针针尖进行控制以使探测器相对于工件的偏转量保持为基准偏转量的同时，使触针针尖沿着扫描路径移动。根据通过以下表达式表示的合成速度矢量V来生成针对探测器的移动指示：合成速度矢量V＝Gf·Vf+Ge·Ve+Gc·Vc2，其中：Vf是用以使探测器沿着扫描路径移动的路径速度矢量，Ve是用以使探测器相对于工件的偏转量保持为基准偏转量的偏转校正矢量，Vc2是通过(Vc1·q)q表示的第二轨迹校正矢量，Vc1是用以对探测器的位置进行校正以使得触针针尖朝向扫描路径的第一轨迹校正矢量，以及q是利用工件的表面的法线与路径速度矢量Vf的矢积给出的轨迹校正方向矢量。
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公开(公告)号：CN107621248B
公开(公告)日：2020-09-04
申请号：CN201710576085.1
申请日：2017-07-14
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明涉及一种形状测量设备的控制方法。根据合成速度矢量V来生成扫描测量中的探测器移位指令：V＝Gf·Vf+Ge·Ve+sg(p)·Gc·Vc2其中：Vf是探测器沿着扫描路径移位所沿着的矢量；Ve是使探测器的向着工件的压入量维持于标准压入量的矢量。Vc2由(Vc1·q)q来表示，Vc1是在校正探测器位置使得触针头沿着扫描轨道取向的方向上的矢量，q是由工件的表面的法线与Vf的外积给出的矢量。将被测面的法线方向指定为Nw，p是Vc和Nw的内积，并且sg(p)是根据p的值而返回+1或‑1的函数。
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公开(公告)号：CN108120414A
公开(公告)日：2018-06-05
申请号：CN201711229180.0
申请日：2017-11-29
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B21/20
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法。以每预定数量的区段对扫描路径进行分割，并且定义针对每预定数量的区段的一组测量命令。在执行测量命令期间，针对下一测量命令创建速度计划。此时，进行使测量命令的速度模式计划的最终速度与下一测量命令的速度模式计划的最初速度相同的计划。在执行测量命令期间，连续计算从当前时刻起、直至该测量命令的估计的结束时刻为止的间隙时间。在间隙时间比计划计算时间长的情况下，保持下一测量命令的速度模式计划的最初速度与测量命令的速度模式计划的最终速度相同。
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公开(公告)号：CN106225636A
公开(公告)日：2016-12-14
申请号：CN201610388298.7
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B5/008
CPC classification number: G01B3/002 , G01B5/008 , G01B5/20 , G05B2219/37193 , G05B2219/37449 , G05B2219/37452 , G06F3/04817 , G06F3/04842
Abstract: 本发明提供一种形状测量设备的控制方法，该控制方法在无需CAD系统或高性能PC的情况下进行标称扫描测量。该控制方法包括：使用户从预先准备的几何形状菜单中选择被测物的形状；使用户根据所选择的几何形状来输入用以指定该几何形状的参数；从预先准备的测量路径菜单中选择测量路径；使用户根据所选择的测量路径来输入用以指定该测量路径的参数；基于所选择的几何形状、所输入的几何形状的参数、所选择的测量路径和所输入的测量路径的参数，使用预先准备的计算公式来计算工件上的测量点和各测量点的法线方向；以及计算在扫描测量点的序列的情况下进行移动所用的扫描测量的路径，并且以扫描所述扫描测量的路径的方式进行所述扫描测量。
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