公开(公告)号：CN110073511A

公开(公告)日：2019-07-30

申请号：CN201780077274.2

申请日：2017-12-19

Applicant: 株式会社半导体能源研究所

Inventor： 渡部刚吉 ,  濑尾哲史 ,  N.小松 ,  山冈谅平 ,  尾坂晴惠 ,  铃木邦彦 ,  细海俊介

IPC: H01L51/50 ,  C09K11/06

Abstract: 提供一种具有高发光效率的可靠性高的发光元件。发光元件包括含有第一有机化合物及客体材料的发光层。上述第一有机化合物具有取代或未取代的咔唑骨架。在上述发光层中，上述第一有机化合物中的至少一个氢原子被碳原子数为1至6的烃基取代的烃基取代物的相对于第一有机化合物的重量比大于0且为0.1以下。

公开(公告)号：CN110402387A

公开(公告)日：2019-11-01

申请号：CN201880017551.5

申请日：2018-03-26

Applicant: 株式会社半导体能源研究所

Inventor： 川上祥子 ,  N.小松 ,  濑尾哲史

IPC: G01N27/62 ,  C09K11/06 ,  G01N21/27 ,  G01N21/64 ,  G01N23/2255 ,  G01N24/08 ,  G01N30/06 ,  G01N30/72 ,  G01N30/88 ,  H01L51/50

Abstract: 提供一种发光元件的分析方法。本发明是在一对电极间包括具有一个或多个层的有机半导体层的有机半导体元件的分析方法。通过使用如下步骤对有机半导体元件进行分析：剥离有机半导体元件的一个电极的步骤(S2)；通过第一质谱分析法对露出的有机半导体层的叠层及Z或混合状态进行分析的步骤(S3)；使用溶剂使有机半导体层的各层所包含的有机化合物中的至少一个或多个溶解而制造溶液的步骤(S4)；通过液相色谱法分离溶液所包含的有机化合物(S5)，通过第二质谱分析法检测所分离的有机化合物的质量电荷比的步骤(S6)；对通过第一质谱分析法检测出的质量电荷比(D1)与通过第二质谱分析法检测出的质量电荷比(D2)进行比较的步骤(S8)；以及测定所分离的有机化合物的物性的步骤。

公开(公告)号：CN110073511B

公开(公告)日：2022-06-07

申请号：CN201780077274.2

申请日：2017-12-19

Applicant: 株式会社半导体能源研究所

Inventor： 渡部刚吉 ,  濑尾哲史 ,  N.小松 ,  山冈谅平 ,  尾坂晴惠 ,  铃木邦彦 ,  细海俊介

IPC: H01L51/50 ,  C09K11/06

Abstract: 提供一种具有高发光效率的可靠性高的发光元件。发光元件包括含有第一有机化合物及客体材料的发光层。上述第一有机化合物具有取代或未取代的咔唑骨架。在上述发光层中，上述第一有机化合物中的至少一个氢原子被碳原子数为1至6的烃基取代的烃基取代物的相对于第一有机化合物的重量比大于0且为0.1以下。

公开(公告)号：CN110402387B

公开(公告)日：2022-07-15

申请号：CN201880017551.5

申请日：2018-03-26

Applicant: 株式会社半导体能源研究所

Inventor： 川上祥子 ,  N.小松 ,  濑尾哲史

IPC: G01N27/62 ,  G01N27/64 ,  C09K11/06 ,  G01N21/27 ,  G01N21/64 ,  G01N23/2255 ,  G01N24/08 ,  G01N30/06 ,  G01N30/72 ,  G01N30/88 ,  H01L51/50

Abstract: 提供一种发光元件的分析方法。本发明是在一对电极间包括具有一个或多个层的有机半导体层的有机半导体元件的分析方法。通过使用如下步骤对有机半导体元件进行分析：剥离有机半导体元件的一个电极的步骤(S2)；通过第一质谱分析法对露出的有机半导体层的叠层及Z或混合状态进行分析的步骤(S3)；使用溶剂使有机半导体层的各层所包含的有机化合物中的至少一个或多个溶解而制造溶液的步骤(S4)；通过液相色谱法分离溶液所包含的有机化合物(S5)，通过第二质谱分析法检测所分离的有机化合物的质量电荷比的步骤(S6)；对通过第一质谱分析法检测出的质量电荷比(D1)与通过第二质谱分析法检测出的质量电荷比(D2)进行比较的步骤(S8)；以及测定所分离的有机化合物的物性的步骤。