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公开(公告)号：CN111656171A
公开(公告)日：2020-09-11
申请号：CN201880087778.7
申请日：2018-02-21
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/203
摘要： 化学状态分析装置(10)具备：激发源(11)，其向包含电池材料的试样(S)中的规定面内的照射区域(A)照射用于使该电池材料产生特征X射线的激发射线；分光晶体(13)，其由面向照射区域(A)设置的平板构成；狭缝(12)，其设置于照射区域(A)与分光晶体(13)之间，且与照射区域(A)及分光晶体(13)的规定的晶面平行；X射线线性传感器(15)，其是在平行于该狭缝的方向上具有长度的线状的检测元件(151)以沿垂直于狭缝(12)的方向排列的方式设置而成的；波长谱制作部(161)，其基于X射线线性传感器(15)检测出的特征X射线的强度来制作波长谱；峰值波长决定部(162)，其求出峰值波长，该峰值波长是所述波长谱的峰值处的波长；以及化学状态确定部(163)，其根据由峰值波长决定部(162)求出的峰值波长、以及标准曲线来求出用于确定试样(S)中的电池材料的化学状态的值，该标准曲线表示峰值波长与代表试样S中的电池材料的化学状态的值之间的关系。
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公开(公告)号：CN104181181B
公开(公告)日：2017-07-14
申请号：CN201410063011.4
申请日：2014-02-24
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明提供一种能够缩短分析时间且能够高精度地进行分析的X射线分析装置。沿着衍射圆（基准圆）C将多个检测元件（21）的各检测面配置在圆弧上。因此，可以利用各检测元件（21）在焦点位置对在试样S衍射后的X射线进行检测。由此，可以防止由各检测元件（21）检测到的X射线强度产生误差，所以可以得到更正确的衍射信息。因此，通过利用多个检测元件（21）对在试样S衍射后的X射线进行检测，能够缩短分析时间且能够高精度地进行分析。
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公开(公告)号：CN104181181A
公开(公告)日：2014-12-03
申请号：CN201410063011.4
申请日：2014-02-24
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/207
摘要： 本发明提供一种能够缩短分析时间且能够高精度地进行分析的X射线分析装置。沿着衍射圆（基准圆）C将多个检测元件（21）的各检测面配置在圆弧上。因此，可以利用各检测元件（21）在焦点位置对在试样S衍射后的X射线进行检测。由此，可以防止由各检测元件（21）检测到的X射线强度产生误差，所以可以得到更正确的衍射信息。因此，通过利用多个检测元件（21）对在试样S衍射后的X射线进行检测，能够缩短分析时间且能够高精度地进行分析。
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公开(公告)号：CN113924628A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN201980096845.6
申请日：2019-07-18
申请人： 株式会社岛津制作所
摘要： 一种分光元件，其具备：对X射线进行分光的分光晶体(10)；支撑上述分光晶体(10)的第1支撑层(11)；和，支撑上述第1支撑层(11)的第2支撑层(12)，上述第1支撑层(11)具有比上述分光晶体(10)的热膨胀系数大的热膨胀系数，上述第2支撑层(12)具有比上述第1支撑层(11)的热膨胀系数小的热膨胀系数且具有比上述第1支撑层(11)的刚性大的刚性。
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公开(公告)号：CN111133302B
公开(公告)日：2022-11-08
申请号：CN201880062049.6
申请日：2018-07-25
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/2209
摘要： 一种X射线分光分析装置，具备：激发源，对试样表面的规定照射区域照射用于使特征X射线产生的激发射线；分光晶体，面向照射区域而设置，由平板构成；狭缝，设置于照射区域和分光晶体之间，平行于照射区域及分光晶体的规定的晶面；X射线线性传感器，设置为在平行于狭缝的方向上具有长边的线状的检测元件沿垂直于狭缝的方向排列；能量校准部，通过从激发源对因照射所述激发射线而生成能量已知的2个特征X射线的标准试样的表面照射该激发射线从而测量该2个特征X射线，并基于该测量的2个特征X射线的能量，校准由X射线线性传感器的各个检测元件检测的特征X射线的能量。能够更高精度地求出从测量对象试样发射的特征X射线的能量。
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公开(公告)号：CN111133302A
公开(公告)日：2020-05-08
申请号：CN201880062049.6
申请日：2018-07-25
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/2209
摘要： 一种X射线分光分析装置，具备：激发源，对试样表面的规定照射区域照射用于使特征X射线产生的激发射线；分光晶体，面向照射区域而设置，由平板构成；狭缝，设置于照射区域和分光晶体之间，平行于照射区域及分光晶体的规定的晶面；X射线线性传感器，设置为在平行于狭缝的方向上具有长边的线状的检测元件沿垂直于狭缝的方向排列；能量校准部，通过从激发源对因照射所述激发射线而生成能量已知的2个特征X射线的标准试样的表面照射该激发射线从而测量该2个特征X射线，并基于该测量的2个特征X射线的能量，校准由X射线线性传感器的各个检测元件检测的特征X射线的能量。能够更高精度地求出从测量对象试样发射的特征X射线的能量。
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公开(公告)号：CN117836615A
公开(公告)日：2024-04-05
申请号：CN202280054630.X
申请日：2022-03-15
申请人： 株式会社岛津制作所
发明人： 米田哲弥
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/2209
摘要： X射线分析装置具备：分光晶体(140)，其将被照射了激发射线的试样所产生的特性X射线按每个波长进行分光；以及多个检测元件(151)，所述多个检测元件以各个检测元件检测由分光晶体(140)进行分光而得到的各个波长的强度的方式排列，其中，在分光晶体(140)的表面(140A)的中点(140M)处被分光后的特性X射线的方向与多个检测元件(151)的排列方向所成的角度(φ)小于80度或为100度以上。
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公开(公告)号：CN115023606A
公开(公告)日：2022-09-06
申请号：CN202080094677.X
申请日：2020-10-15
申请人： 株式会社岛津制作所
IPC分类号： G01N23/223 , G01N23/20008 , G01N23/2209
摘要： 在荧光X射线分析装置(1)中，在被壳体(10a)覆盖的分析室(10)的内部设置有：X射线管(11)；分光晶体(13)，其将从试样(12)发出的荧光X射线进行分光；X射线检测器(14)，其检测由分光晶体(13)进行分光后的荧光X射线；暖风产生器(20)，其产生用于将分光晶体(13)的温度维持为目标温度的暖风；以及帕尔贴元件(30)，其将X射线检测器(14)进行冷却。
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