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公开(公告)号：CN107923770B
公开(公告)日：2021-07-20
申请号：CN201680049100.0
申请日：2016-08-08
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 磁场检测装置具有IC封装(20)、接头(30)及树脂模制体(40)。IC封装具有磁检测元件(21)、位于磁检测元件的第1侧的引线框(22)、以及覆盖磁检测元件和引线框的树脂件(23)。接头与IC封装的引线框连接。树脂模制体具有基础部(41)和头部(42)。基础部覆盖引线框与接头的连接部位。头部覆盖IC封装的磁检测元件。头部具有最大壁厚部。将位于磁检测元件的第2侧的最大壁厚部的外壁面定义为检测侧基准面(48)。位于第2侧的IC封装的外壁面即元件对应面(24)从树脂模制体露出，或者被比从元件对应面到检测侧基准面为止的厚度(T4)薄的检测侧薄壁部(46)覆盖。
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公开(公告)号：CN107923770A
公开(公告)日：2018-04-17
申请号：CN201680049100.0
申请日：2016-08-08
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01D11/245 , G01D5/14 , G01D5/145 , G01R33/02 , H01L23/28 , H01L23/29 , H01L23/31 , H01L43/02
Abstract: 磁场检测装置具有IC封装(20)、接头(30)及树脂模制体(40)。IC封装具有磁检测元件(21)、位于磁检测元件的第1侧的引线框(22)、以及覆盖磁检测元件和引线框的树脂件(23)。接头与IC封装的引线框连接。树脂模制体具有基础部(41)和头部(42)。基础部覆盖引线框与接头的连接部位。头部覆盖IC封装的磁检测元件。头部具有最大壁厚部。将位于磁检测元件的第2侧的最大壁厚部的外壁面定义为检测侧基准面(48)。位于第2侧的IC封装的外壁面即元件对应面(24)从树脂模制体露出，或者被比从元件对应面到检测侧基准面为止的厚度(T4)薄的检测侧薄壁部(46)覆盖。
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公开(公告)号：CN111602030B
公开(公告)日：2021-10-22
申请号：CN201980008308.1
申请日：2019-01-11
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 一种检测旋转体(11)的旋转角度的旋转角度检测装置(10)，具备：磁铁(12)，具有在与旋转体(11)的旋转轴心(AX)垂直的径向上配置的极，与旋转体(11)一起旋转；磁性部(13)，在相对于磁铁(12)的径向外侧配置为环状，在周向的多个部位设有缝隙(17、18)；及磁检测部(14)，被配置在多个缝隙中的1个特定缝隙(17)，检测磁场的切线方向磁通成分及径向磁通成分。设磁检测部(14)被配置的位置为检测位置，设检测位置处的特定缝隙(17)的切线方向宽度为检测位置缝隙宽度(w2)，则相对于检测位置位于径向外侧的特定缝隙(17)的一部分的切线方向宽度(w1)比检测位置缝隙宽度(w2)窄。
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公开(公告)号：CN104422379A
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN201410431612.6
申请日：2014-08-28
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 位置检测器装置(1)包括检测器部件(30、130)、配线(40)、树脂部件(50)、树脂体(160)、端子(150)和引线框(140)。树脂部件在所述检测器部件的配线侧部处具有厚度(A、D)，其比在与所述配线侧部相反的一侧上的厚度(B、E)大。因此，当注射成型树脂部件时，由于树脂部件的厚度变化，检测器部件被压靠金属模具并且检测器部件(30)的位置被固定。而且，树脂体(160)具有厚树脂部(162)和薄树脂部(161)。薄树脂部的厚度允许检测器部件的预定移位量。因此，如果检测器部件(130)被露出，防止水侵入引线框和端子。
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公开(公告)号：CN103673854B
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201310428790.9
申请日：2013-09-18
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01B7/003 , G01D5/145 , G01D11/245
Abstract: 一种位置检测装置，包括：第一部件(10)，其通过第一成型树脂(13)与第一霍尔IC(11)的成型来提供；第二部件(20)，其通过第二成型树脂(23)与第二霍尔IC(21)的成型来提供；端子(40)，其连接到第一部件(10)的第一配线(12)并连接到第二部件(20)的第二配线(12)；第三成型树脂(30)，其成型以保持并保护第一部件(10)、第二部件(20)和端子(40)。第三成型树脂(30)将第一部件(10)和第二部件(20)固定到彼此。因此，可提供这样的位置检测装置，其包括能够通用于霍尔IC的数量不同的各种位置检测装置的部件。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104729543A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201410817852.X
申请日：2014-12-24
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01D5/14 , G01D5/145 , G01D11/245
Abstract: 本发明公开了一种位置检测装置，其包括：第一传感器部分(20)，具有被模制成型以用于第一磁传感器(21)和第一配线(22)的第一模制成型树脂物体(23)；和第二传感器部分(30)，具有被模制成型以用于第二磁传感器(31)和第二配线(32)的第二模制成型树脂物体(33)。第一传感器部分(20)和第二传感器部分(30)具有在第一传感器部分(20)的第一磁传感器(21)和第二传感器部分(30)的第二磁传感器(31)之间限定的伸出部分(60)，以提供第一磁传感器(21)和第二磁传感器(31)之间的间隙。
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公开(公告)号：CN104101291A
公开(公告)日：2014-10-15
申请号：CN201410137439.9
申请日：2014-04-08
Applicant: 株式会社电装
IPC: G01B7/30
CPC classification number: G01D5/14 , G01D5/145 , G01D5/2448
Abstract: 一种磁感测元件（31）设置为相对于永磁体（51，52）可旋转并且输出磁力检测值，该磁力检测值对应于磁通量的垂直分量。霍尔IC（30）基于由磁感测元件（31）输出的磁力检测值来计算输出电压并输出，该输出电压对应于永磁体（51，52）与磁感测元件（31）之间的相对旋转角。霍尔IC（30）将输出电压计算为V2=k×arcsin(V1/(VM+α))+Voffset，其中V1、V2、VM、k、α和Voffset指示磁力检测值、输出电压、磁力检测值的最大值、增益、预定值和预定偏移值。
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公开(公告)号：CN103776363A
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201310498777.0
申请日：2013-10-22
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 本发明公开了一种旋转角检测装置及使用其的旋转驱动单元，在旋转角检测装置中，来自第一磁检测元件的信号被输出至第一IC封装的信号输出部。第一信号输出端子将来自第一磁检测元件的信号输出至外部。来自第二磁检测元件的信号被输出至第二IC封装的信号输出部。第二信号输出端子将来自第二磁检测元件的信号输出至外部。供电端子和接地端子的至少一个布置在第一和第二信号输出端子之间。旋转驱动单元包括装置、使检测对象旋转的电机和电机电源线。接地端子和电机电源端子彼此相邻。
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公开(公告)号：CN102809385A
公开(公告)日：2012-12-05
申请号：CN201210180104.6
申请日：2012-06-01
Applicant: 株式会社电装
CPC classification number: G01R33/07 , G01D5/145 , G01D11/245
Abstract: 一种磁检测装置（1）包括：IC器件（2）；壳体（3），其限定IC器件的收纳空间（9）；以及，树脂模制部（4），其被布置在壳体的外表面（17）的第一部分上。IC器件包括：IC封装（5），其具有内置的磁电换能器；以及引线（6）。收纳空间由壳体的内壁的第二部分限定。内壁的第二部分的预定部分被定义为与所述IC器件接触的接触区域（L0-L4）。树脂模制部被布置在外表面的第二部分的预定部分以外，外表面的第二部分的预定部分与接触区域对应。通过接触区域和树脂模制部的位置来确定磁电换能器的位置。
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公开(公告)号：CN111602030A
公开(公告)日：2020-08-28
申请号：CN201980008308.1
申请日：2019-01-11
Applicant: 株式会社电装
Abstract: 一种检测旋转体(11)的旋转角度的旋转角度检测装置(10)，具备：磁铁(12)，具有在与旋转体(11)的旋转轴心(AX)垂直的径向上配置的极，与旋转体(11)一起旋转；磁性部(13)，在相对于磁铁(12)的径向外侧配置为环状，在周向的多个部位设有缝隙(17、18)；及磁检测部(14)，被配置在多个缝隙中的1个特定缝隙(17)，检测磁场的切线方向磁通成分及径向磁通成分。设磁检测部(14)被配置的位置为检测位置，设检测位置处的特定缝隙(17)的切线方向宽度为检测位置缝隙宽度(w2)，则相对于检测位置位于径向外侧的特定缝隙(17)的一部分的切线方向宽度(w1)比检测位置缝隙宽度(w2)窄。
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