公开(公告)号：CN105518440B

公开(公告)日：2018-06-26

申请号：CN201480046819.X

申请日：2014-08-25

Applicant: 株式会社高永科技

Inventor： 洪德和 ,  琴晶 ,  宋丞镐

IPC: G01N21/88

CPC classification number: G06T11/206 ,  G01N21/95684 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/12 ,  G05B19/41875 ,  G05B2219/34417 ,  G05B2219/35512 ,  G05B2219/37216 ,  G05B2219/37449 ,  G05B2219/45035 ,  G06T11/60 ,  G06T2200/24 ,  Y02P90/22

Abstract: 本发明涉及能够缩短检查时间、提高使用者便利性的基板检查装置。根据本发明一特征的基板检查装置包括：测量单元，其针对包括多个检查区域的检查基板，根据确定的测量顺序，测量多个检查区域，从而获得各检查区域的影像数据；控制部，其包括多个数据处理部及优化模块，所述多个数据处理部执行从测量单元传送的各检查区域的多个影像数据的数据处理，所述优化模块设置多个检查区域的优化的测量顺序及多个数据处理部的优化的数据处理顺序；及用户界面，其显示与通过优化模块而优化的测量顺序及数据处理顺序相关的优化相关信息。