一种水热法生长硅酸铋单晶体的方法

    公开(公告)号:CN101643937B

    公开(公告)日:2012-03-21

    申请号:CN200910114341.0

    申请日:2009-08-28

    IPC分类号: C30B29/34 C30B7/10

    摘要: 本发明涉及一种水热法生长硅酸铋(Bi12SiO20,简称BSO)晶体的方法。其特点是采用氟化物矿化剂体系进行晶体生长。采用BSO原料作培养料,置于黄金衬套管底部,在黄金衬套管的中下部放置一个开孔率为7%~10%的黄金挡板,将下部的培养料溶解区和上部的晶体生长区隔开;在黄金衬套管的顶部悬挂籽晶或金丝,按65~75%的填充度,向黄金衬套管中加入氟离子浓度为0.3~6mol/L的氟化物溶液,将黄金衬套管密封,放入高压釜中,在黄金衬套管和高压釜的夹层加入一定量去离子水或蒸馏水,密封,加热,使溶解区平均温度为365~420℃,生长区平均温度为335~385℃,经过10~90天恒温生长,得到BSO单晶体。

    一种降低水热法ZnO晶体的螺旋位错密度的方法

    公开(公告)号:CN100567590C

    公开(公告)日:2009-12-09

    申请号:CN200710050553.8

    申请日:2007-11-16

    IPC分类号: C30B7/10 C30B29/16

    摘要: 本发明将公开一种降低水热法ZnO晶体的螺旋位错密度的方法,它是在利用水热法进行ZnO晶体的生长之前,对ZnO晶体进行下述步骤的处理:1)取ZnO晶体切割出ZnO晶片;2)在ZnO晶片+c面和-c面各镀一层耐高温、耐腐蚀材料作为屏蔽层;3)利用光刻方法在ZnO晶片+c面和/或-c面的屏蔽层上蚀刻出平行的长条形,使+c面和/或-c面的屏蔽层分为阻止ZnO晶片生长的屏蔽区和可使ZnO晶片从中长出的生长窗口区,得到ZnO籽晶片。所得的ZnO籽晶片在水热条件下进行ZnO晶体的生长时,ZnO籽晶片界面上的螺旋位错由于屏蔽层的阻碍无法延伸到新生长层中,只能从生长窗口区向新生长层延伸,这就使得新生长的ZnO晶体的螺旋位错密度比ZnO籽晶片小很多,提高了ZnO晶体质量的效果。

    水热法生长闪烁晶体硅酸铋的方法

    公开(公告)号:CN103014830A

    公开(公告)日:2013-04-03

    申请号:CN201210543487.9

    申请日:2012-12-14

    IPC分类号: C30B7/10 C30B29/34

    摘要: 本发明公开了一种水热法生长闪烁晶体硅酸铋的方法,具体是以Bi4Si3O12作为培养料,置于黄金衬套管中,加入矿化剂,再加入占培养料3~8%重量的SiO2粉末,控制生长条件进行温差水热法生长,得到纯相的Bi4Si3O12体单晶。本发明所述方法通过在黄金衬套管中添加特定比例的SiO2粉末来补充Si-O生长基元,达到既能克服熔体法生长晶体时所遇到的晶体易开裂、均匀性及析晶行为难以控制的问题,又可克服水热法生长闪烁晶体硅酸铋时伴有Bi12SiO20杂相的问题,从而获得纯相的大尺寸的Bi4Si3O12体单晶,且所得体单晶表面无开棉无裂,完整性好。

    一种水热法生长硅酸铋单晶体的方法

    公开(公告)号:CN101643937A

    公开(公告)日:2010-02-10

    申请号:CN200910114341.0

    申请日:2009-08-28

    IPC分类号: C30B29/34 C30B7/10

    摘要: 本发明涉及一种水热法生长硅酸铋(Bi 12 SiO 20 ,简称BSO)晶体的方法。其特点是采用氟化物矿化剂体系进行晶体生长。采用BSO原料作培养料,置于黄金衬套管底部,在黄金衬套管的中下部放置一个开孔率为7%~10%的黄金挡板,将下部的培养料溶解区和上部的晶体生长区隔开;在黄金衬套管的顶部悬挂籽晶或金丝,按65~75%的填充度,向黄金衬套管中加入氟离子浓度为0.3~6mol/L的氟化物溶液,将黄金衬套管密封,放入高压釜中,在黄金衬套管和高压釜的夹层加入一定量去离子水或蒸馏水,密封,加热,使溶解区平均温度为365~420℃,生长区平均温度为335~385℃,经过10~90天恒温生长,得到BSO单晶体。

    旋转高压釜
    6.
    发明公开

    公开(公告)号:CN101310848A

    公开(公告)日:2008-11-26

    申请号:CN200810073482.8

    申请日:2008-02-28

    IPC分类号: B01J3/06 C30B7/10

    摘要: 本发明公开一种用于水热法晶体生长的旋转高压釜。所述釜体上连接有一使釜体轴向旋转的旋转装置。旋转装置包括电动机、与电动机连接的传动组件和旋转轴,旋转轴与釜体同轴设置,旋转轴与釜体相连并可同轴转动,电动机通过传动组件带动旋转轴转动。在惯性和摩擦力的作用下,高压釜反应腔内的液体产生运动,这种运动起到搅拌的作用,不仅使得釜体内同一水平面上的液流、温度趋于一致,也使液体在溶解区和结晶区间产生强迫的对流。这种强迫的对流有利于溶解区和结晶区能量和溶质的交换,有效提高了釜体内部各部位液流的均匀性,提高温场的稳定性,从而提高晶体的生长质量。

    氧化锌晶体及其制备方法

    公开(公告)号:CN101723435A

    公开(公告)日:2010-06-09

    申请号:CN200810073861.7

    申请日:2008-10-24

    IPC分类号: C01G9/02

    摘要: 本发明涉及一种掺钪的氧化锌(Sc:ZnO)晶体,本发明还涉及掺钪的氧化锌(Sc:ZnO)晶体的制备方法。本发明是在制备ZnO晶体时掺入少量的钪元素(Sc),从而有效地提高m面的生长速度,为快速生长大尺寸ZnO晶体提供可能;并合理改变晶体的形貌,提高晶体生长效率:通常情况下,ZnO晶体会发育成六方锥状,掺入钪元素后,晶体发育成六棱柱,保持了+c区域上可利用的+c切片面积不发生改变;掺入钪元素后,ZnO晶体生长过程中易出现孪晶较发育等现象得到改善。本发明与在先技术相比,所生长的氧化锌体单晶具有生长速度快(特别是m面方向)、生长效率高、晶体质量好等特点,而且重复性好,成本低,适用于批量生产。

    一种降低水热法ZnO晶体的螺旋位错密度的方法

    公开(公告)号:CN101250747A

    公开(公告)日:2008-08-27

    申请号:CN200710050553.8

    申请日:2007-11-16

    IPC分类号: C30B7/10 C30B29/16

    摘要: 本发明将公开一种降低水热法ZnO晶体的螺旋位错密度的方法,它是在利用水热法进行ZnO晶体的生长之前,对ZnO晶体进行下述步骤的处理:1)取ZnO晶体切割出ZnO晶片;2)在ZnO晶片+c面和-c面各镀一层耐高温、耐腐蚀材料作为屏蔽层;3)利用光刻方法在ZnO晶片+c面和/或-c面的屏蔽层上蚀刻出平行的长条形,使+c面和/或-c面的屏蔽层分为阻止ZnO晶片生长的屏蔽区和可使ZnO晶片从中长出的生长窗口区,得到ZnO籽晶片。所得的ZnO籽晶片在水热条件下进行ZnO晶体的生长时,ZnO籽晶片界面上的螺旋位错由于屏蔽层的阻碍无法延伸到新生长层中,只能从生长窗口区向新生长层延伸,这就使得新生长的ZnO晶体的螺旋位错密度比ZnO籽晶片小很多,提高了ZnO晶体质量的效果。

    非线性光学晶体Nb:KTP的合成方法

    公开(公告)号:CN1308502C

    公开(公告)日:2007-04-04

    申请号:CN200510020164.1

    申请日:2005-01-11

    IPC分类号: C30B29/14 C30B29/22

    摘要: 本发明涉及一种非线性光学晶体材料,即掺铌的KTP晶体材料(Nb:KTP)的合成方法,该方法能够得到掺铌浓度为0.1-15wt%的Nb:KTP单晶,从而得到晶体质量完好、铌在晶体中分布均匀、可实现截止波长蓝移及能实现固体激光器中最常用的1064nm波段的非临界相位匹配的Nb:KTP晶体。本发明是使高温高压下的KTP晶体原料和含Nb2O5试剂的混合物的水溶液达到一定的过饱和度,在Nb:KTP籽晶片上生长掺铌的KTP晶体。具体地说就是采用高压釜和与之配套的电阻炉,通过合理的温场设计,使反应腔内的生长区和溶解区的温度合适,当容器内的溶液由于上下部之间的温差而产生对流时,高温区的饱和溶液被送到低温区,从而形成过饱和状态,使籽晶生长。