投影中心的偏移检测方法、装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111935468A

    公开(公告)日:2020-11-13

    申请号:CN202011014758.2

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本发明公开了一种投影中心的偏移检测方法,应用于设有检测工装的检测装置,检测工装设置于投影平面以及投影机之间,所述检测工装设有检测区域集,检测区域集对称的检测区域;包括以下步骤:获取所述投影平面当前的投影图像;在所述投影图像中确定所述检测区域集对应的质点,并获取所述质点的质点坐标;基于所述质点坐标,确定所述投影图像中的投影中心对应的偏移量。本发明还公开了一种投影中心的偏移检测装置及计算机可读存储介质。本发明能够根据质点坐标准确得到投影中心对应的偏移量,进而根据投影中心的偏移量确定投影灯与投影镜头的偏移状态,并根据该偏移量调整投影灯或投影镜头,以使投影机的投影灯所在平面与投影镜头所在平面平行。

    电子元器件和电子设备

    公开(公告)号:CN111315122A

    公开(公告)日:2020-06-19

    申请号:CN202010122000.4

    申请日:2020-02-26

    Inventor: 李敬 丁卫涛

    Abstract: 本发明公开一种电子元器件和电子设备,电子元器件包括:器件本体,器件本体的一表面均匀排布有多个连接点,每一连接点均与器件本体的内部电路连通,相邻的两连接点的间距为d1;和连接板,所述连接板包括相对设置的第一表面和第二表面,所述第二表面设置有多个第二焊球,所述器件本体设有所述连接点的表面贴合设置于所述第一表面,并使每一所述第二焊球均与一所述连接点电性连接,相邻的两所述第二焊球的间距d2与相邻的两所述连接点的间距d1之间的关系为:d2>d1。本发明技术方案旨在使电子元器件用于与外部电路电气连接的连接处排布密度降低,防止电子元器件在后续的制程工艺进行时造成连锡,提高生产的良品率。

    投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN111854935A

    公开(公告)日:2020-10-30

    申请号:CN202011013784.3

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质,所述投影系统照度测量方法包括:获取待测量投影屏的几何参数,并基于所述几何参数,确定初始测量点坐标,进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标,测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。本申请解决了投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。

    激光器工作电路及3D相机

    公开(公告)号:CN111162449A

    公开(公告)日:2020-05-15

    申请号:CN202010122138.4

    申请日:2020-02-26

    Abstract: 本发明公开一种激光器工作电路及3D相机,激光器工作电路包括驱动电源、开关电路、驱动电路、储能电路和续流电路,驱动电路根据外部输入的激光控制信号控制开关电路导通/关断的频率,以对驱动电源的输出电流大小进行调制。储能电路在开关电路导通时,为激光器瞬态供电,在开关电路关断时,将输入的电源进行存储。续流电路在开关电路关断时,给激光器提供导通回路,释放激光器两端电荷,以保护激光器不受损坏。本发明用于解决激光器工作电路测量精度较低的技术问题。

    投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN111854935B

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011013784.3

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本申请公开了一种投影系统照度测量方法、设备及可读存储介质,所述投影系统照度测量方法包括:获取待测量投影屏的几何参数,并基于所述几何参数,确定初始测量点坐标,进而基于预设激光灯阵列和所述初始测量点坐标,测量所述待测量投影屏对应的目标测量照度。本申请解决了投影系统照度测量效率低和精度低的技术问题。

    一种印刷电路板支撑顶针的定位方法及其定位装置

    公开(公告)号:CN109661110A

    公开(公告)日:2019-04-19

    申请号:CN201910028080.4

    申请日:2019-01-11

    Inventor: 李敬 高文刚

    Abstract: 本发明公开一种印刷电路板支撑顶针的定位方法和定位装置,定位方法包括以下步骤:制作一块与待生产印刷电路板相同的样板;制作一个内径与顶针底座的外径相同的定位器,其高度大于样板与顶针固定台之间的距离;在样板上确定支撑点;以支撑点为圆心开设定位孔,直径与定位器的外径相同;在样板的每个定位孔放置所述定位器,再将顶针放入定位器内,顶针沿定位器滑动到顶针固定台上,并通过磁力固定在顶针固定台上;取走样板,得到定位准确的印刷电路板支撑顶针。利用本发明的方法和装置能够在内部空间狭小的印刷机内部,在样板的上方放置顶针,便于生产人员的操作,同时可以准确定位顶针的位置,防止顶针损坏电路板上已贴装的元器件。

    激光器检测系统及方法

    公开(公告)号:CN108775925A

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201810726730.8

    申请日:2018-07-04

    Inventor: 高文刚 李敬

    Abstract: 本申请公开了一种激光检测系统以及方法,所述系统包括:处理组件用于发送启动指令至可编程组件;接收到可编程组件的设置成功指令,发送测试指令至可编程组件;获取采样组件采集的测试数据,并分析测试数据,获得待检测激光器的测试结果;可编程组件用于接收并解析所述启动指令,获得状态设置数据;根据状态设置数据设置激光驱动组件的工作状态;发送设置成功指令至处理组件;接收并解析测试指令,获得测试指令数据;发送测试指令数据至激光驱动组件;激光驱动组件用于基于测试指令数据,输出激光测试信号至待检测激光器;采样组件用于在激光驱动组件输出激光测试信号至待检测激光器后,采集测试数据。本发明实施例提高了激光器的测试效率。

    投影中心的偏移检测方法、装置及计算机可读存储介质

    公开(公告)号:CN111935468B

    公开(公告)日:2021-01-22

    申请号:CN202011014758.2

    申请日:2020-09-24

    Abstract: 本发明公开了一种投影中心的偏移检测方法,应用于设有检测工装的检测装置,检测工装设置于投影平面以及投影机之间,所述检测工装设有检测区域集,检测区域集对称的检测区域;包括以下步骤:获取所述投影平面当前的投影图像;在所述投影图像中确定所述检测区域集对应的质点,并获取所述质点的质点坐标;基于所述质点坐标,确定所述投影图像中的投影中心对应的偏移量。本发明还公开了一种投影中心的偏移检测装置及计算机可读存储介质。本发明能够根据质点坐标准确得到投影中心对应的偏移量,进而根据投影中心的偏移量确定投影灯与投影镜头的偏移状态,并根据该偏移量调整投影灯或投影镜头,以使投影机的投影灯所在平面与投影镜头所在平面平行。

    激光器检测装置以及方法

    公开(公告)号:CN108776277B

    公开(公告)日:2020-10-09

    申请号:CN201810726729.5

    申请日:2018-07-04

    Inventor: 高文刚 李敬

    Abstract: 本申请公开了一种激光器检测装置以及方法,所述装置包括:用于发送驱动信号至待检测激光器;输出峰值保持信号至第一峰值保持模块;获取待检测激光器的第一峰值电压的控制模块,第一峰值电压用以确定所述待检测激光器的使用性能;用于根据峰值保持信号,保持待检测激光器两端的电压处于峰值状态;输出待检测激光器两端的电压处于峰值状态时的第一端电压以及第二端电压至第一仪表放大模块的第一峰值保持模块;用于采集第一端电压以及第二端电压;基于第一端电压及第二端电压,确定待检测激光器的第一峰值电压;输出第一峰值电压至控制模块的第一仪表放大模块。本申请实施例实现激光器峰值电压的自动采集提高测试效率以及精度。

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