电压设置方法、装置、设备及可读存储介质

    公开(公告)号:CN115756054A

    公开(公告)日:2023-03-07

    申请号:CN202211460545.1

    申请日:2022-11-17

    IPC分类号: G05F1/56 H04B10/079 H04B10/54

    摘要: 本发明提供一种电压设置方法、装置、设备及可读存储介质。该方法包括:从第一预设电压值开始,按照预设步长,逐步增加调节元件的电压值,直至调节元件的电压值达到第二预设电压值,并记录每一电压值下,微环调制器输入端的光信号强度对应的第一监测值以及微环调制器输出端的光信号强度对应的第二监测值,其中,第二监测值随着调节元件的电压值变化而变化;基于记录的信息判断微环调制器的谐振滤波谱是否存在畸变;根据判断结果对应的选择策略从记录的第二监测值中选择目标第二监测值,设置调节元件的电压值为所述目标第二监测值对应的电压值。通过本发明,实现了使入射光信号的波长处于微环调制器滤波谱特定的位置。

    集成光计算器件及其驱动方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117666699A

    公开(公告)日:2024-03-08

    申请号:CN202311535600.3

    申请日:2023-11-15

    摘要: 本申请实施例公开了一种集成光计算器件及其驱动方法,涉及光子集成芯片技术领域,用于提供一种新型可重构的集成光计算器件,根据不用应用条件调节结构参数,输出不同光信号强度,提高集成光计算器件的灵活适用性。所述集成光计算器件包括波导层和微机电驱动组件。波导层具有光栅结构区;所述光栅结构区包括多个条形波导和间隔相邻两个所述条形波导的空气槽。微机电驱动组件包括伸缩结构;所述多个条形波导分别与所述伸缩结构连接;所述伸缩结构沿所述多个条形波导的排列方向伸缩,调节所述空气槽沿所述多个条形波导排列方向的尺寸,调节所述多个条形波导传输的光信号的权重。

    一种光电探测器自动化测试系统
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115808606A

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN202211586349.9

    申请日:2022-12-10

    IPC分类号: G01R31/26 G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种光电探测器自动化测试系统,涉及通信用光电探测器测试领域,包括第一层级测试组件、第二层级测试组件和第三层级测试组件,所述第一层级测试组件包括用于与待测光电探测器连接的偏置器,以及与偏置器相连的电流源表;所述第二层级测试组件包括依次连接的可调谐光源、1×2光开关、光放大器、光衰减器、偏振控制器和光功率计,且所述偏振控制器还用于与待测光电探测器连接;所述第三层级测试组件包括与所述可调谐光源、1×2光开关和偏置器均相连的光波元件分析仪。本发明可在只搭建一套测试系统的情况下,一步完成部分或所有光电探测器在不同测试条件下关键性能的测试。

    一种校准直流失调的可调增益放大器

    公开(公告)号:CN111030623A

    公开(公告)日:2020-04-17

    申请号:CN201911364211.2

    申请日:2019-12-25

    IPC分类号: H03F3/45

    摘要: 本发明公开了一种校准直流失调的可调增益放大器,涉及放大器技术领域,包括可调增益放大电路和校准电路,可调增益放大电路包括第一差分支路和第二差分支路,第一差分支路连接第一差分输入信号,并输出第一差分输出信号,第二差分支路连接第二差分输入信号,并输出第二差分输出信号;校准电路的两个输出端分别连接第一差分支路的输入端和第二差分支路的输入端,校准电路用于根据两个失调控制信号对应输出两个差分控制信号,通过两个差分控制信号分别调整第一差分支路和第二差分支路的电流,以校准第一差分输出信号和第二差分输出信号的直流失调。本发明提供的校准直流失调的可调增益放大器,可校正直流失调,性能更好。

    一种电光调制器自动化测试系统
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115941034A

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN202211584235.0

    申请日:2022-12-10

    摘要: 本发明公开了一种电光调制器自动化测试系统,涉及通信用电光调制器测试领域,包括第一层级测试组件、第二层级测试组件和第三层级测试组件,所述第一层级测试组件包括依次连接的可调谐激光器和偏振控制器,所述偏振控制器的后端用于连接第一光功率计和待测电光调制器,且待测电光调制器的后端连接有1×2光开关和第二光功率计,所述第一层级测试组件还包括用于与待测电光调制器相连的电流源表;第二层级测试组件包括依次连接的光电探测器和第二高频切换开关,以及依次连接的波形发生器、射频放大器和第一高频切换开关。本发明能够极大提升测试效率及良率,有助于降低电光调制器量产筛选成本,增加成品良率。