基于多台毫米波雷达交会测量的高精度定位方法和设备

    公开(公告)号:CN118425945A

    公开(公告)日:2024-08-02

    申请号:CN202410431301.3

    申请日:2024-04-11

    申请人: 武汉大学

    IPC分类号: G01S13/06 G01S13/87 G01S7/295

    摘要: 本发明公开了一种基于多台毫米波雷达交会测量的高精度定位方法和设备,该方法包括:根据毫米波雷达和待测目标的几何距离和毫米波雷达的测距距离建立得到第一观测方程;获取待测目标的近似三维坐标,将第一观测方程在近似三维坐标处进行一阶泰勒级数展开得到变换后的第二观测方程;根据第二观测方程得到多个毫米波雷达对待测目标进行同时观测的第三观测方程;对第三观测方程进行最小二乘法求解得到三维坐标增量,以便通过三维坐标增量对待测目标的近似三维坐标进行修正,准确测量得到待测目标的三维位置坐标,实现待测目标的高精度定位。本发明可实现待测目标的高精度定位。

    毫米波雷达物料体积测量方法和物料体积测量设备

    公开(公告)号:CN118149922A

    公开(公告)日:2024-06-07

    申请号:CN202410370898.5

    申请日:2024-03-29

    申请人: 武汉大学

    IPC分类号: G01F17/00 G01S13/90 G01S7/41

    摘要: 本发明公开了一种毫米波雷达物料体积测量方法和物料体积测量设备,该方法包括:获取目标物料位置,根据目标物料位置确定两个测量点,并在两个测量点分别通过毫米波雷达对目标物料进行扫描,以获取两个SAR图像并配准得到SAR图像对;对两个SAR图像进行感兴趣区域提取,并裁剪感兴趣区域;对裁剪后的两个SAR图像中的数据进行共轭相乘得到干涉条纹图,根据干涉条纹图中的干涉数据得到裁剪后两个SAR图像之间关于各像素点的真实相位差,并基于各像素点的真实相位差得到各像素点高程;根据各像素点高程和像素底面积确定目标物料的体积。本发明能够在物料所处环境粉尘多的复杂环境情况下实现物料体积的精确测量。