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公开(公告)号：CN109883654B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201910071414.6
申请日：2019-01-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种用于OLED亚像素定位的棋盘格图、生成方法及定位方法，针对传统棋盘格的无法满足在OLED进行亚像素定位需求，以在G画面棋盘格图的每个黑白单元格中加入PSF点的棋盘格图作为测试用图；采用该测试用图点亮OLED屏幕，采集OLED屏幕显示的棋盘格画面并根据该棋盘格画面采用两级定位来确定亚像素G的位置；根据亚像素G的位置推导出亚像素R、B位置，由此，利用一次对OLED屏幕的采集实现对OLED屏幕的R、G、B亚像素定位；本发明提供的对OLED屏幕进行亚像素定位的方法，提高了找点的准确性；而且克服了镜头的畸变、串扰等对定位的影响，降低了对工业相机镜头成像质量的要求，并对实际工业环境的影响具有抗干扰性。
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公开(公告)号：CN110310237A
公开(公告)日：2019-10-08
申请号：CN201910492585.6
申请日：2019-06-06
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G06T5/00 , G06T7/42 , G06T7/80 , G09G3/32 , G09G3/3208
摘要： 本发明属于显示面板检测修复技术领域，公开了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及系统；去除图像摩尔纹的方法采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器滤除显示面板所显示的灰阶画面中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；修正了噪声光谱信号的维纳滤波器是将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到维纳滤波器的噪声中；显示面板子像素点度测量方法则利用上述方法先去除图像摩尔纹之后再来提取子像素点亮度；测量系统包括信号发生器、图像采集装置及处理单元；由采集装置获取显示面板所呈现的画面图像，处理单元基于获取的画面图像先采用本发明的方法去除摩尔纹再计算子像素点的亮度，实现子像素点亮度的精确测量。
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公开(公告)号：CN109696788A
公开(公告)日：2019-04-30
申请号：CN201910015537.8
申请日：2019-01-08
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种基于显示面板的快速自动对焦方法，采集显示面板对焦画面图像，在全焦段范围内采用二分法进行调焦，通过大步长调焦法确定图像清晰的对焦范围，再通过小步长调焦法在对焦范围内确定清晰对焦位置；在清晰对焦位置处采集清晰对焦位置对应的图像，进行对焦清晰度判断，若满足预设阈值要求则输出图像，否则进行自动对焦微调后再次采集图像进行对焦清晰度判，直至满足预设阈值要求，输出图像；本发明提供的自动对焦方法，粗对焦计算清晰对焦位置，根据该对焦位置处图像的清晰度进行微调，进一步提高了对焦精度，防止出现误对焦，并且可提高缺陷检测的精度，缩短检测时长。
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公开(公告)号：CN110136212B
公开(公告)日：2021-05-25
申请号：CN201910330272.0
申请日：2019-04-23
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。
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公开(公告)号：CN109816734B
公开(公告)日：2021-01-26
申请号：CN201910063329.5
申请日：2019-01-23
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于目标光谱的相机标定方法，包括：选择一个矫正光源，确定光学系统的相机和镜头；2)将光学系统的镜头调节至虚焦状态；3)在确保镜头焦平面与矫正光源平行的条件下，挪移矫正光源向光学系统靠近，直至虚焦状态下矫正光源能完整覆盖取向视场为止；4)调整相机的曝光时间，使得中心亮度不超过相机饱和度80％，边缘亮度不低于相机饱和度30％；5)获取的该图像，存储为暗角图片，得到暗场曲面矫正模型；6)在目标光源下，将拍摄的图片与暗场曲面矫正模型做矩阵运算，对获取的图像的每一个点按照暗场曲面矫正模型相对中心均值的衰减进行逆向还原，得到标定后的图片。该方法能弥补发光面板本身性质造成的光源端亮度获取不均问题。
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公开(公告)号：CN109696788B
公开(公告)日：2021-12-14
申请号：CN201910015537.8
申请日：2019-01-08
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板缺陷检测技术领域，公开了一种基于显示面板的快速自动对焦方法，采集显示面板对焦画面图像，在全焦段范围内采用二分法进行调焦，通过大步长调焦法确定图像清晰的对焦范围，再通过小步长调焦法在对焦范围内确定清晰对焦位置；在清晰对焦位置处采集清晰对焦位置对应的图像，进行对焦清晰度判断，若满足预设阈值要求则输出图像，否则进行自动对焦微调后再次采集图像进行对焦清晰度判，直至满足预设阈值要求，输出图像；本发明提供的自动对焦方法，粗对焦计算清晰对焦位置，根据该对焦位置处图像的清晰度进行微调，进一步提高了对焦精度，防止出现误对焦，并且可提高缺陷检测的精度，缩短检测时长。
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公开(公告)号：CN110310237B
公开(公告)日：2020-08-18
申请号：CN201910492585.6
申请日：2019-06-06
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G06T5/00 , G06T7/42 , G06T7/80 , G09G3/32 , G09G3/3208
摘要： 本发明属于显示面板检测修复技术领域，公开了一种去除图像摩尔纹、显示面板子像素点亮度测量、Mura缺陷修复的方法及系统；去除图像摩尔纹的方法采用修正了噪声光谱信号的维纳滤波器滤除显示面板所显示的灰阶画面中的光谱峰值，从而达到去除图像摩尔纹的目的；修正了噪声光谱信号的维纳滤波器是将灰阶画面中摩尔纹对应的光谱峰值作为高频噪声信号叠加到维纳滤波器的噪声中；显示面板子像素点度测量方法则利用上述方法先去除图像摩尔纹之后再来提取子像素点亮度；测量系统包括信号发生器、图像采集装置及处理单元；由采集装置获取显示面板所呈现的画面图像，处理单元基于获取的画面图像先采用本发明的方法去除摩尔纹再计算子像素点的亮度，实现子像素点亮度的精确测量。
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公开(公告)号：CN110136212A
公开(公告)日：2019-08-16
申请号：CN201910330272.0
申请日：2019-04-23
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种DeMura设备像素点亮度提取精度评判方法及噪声检测方法，用白噪声亮度的理论值与经过DeMura设备后的亮度测量值之间的自相关函数的峰值表征DeMura设备的亮度提取精度，由此将OLED DeMura中子像素点的亮度提取精度量化，将其应用于实际生产可提高DeMura设备修复Mura缺陷的精度，规避子像素亮度提取不准确导致后续Mura补偿不成功的问题；本发明提供的DeMura设备检测方法，用调制传递函数表征DeMura设备成像系统对输入信号的作用，反映DeMura设备的噪声水平，可用于检测DeMura设备是否处于正常运行状态，作为定量评估DeMura设备优劣的检测方法。
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公开(公告)号：CN109883654A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201910071414.6
申请日：2019-01-25
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
IPC分类号： G01M11/02
摘要： 本发明属于显示面板检测技术领域，公开了一种用于OLED亚像素定位的棋盘格图、生成方法及定位方法，针对传统棋盘格的无法满足在OLED进行亚像素定位需求，以在G画面棋盘格图的每个黑白单元格中加入PSF点的棋盘格图作为测试用图；采用该测试用图点亮OLED屏幕，采集OLED屏幕显示的棋盘格画面并根据该棋盘格画面采用两级定位来确定亚像素G的位置；根据亚像素G的位置推导出亚像素R、B位置，由此，利用一次对OLED屏幕的采集实现对OLED屏幕的R、G、B亚像素定位；本发明提供的对OLED屏幕进行亚像素定位的方法，提高了找点的准确性；而且克服了镜头的畸变、串扰等对定位的影响，降低了对工业相机镜头成像质量的要求，并对实际工业环境的影响具有抗干扰性。
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公开(公告)号：CN109816734A
公开(公告)日：2019-05-28
申请号：CN201910063329.5
申请日：2019-01-23
申请人： 武汉精立电子技术有限公司 , 武汉精测电子集团股份有限公司
摘要： 本发明公开了一种基于目标光谱的相机标定方法，包括：选择一个矫正光源，确定光学系统的相机和镜头；2)将光学系统的镜头调节至虚焦状态；3)在确保镜头焦平面与矫正光源平行的条件下，挪移矫正光源向光学系统靠近，直至虚焦状态下矫正光源能完整覆盖取向视场为止；4)调整相机的曝光时间，使得中心亮度不超过相机饱和度80％，边缘亮度不低于相机饱和度30％；5)获取的该图像，存储为暗角图片，得到暗场曲面矫正模型；6)在目标光源下，将拍摄的图片与暗场曲面矫正模型做矩阵运算，对获取的图像的每一个点按照暗场曲面矫正模型相对中心均值的衰减进行逆向还原，得到标定后的图片。该方法能弥补发光面板本身性质造成的光源端亮度获取不均问题。
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